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S8000G是TESCAN新S8000系列掃描電鏡的第yi個(gè)新成員，是yi款超高分辨雙束FIB-SEM系統(tǒng)，它可以提供的圖像質(zhì)量，具有強(qiáng)大的擴(kuò)展分析能力，并能以ji佳的精度、效率完成復(fù)雜的納米加工和操作，可滿足現(xiàn)今工業(yè)研發(fā)和學(xué)術(shù)界研究的所有需求。

S8000G FIB-SEM的優(yōu)點(diǎn)：

• 新yi代鏡筒內(nèi)電子加速、減速技術(shù)，保證了復(fù)雜樣品的低電壓高分辨觀測能力
• *配置的靜電-電磁復(fù)合物鏡，物鏡無磁場外泄，實(shí)現(xiàn)磁性樣品高分辨成像及分析
• 配置4個(gè)新yi代探測器，可實(shí)現(xiàn)9種圖像觀測，對樣品信息的采集更加全面
• 配置大型樣品室，有超過20個(gè)擴(kuò)展接口，為原位觀測、分析創(chuàng)造了良好的工作環(huán)境
• 可以配置TESCAN自有或第三方的多種擴(kuò)展分析附件，并du家實(shí)現(xiàn)與TOF-SIMS、Raman聯(lián)用
• 新yi代操作軟件和自動(dòng)功能，F(xiàn)IB鏡筒具有全自動(dòng)的離子鏡筒對中，ji大簡化了操作

• 概述