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德國ROENALYTIC(宏德)NanoMaster X射線鍍層測厚儀

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具體成交價以合同協(xié)議為準
  • 型號 NanoMaster
  • 品牌
  • 廠商性質 代理商
  • 所在地 深圳市
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更新時間:2023-06-14 13:59:46瀏覽次數:916

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產品簡介

NanoMaster X射線分析儀具有高靈敏度微量分析。可分析微小部件和夾雜物。真空條件進行現場分析測量,允許從Na-U所有元素含量檢測。

詳細介紹

 如需更詳細資料或報價請資詢:
86-755-82444742
86-755-82413857
Web: www.eastco-hk。。com

德國ROENALYTIC(宏德roentgenanalytik) NanoMasterμXRF鍍層厚度和元素分析儀
NanoMasterμXRF熒光分析/鍍層測厚/元素分析/ROHS / WEEE分析儀
 
全新的μXRF集鍍層,元材料和ROHS / WEEE于一體的的分析儀器。
 
NanoMaster X射線分析儀具有高靈敏度微量分析??煞治鑫⑿〔考蛫A雜物。真空條件進行現場分析測量,允許從Na-U所有元素含量檢測。
 
現代電子設備小型化導致越來越小的元件,特別是在接觸點。關于成本和環(huán)保等原因的基礎上正變得越來越薄鍍涂層,下降到納米范圍內。這會產生測量不能用常規(guī)涂層厚度分析儀解決的任務。新的NanoMaster提供了解決方案。此外,NanoMaster使材料具有較高的檢測精度和體重極限分析。此外,測量符合WEEER0HS可以執(zhí)行的指導方針。

NanoMaster的突出特點是:
•帶電子冷卻硅漂移探測器(SDD
HiSpe數字脈沖處理光譜儀
•形成了各種方案X射線束
•提供光束直徑下降到25微米
•真空樣品室增強的元素范圍,Na-U
XMaster用戶友好的操作軟件
•通用的生產,進貨檢驗和實驗室環(huán)境
•優(yōu)異的價格/性能比。

規(guī)格參數:
高壓電源:25-50KV,1.2mA
X光管:可選光點85*85um微焦管帶薄玻離窗鎢(W)靶管Be窗銠鈀管或Be窗鉬鈀管。
準直器:四個組合,軟件控制,0.2mm, 0.4mm, 0.6mm, 0.8mm
樣品臺全自動X 100mm,Ÿ120mm,Z 100mm),軟件控制,步寬1.5um,精度<5um
樣品定位 操縱桿,自動選位,激光自動對焦需配合自動樣品臺)  
X-Ray探測器:硅漂移探測器(SDD),25mm²有效面積,133eV分辨率 Peltier-cooled Si-semiconductor探測器(PIN-Diode),25mm²有效面積,500um厚,Be入射窗,260ev分辨率(FWHM@5,9 keV
樣品室測試箱:真空室,330mm,D350mm
放大倍數: 彩色視頻顯微鏡,放大60-120 X / 90-180X
外型尺寸: H560 cm,W780 cm,D455 cm
主電源: 110V/ 230V, 60HZ / 50HZ
X - MasteR
 操作系統(tǒng) WINDOWS 2000 / NT/XP
u- MasteR
 測量模式:單層、雙層、三層、四層、合金層,可測元素范圍:Ti-U  
Fun-MasteR
:基本參數法(FP)校對模組,可實現標準片校對模式及無標準片校對模式 
Element-MasterR
:定性分析模組,一次zui多可分析20種元素針對合金材料) 
%-MasteR
:定量分析模組,一次zui多可分析20種元素針對合金材料)   
Liquid-MasteR
:電鍍藥液分析模組針對藥液主成份金屬離子濃度)  
Data-MasteR
:資料統(tǒng)計模組,zui小值、zui大值、平均值、誤差,統(tǒng)計圖表CP、CPK 
Report-MasteR
:報告編輯模組,文本格式,Word格式
 
多元合金或貴金屬成色分析:K金、純金、純銀、飾銀、銅材、鋼材等
多層電鍍厚度分析:Au/Ni/Cu/Fe/Cr/Ni/Cu/Zn
自動計算可測厚度范圍
 
無論是很大的汽車部件、衛(wèi)浴器具、PCB,還是很小的半導體支架、接插端子、金銀首飾,德國ROENALYTIC宏德公司都一一有理想的儀器去進行測量。德國ROENALYTIC宏德提供的都是高效率、低成本的測量儀器,它廣泛應用于各類電鍍工件的鍍層測厚及貴重首飾的成色分析,簡單易用,維修方便,是節(jié)省生產成本及保證品質的好幫手。
 
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