儀器介紹 TEJDCS2853D介電常數(shù)及介質損耗測試儀是根據(jù)GB/T 1409《測量電氣絕緣材料在工頻、音頻、高頻（包括米波波長在內(nèi)）下電容率和介質損耗因數(shù)的試驗方法》（等效采用IEC 60250）設計和制造的，并符合JB 7770等試驗方法。它適用于在高頻（1MHz）下絕緣材料的測試。 絕緣材料高頻介質損耗測試裝置能對絕緣材料進行高頻介質損耗角正切值(tanδ)和介電常數(shù)(ε)的測試。它符合國標GB/T 1409-2006,美標ASTM D150以及IEC60250規(guī)范要求。 TEJDCS-2853D介電常數(shù)及介質損耗測試儀是一種基于串聯(lián)諧振原理工作的50kHz～160MHz高頻阻抗測量儀器，對電感器，電容器，絕緣材料等進行高頻的有效電感，Q值，電容值和ε，tanδ及高頻電纜特性阻抗和衰減系數(shù)的測量 1 特點： ◎ 本公司創(chuàng)新的自動Q值讀取技術，使測Q精度和速度大大提高。 ◎ Q值四位有效顯示，0.1Q分辨率。 ◎ DPLL合成發(fā)生測試信號，數(shù)字設置和連續(xù)調節(jié)信號頻率。◎ 調諧回路殘余電感8nH，保證高頻時直讀Q值的誤差較小。 ◎ 特制LCD屏菜單式顯示多參數(shù)：Q值，測試頻率，調諧狀態(tài)等。 ◎ Q值量程自動/手動量程控制。 ◎ 數(shù)字化Q值預置，能提高批量測試的可靠性和速度。 ◎ 獨立50kHz～160MHz信號源輸出口，所以本機又是一臺160MHz的合成信號源，頻率準確度±50ppm，穩(wěn)定度±10ppm。 2 主要技術指標： 2.1 工作頻率范圍：
50kHz～160MHz，五位有效數(shù)顯。 2.2 Q值測量范圍：
1～1000；分1～30，10～100，30～300，100～1000 四檔。分辨率0.1Q. 2.3 Q值固有誤差：
±5%±3% 滿刻度值。 2.4 有效電感測量范圍：
0.02µH～200mH。 2.5 電感測量誤差：
≤3%±0.01µH 2.6 調諧電容特性： 2.6.1可調電容范圍：
13pF～220 pF。 2.6.2 精確度：
±1% 或0.5pF。 2.6.3 電容量測量范圍：
1pF～200pF。 2.6.4 電容測量誤差：
±1%±0.5pF。 2.6.5 殘余電感值：
約8nH。 2.7 Q預置功能：
2.7.1Q預置范圍：
5～999均可。被測件達到預置值后有“GO"顯示和蜂鳴聲提示。不合格件則顯示“NO GO"。 2.8 外形尺寸及重量：
415×180×170（mm）,7kg。 | 
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