10N電子萬能試驗(yàn)機(jī)價(jià)格 產(chǎn)品介紹：

10N電子萬能試驗(yàn)機(jī)采用單空間結(jié)構(gòu)，試驗(yàn)空間在下空間，主要適用于試驗(yàn)負(fù)荷低于10kN的金屬、非金屬材料試驗(yàn)，具有應(yīng)力、應(yīng)變、位移三種閉環(huán)控制方式，可求出zui大力、抗拉強(qiáng)度、彎曲強(qiáng)度、壓縮強(qiáng)度、彈性模量、斷裂延伸率、屈服強(qiáng)度等參數(shù)。根據(jù)GB及ISO、JIS、ASTM、DIN等標(biāo)準(zhǔn)進(jìn)行試驗(yàn)和提供檢測(cè)數(shù)據(jù)。

規(guī)格：50N、100N、200N、500N、1000N、2000N、5000N、10KN；

型號(hào)：LD23.501，LD23.102，LD23.202，LD23.502，LD23.103，LD23.203，LD23.503；LD23.104；

用途：主要適用金屬絲、金屬箔、薄膜、紙張等材料的拉伸、壓縮、剝離、撕裂等試驗(yàn)。

10N電子萬能試驗(yàn)機(jī)價(jià)格 主要參數(shù)：

試驗(yàn)機(jī)準(zhǔn)確度等級(jí)：0.5/1級(jí)；

試驗(yàn)力測(cè)量范圍：0.4%-100%FS/0.2%-100%FS（全程不分檔）；

試驗(yàn)力示值相對(duì)誤差：±0.5%/±1.0%以內(nèi)；

位移示值相對(duì)誤差：±0.50%以內(nèi)；

變形測(cè)量范圍：0.2%-100%FS；

變形示值相對(duì)誤差：±0.50%以內(nèi)；

變形分辨力：zui大變形量的1/350000；

大變形測(cè)量范圍：10-800mm；

大變形示值相對(duì)誤差：±0.50以內(nèi)；

大變形分辨力：0.008mm；

位移分辨力：0.05μm；

力控速率調(diào)節(jié)范圍：0.01-5%FS/S，0.02-5%FS/S；

力控速率相對(duì)誤差：±1.0%設(shè)定值以內(nèi)；

橫梁速度調(diào)節(jié)范圍：0.001-500mm/min；

橫梁速度相對(duì)誤差：速率＜0.01 mm/min時(shí)，設(shè)定值的±0.1%以內(nèi)；

                  速率≥0.02 mm/min時(shí)，設(shè)定值的±0.2%以內(nèi)；

恒力、恒變形、恒位移控制精度：設(shè)定值≥10%FS時(shí)，設(shè)定值的±0.1%以內(nèi)；

                              設(shè)定值＜10%FS時(shí)，設(shè)定值的±1%以內(nèi)；

橫梁zui大行程（無夾具）：1000mm；

橫梁zui大行程（有夾具）：700mm（配XSD204B）；

有效試驗(yàn)寬度：340mm；

主機(jī)尺寸（長(zhǎng)*寬*高）：620*460*1530mm；

電源：220V±10%； 200/400W；

主機(jī)重量：約100kg；

主要特點(diǎn)：

采用高速DSP平臺(tái)，其高集成度、強(qiáng)大的控制、數(shù)據(jù)處理能力、高可靠性，是采用其它處理器的試驗(yàn)機(jī)所*的；

采用基于神經(jīng)元自適應(yīng)PID算法的全數(shù)字、三閉環(huán)（力、變形、位移）控制系統(tǒng)，實(shí)現(xiàn)力、變形、位移全數(shù)字三閉環(huán)控制，各控制環(huán)間可自動(dòng)切換，并在各方式間切換時(shí)實(shí)現(xiàn)無沖擊平滑過渡；

可進(jìn)行試驗(yàn)力、變形、位移等速率控制及保持；

閉環(huán)控制參數(shù)在線辯識(shí)；

高精準(zhǔn)24Bit數(shù)據(jù)采集系統(tǒng)，高分辨率，可擴(kuò)展至8路AD采集；

USB1.1通訊，通訊速率為12Mb/s，采用全速模式，批量傳輸方式；

系統(tǒng)板采用4層PCB*抗干擾布線方法，抗干擾能力強(qiáng)；

除電源接口外，其它接口一律采用標(biāo)準(zhǔn)USB式接口，即插即用接口此種接口可實(shí)現(xiàn)熱插拔，即具有即插即用功能。接口特性可由軟件在線設(shè)置。使得各接口布局工整合理，插拔方便；

整個(gè)控制系統(tǒng)具有很高的性價(jià)比、高可靠性；