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SID4-Swir波前傳感器

基于Phasics的四波橫向剪切干涉技術(shù)和高質(zhì)量的InGaAs探測器，提供了一個非常高的空間分辨率和靈敏度。確保測量紅外鏡頭和短波紅外源的精度。此外，SID4 SWIR提供了光譜范圍從0.4到1.7µm，這種波前傳感器覆蓋可見光、近紅外和短波紅外區(qū)域且不需要任何校準(zhǔn)直接進(jìn)行測量。

    SID4-Swir                   光學(xué)器件測量                  自適應(yīng)光學(xué)

特點(diǎn)：

由于其*的技術(shù)技術(shù)，Phasics的SID4-Swir波前傳感器具備以下特點(diǎn)：

1.高分辨率：160x128測量點(diǎn)

2.高靈敏密度：整個光譜范圍內(nèi)相位噪聲低于2nm

3.消色差：0.4-1.7μm（可擴(kuò)展到2.4μm）

4.緊湊：易于集成

應(yīng)用：

透鏡測試：SID4 SWIR波前分析儀實(shí)時測量光學(xué)元件MTF和畸變。適用于光通信，夜視和其他軍事和監(jiān)視設(shè)備。無色差，SID4 SWIR涵蓋所有光通信波長。

激光束測試：SID4 SWIR也可以短波紅外光源，像1.55μm激光器或用于激光導(dǎo)向系統(tǒng)的LED。

SID4-Swir產(chǎn)品參數(shù)：