紫外線由德國物理學家J. W. Ritter在1801年發(fā)現(xiàn)，其波長在10~400 nm范圍之間。按波段通常劃分為：真空紫外（200-10 nm），UV-A（400-320 nm），UV-B（320-280 nm），UV-C（280-200 nm）。

     太陽光通過大氣層時，臭氧層對240nm-280nm的紫外線強烈吸收，無法到過地表而形成一個特殊的盲區(qū)，稱為日盲區(qū)，典型的電暈放電光譜恰好覆蓋日盲區(qū)，電暈測試儀的日盲紫外通道利用該譜段進行電暈放電的探測，并與可見光通道配合實現(xiàn)電暈放電的定位。

紫外線由德國物理學家J. W. Ritter在1801年發(fā)現(xiàn)，其波長在10~400 nm范圍之間。按波段通常劃分為：真空紫外（200-10 nm），UV-A（400-320 nm），UV-B（320-280 nm），UV-C（280-200 nm）。

     太陽光通過大氣層時，臭氧層對240nm-280nm的紫外線強烈吸收，無法到過地表而形成一個特殊的盲區(qū)，稱為日盲區(qū)，典型的電暈放電光譜恰好覆蓋日盲區(qū)，電暈測試儀的日盲紫外通道利用該譜段進行電暈放電的探測，并與可見光通道配合實現(xiàn)電暈放電的定位。

      紅外熱像儀可檢測放電積累或漏電流引起的溫升,但這是一種間接檢測放電的方法。

      用紫外成像檢測zui直觀測試電暈放電的方法，上通用的方法。

紫外成像儀產品特點：

Ø采用半導體紫外探測器，體積小、重全天候工作，*不受太陽光影響

Øzui小紫外光靈敏度  2.2*10-18W/cm2

Ø智能電源管理，超長待機時間

Øzui小放電靈敏度  1pc于10米距離

Ø視場  7°

Ø聚焦  紫外通道與可見光通道同步電動調焦

Ø可見光像素  200萬