金屬鍍層測(cè)厚儀系統(tǒng)校準(zhǔn)過(guò)程：

系統(tǒng)校準(zhǔn)流程如圖10所示，在校準(zhǔn)菜單中選擇“系統(tǒng)校準(zhǔn)”選項(xiàng)，按“ENTER”鍵后，儀器進(jìn)入系統(tǒng)校準(zhǔn)模式。

本系統(tǒng)校準(zhǔn)共需要校準(zhǔn)五個(gè)標(biāo)準(zhǔn)樣片，進(jìn)入系統(tǒng)校準(zhǔn)后首先顯示"基體"界面，此時(shí)要把探頭垂直的放到被測(cè)件的裸露基體上進(jìn)行測(cè)量。測(cè)量兩次后如果測(cè)量沒(méi)有錯(cuò)誤操作，伴隨著兩聲蜂鳴便進(jìn)入*個(gè)樣片的測(cè)量。屏幕首先顯示出廠時(shí)提供的*個(gè)樣片值。如果顯示的樣片值和隨機(jī)配置的樣片值大小不符，可以通過(guò)""、""鍵來(lái)進(jìn)行加1或減1操作。按住""或""鍵不動(dòng)可以連續(xù)加或減，直到調(diào)整到顯示值和真實(shí)值相同為止。調(diào)整完樣片值之后即可對(duì)*個(gè)樣片進(jìn)行測(cè)量，測(cè)量兩次無(wú)誤后，伴隨著兩聲蜂鳴，儀器進(jìn)入下一個(gè)樣片的校準(zhǔn)。若測(cè)量?jī)纱魏笕詿o(wú)兩聲蜂鳴，說(shuō)明操作有誤，重新測(cè)量一次即可。接下來(lái)四個(gè)樣片的調(diào)整方法同上。

    當(dāng)?shù)谖鍌€(gè)樣片校準(zhǔn)完成后屏幕提示“校準(zhǔn)已完成”，然后儀器進(jìn)入測(cè)量界面。儀器此時(shí)即完成了系統(tǒng)校準(zhǔn)過(guò)程。以后就可以對(duì)被測(cè)件直接進(jìn)行測(cè)量。

注意：這五個(gè)樣片可以使用儀器提供的標(biāo)準(zhǔn)片也可以使用已知厚度的樣片作為標(biāo)準(zhǔn)片。樣片校準(zhǔn)時(shí)要按照由小到大的順序進(jìn)行，相鄰樣片間需要有一定的差值。系統(tǒng)校準(zhǔn)時(shí)所選用的基體必須是平整的而且其表面要大于30mm×30mm。

 影響測(cè)量的若干因素

4.1 基體的影響

1、基體金屬厚度

每一種儀器都有一個(gè)基體金屬的臨界厚度，大于這個(gè)厚度測(cè)量就不受基體厚度的影響。

2、表面粗糙度

基體金屬和表面粗糙度對(duì)測(cè)量有影響。粗糙度增大，影響增大。粗糙表面會(huì)引起系統(tǒng)誤差和偶然誤差。每次測(cè)量時(shí)，在

不同位置上增加測(cè)量的次數(shù)，克服這種偶然誤差。

如果基體金屬粗糙還必須在未涂覆的粗糙相類似的基體金屬試件上取幾個(gè)位置校對(duì)儀器的零點(diǎn)；或用沒(méi)有腐蝕性的溶液除去在基體金屬上的覆蓋層，再校對(duì)儀器零點(diǎn)。

4.2 試片的影響

1、邊緣效應(yīng)

本儀器對(duì)試片表面形狀的陡變敏感，因此在靠近試片邊緣或內(nèi)轉(zhuǎn)角處進(jìn)行測(cè)量是不可靠的。

2、曲率

試件的曲率對(duì)測(cè)量有影響，這種影響是隨著曲率半徑減小明顯增大。因此不應(yīng)在試件超過(guò)允許的曲率半徑的彎曲面上測(cè)量。

3、試片的變形

探頭會(huì)使軟覆蓋層試件產(chǎn)生變形現(xiàn)象，因此在這些試件上測(cè)量會(huì)出現(xiàn)不太可靠的數(shù)據(jù)。

4.3 電磁場(chǎng)

周?chē)鞣N電氣設(shè)備所產(chǎn)生的強(qiáng)磁場(chǎng)，會(huì)嚴(yán)重地干擾磁性測(cè)量厚度的工作。應(yīng)避免在強(qiáng)磁場(chǎng)或強(qiáng)電場(chǎng)附近使用本儀器，否則儀器會(huì)顯示未知的數(shù)據(jù)，或者無(wú)法正常工作。

4.4 附著物質(zhì)

本儀器對(duì)那些妨礙探頭與覆蓋層表面緊密接觸的附著物質(zhì)敏感。因此必須清除附著物質(zhì)，以保證探頭與覆蓋層表面直接接觸。

4.5 探頭的放置

探頭的放置方式對(duì)測(cè)量有影響，在測(cè)量中務(wù)必使探頭與試樣表面保持垂直，否則會(huì)產(chǎn)生測(cè)量誤差。

4.6 讀數(shù)次數(shù)

通常儀器的每次讀數(shù)并不*相同。因此必須在每一測(cè)量面積內(nèi)取幾個(gè)測(cè)量值，覆蓋層厚度的局部差異，也要求在給定的面積內(nèi)進(jìn)行測(cè)量，表面粗糙時(shí)更應(yīng)如此。

4.7 注意事項(xiàng)

1、測(cè)量曲面及圓柱體，曲率半徑較小時(shí)，應(yīng)在未涂覆的工件上校準(zhǔn)，以保證測(cè)量精度。

2、在曲率半徑較小的凹面內(nèi)測(cè)量時(shí)，應(yīng)重新校正。

3、隨機(jī)配送基體應(yīng)放在干燥處保存，如果發(fā)生生銹現(xiàn)象應(yīng)及時(shí)打磨處理，以免影響測(cè)量。

4、標(biāo)準(zhǔn)樣片如發(fā)生變形、磨損現(xiàn)象建議及時(shí)與廠家，以免影響儀器測(cè)量精度。