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河北石家莊MC-2000A漆膜測(cè)厚儀廠家是具有廣泛使用范圍的磁性儀器。其技術(shù)參數(shù)*符合國家標(biāo)準(zhǔn)。
是磁性便攜式覆層測(cè)厚儀，它能快速、無損傷、精密地進(jìn)行涂、鍍層厚度的測(cè)量。既可用于實(shí)驗(yàn)室，也可用于工程現(xiàn)場(chǎng)。本儀器能廣泛地應(yīng)用在制造業(yè)、金屬加工業(yè)、化工業(yè)、商檢等檢測(cè)領(lǐng)域。
產(chǎn)品簡(jiǎn)介
詳細(xì)介紹
河北石家莊MC-2000A漆膜測(cè)厚儀廠家是具有廣泛使用范圍的磁性儀器。其技術(shù)參數(shù)*符合國家標(biāo)準(zhǔn)。
是磁性便攜式覆層測(cè)厚儀，它能快速、無損傷、精密地進(jìn)行涂、鍍層厚度的測(cè)量。既可用于實(shí)驗(yàn)室，也可用于工程現(xiàn)場(chǎng)。本儀器能廣泛地應(yīng)用在制造業(yè)、金屬加工業(yè)、化工業(yè)、商檢等檢測(cè)領(lǐng)域。是材料保護(hù)專業(yè)*的儀器。Fe質(zhì)探針可檢測(cè)所有非磁性涂層厚度，例如涂在鋼、鐵上的漆、粉末涂層、塑料、瓷、鉻、銅、鋅等。
河北石家莊MC-2000A漆膜測(cè)厚儀廠家輕松讀取
可存入測(cè)量數(shù)據(jù)600個(gè)，對(duì)測(cè)量中的單個(gè)可疑數(shù)據(jù)進(jìn)行刪除，也可以刪除存儲(chǔ)區(qū)內(nèi)的所有數(shù)據(jù)， 讀出已存入的測(cè)量數(shù)據(jù)。
二、MC-2000A涂層測(cè)厚儀產(chǎn)品性能
1、測(cè)量范圍： 0～1200um
2、測(cè)量誤差： <3%±1um
3、zui小示值： 1um
4、顯示方式： 4位液晶數(shù)字顯示
5、主要功能：
(1).測(cè)量： 單探頭全量程測(cè)厚
(2).存儲(chǔ)、刪除：
(3).統(tǒng)計(jì)： 設(shè)有三個(gè)統(tǒng)計(jì)量，平均值z(mì)ui大值z(mì)ui小值
(4).校準(zhǔn)： 可進(jìn)行零點(diǎn)校準(zhǔn)、兩點(diǎn)校準(zhǔn)及系統(tǒng)校準(zhǔn)
(5).電量： 具有欠壓顯示功能
(6).蜂鳴提示：操作過程中有蜂鳴提示
(7).打印： 可打印測(cè)量值，選配微型打印機(jī)
(8).關(guān)機(jī)： 具有自動(dòng)關(guān)機(jī)和手動(dòng)關(guān)機(jī)兩種方法
6、電源： 兩節(jié)1.5v電池
7、功耗： zui大功耗100mw
8、外形盡寸： 51mm*126mm*27mm
9、重量： 160g（含電池）
10、使用環(huán)境溫度： 0℃～+40℃ 相對(duì)濕度：不大于90%
11、基體zui小厚度： 0.5mm
12、基體zui小平面的直徑： 7mm
13、zui小曲率半徑： 凸:1.5mm 凹:6mm
14、欠電壓指示： 右上角顯示＂＂
*臨界厚度?。汗ぜF基厚度大于1mm時(shí),其涂（鍍）層厚度的測(cè)量不受鐵基厚度影響。
三、MC-2000A型涂層測(cè)厚儀配置單
MC-2000A說明書下載
1、MC-2000A型涂鍍層測(cè)厚儀 一臺(tái)
2、七號(hào)電池 二節(jié)
3、探頭 一支
4、標(biāo)準(zhǔn)樣片 一盒
5、小鋁箱 一個(gè)
6、說明書、合格證 一套
河北石家莊MC-2000A漆膜測(cè)厚儀廠家
注意金屬基體材質(zhì)
不同金屬基體材料的磁性、導(dǎo)電率是不相同的，這都會(huì)對(duì)測(cè)量結(jié)果造成影響[9]。采用磁性法測(cè)厚受基體金屬磁性變化的影響（在實(shí)際應(yīng)用中，低碳鋼磁性的變化可以認(rèn)為是輕微的），為了避免熱處理和冷加工因素的影響，應(yīng)使用與試件基體金屬具有相同性質(zhì)的標(biāo)準(zhǔn)片對(duì)儀器進(jìn)行校準(zhǔn)，亦可用待涂覆試件進(jìn)行校準(zhǔn)。由于基體金屬的成分及熱處理方法不同，導(dǎo)致其電導(dǎo)率不同，因此應(yīng)使用與被檢測(cè)試件基體金屬具有相同性質(zhì)的標(biāo)準(zhǔn)片對(duì)儀器進(jìn)行校準(zhǔn)。
注意檢測(cè)試件形狀
在實(shí)際生產(chǎn)中，工件的材料厚度、形狀、表面粗糙度等存在差異，這些差異會(huì)對(duì)實(shí)際測(cè)量結(jié)果造成影響。每一種儀器都有一個(gè)基體金屬的臨界厚度，大于這個(gè)厚度，測(cè)量就不受基體金屬厚度的影響，如果試件材料厚度小于儀器所要求的臨界厚度，檢測(cè)結(jié)果就會(huì)與實(shí)際厚度有差別。一些儀器對(duì)試件表面形狀的陡變十分敏感，因此在靠近試件邊緣或內(nèi)轉(zhuǎn)角處進(jìn)行測(cè)量的數(shù)值會(huì)不可靠，實(shí)際測(cè)量時(shí)應(yīng)選擇遠(yuǎn)離邊緣和內(nèi)轉(zhuǎn)角的部位。試件表面不僅存在形狀的陡變，還可能存在不同的曲率，一些儀器的測(cè)量結(jié)果總是隨著曲率半徑的減小明顯地增大。因此，即使在選擇儀器時(shí)考慮了zui小曲率半徑，測(cè)量時(shí)仍應(yīng)盡可能選擇在平面部位進(jìn)行測(cè)量