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WP-Z-120A-納米壓電Z軸高負載晶圓臺
  • WP-Z-120A-納米壓電Z軸高負載晶圓臺

貨物所在地:廣東深圳市

更新時間:2024-07-25 15:54:25

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英國PRIOR的納米壓電Z軸高負載晶圓臺是電子顯微鏡室真空臺的理想選擇。WP-Z-120A Wafer Stage可針對不同的環(huán)境和規(guī)格進行定制。高負載晶圓臺還提供超高真空 (UHV) 和 UHV-RAD 抗輻射版本。OEM晶圓臺更高負載的定制版本可用于高達14 kg的負載,并且提供用于平臺調(diào)平和掃描的傾斜版本。

英國PRIOR的納米壓電Z軸高負載晶圓臺

PRIOR納米壓電Z軸高負載晶圓臺,12英寸大尺寸晶圓臺


毫秒級響應(yīng)時間和高帶寬使WP-Z-120A晶圓定位系統(tǒng)非常適合需要高吞吐量的應(yīng)用。電動晶圓臺設(shè)計用于容納 300毫米(12英寸晶圓)的晶圓,并提供優(yōu)良性能,負載高達8公斤,適用于重型晶圓卡盤。

該平臺使用電容式定位傳感器提供納米位移測量和閉環(huán)反饋。彎曲引導(dǎo)在120 μm閉環(huán)范圍內(nèi)提供無摩擦且可靠的運動,并通過Queensgate的數(shù)字閉環(huán)控制器實現(xiàn)快速響應(yīng)和穩(wěn)定時間。

PRIOR旗下Queensgate公司業(yè)務(wù)開發(fā)經(jīng)理Alison Raby表示“我們很高興向市場推出WP-Z-120A大尺寸晶圓臺。我們希望設(shè)計一款能夠承載高負載但實現(xiàn)市場快速響應(yīng)和穩(wěn)定時間的納米壓電Z軸晶圓載物臺,晶圓掃描儀的設(shè)計考慮了OEM客戶,并且可以適應(yīng)輕松升級到新的OEM晶圓臺自定義版本。"

WP-Z-120A高負載晶圓臺可針對不同的環(huán)境和規(guī)格進行定制。它與真空 (HV) 兼容,是電子顯微鏡室的理想選擇。還提供超高真空(UHV)和UHV-RAD抗輻射版本。更高負載的真空臺定制版本可用于高達14公斤的負載,并且提供用于平臺調(diào)平和掃描的傾斜版本。可根據(jù)要求提供160 μm的擴展范圍和200 mm晶圓的更小尺寸。

高負載壓電晶圓Z軸平臺主要應(yīng)用:

-晶圓或掩模檢測應(yīng)用

-電子顯微鏡SEM/TEM應(yīng)用

-干涉測量和計量應(yīng)用

-顯微鏡高精度載物臺應(yīng)用

-材料檢驗應(yīng)用

-鏡面定位應(yīng)用


高負載壓電晶圓Z軸平臺定制解決方案:

-真空(HV)兼容版本,非常適合在電子顯微鏡的真空室中使用

-超高真空 (UHV)UHV-RAD抗輻射版本,具有低放氣聚酰亞胺布線

-高負載OEM晶圓臺定制版本,可使用高達14公斤

-用于平臺調(diào)平和掃描的傾斜調(diào)制Z軸定制版本

-160 μm的擴展范圍

-200 mm晶圓的裝配/12英寸晶圓的裝配

-可提供用于Prior Scientific載物臺H112高精度載物臺的轉(zhuǎn)接板

高負載壓電晶圓Z軸平臺的NPC-D-6110壓電控制器:

高負載壓電晶圓Z軸平臺可由NPC-D-6110壓電控制器驅(qū)動控制,NPC-D-6110壓電控制器具備20 μm的更新速率,該規(guī)格參數(shù)在市面上具備極大的優(yōu)勢,其超低噪聲的控制模式在高伺服環(huán)路帶寬或高負載使用下依舊可以保證高分辨率運行。帶有加速/減速控制的運動控制算法可減少超調(diào),可以提供更佳的步進穩(wěn)定時間。該系統(tǒng)提供高達三個出廠設(shè)置,可選擇的調(diào)諧預(yù)設(shè)使得控制器使用時,對于步進穩(wěn)定和樣品質(zhì)量進行了優(yōu)化處理。五個額外的自定義預(yù)設(shè)可用于自定義調(diào)整。

新的速度控制算法為對焦堆疊或?qū)拱鼑葢?yīng)用提供了超平滑的波形。


高負載壓電晶圓Z軸平臺的操作界面

模擬命令輸入和位置輸出- 10 – + 10 V0 – 10 V。數(shù)字命令可通過USBRS232C或數(shù)字正交/步進和方向命令獲得??蛇x的高速RS422C數(shù)字接口用于樣品精確控制和位置反饋。

提供了一個DLL接口,便于與客戶的軟件集成?;胤抛远x編程波形,如光柵掃描或等速剖面的標準功能??梢栽谧远x點激活單獨的數(shù)字觸發(fā)輸出,以控制外部設(shè)備,例如相機成像等應(yīng)用需求。

英國PRIOR的納米壓電Z軸高負載晶圓臺


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