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法國Phasics的紅外高分辨率波前分析儀

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更新時(shí)間：2024-10-07 21:00:07

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光學(xué)晶體: 非線性晶體

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產(chǎn)品簡介詳細(xì)介紹

法國Phasics的紅外高分辨率波前分析儀也被稱為SID4 SWIR HR近紅外波前分析儀，具有超高的相位采樣分辨率（160 x 128）和高感光靈敏度，可以準(zhǔn)確的測量0.9-1.7 μm的波前數(shù)據(jù)并且可適用于低功率紅外光源測試。

法國Phasics的紅外高分辨率波前分析儀

SID4 SWIR HR波前分析儀，0.9-1.7 μm超高采樣分辨率

法國Phasics提供的SID4 SWIR HR紅外高分辨率波前分析儀集成了InGaAs探測器和Phasics特殊的知識(shí)產(chǎn)權(quán)技術(shù)——四波橫向剪切設(shè)計(jì)而成的。由于SID4 SWIR HR近紅外波前分析儀的超高采樣分辨率（160 x 128 phase pixels）和高靈敏度，可以精確的測量900 nm到1.7 μm的波前數(shù)據(jù)。短波紅外波前傳感器SID4 SWIR HR是一種創(chuàng)新的設(shè)計(jì)方案，它的鏡頭可以應(yīng)用于光通信，儀器檢測，軍事或夜視監(jiān)測等領(lǐng)域。