產(chǎn)品簡(jiǎn)介
詳細(xì)介紹
供應(yīng)MTE170A超聲波測(cè)厚儀廠家價(jià)格
1 概述
本儀器是智能型超聲波測(cè)厚儀,采用的高性能、低功耗微處理器技術(shù),基于超聲波測(cè)量原理,可以測(cè)量金屬及其它多種材料的厚度,并可以對(duì)材料的聲速進(jìn)行測(cè)量。可以對(duì)生產(chǎn)設(shè)備中各種管道和壓力容器進(jìn)行監(jiān)測(cè),監(jiān)測(cè)它們?cè)谑褂眠^(guò)程中受腐蝕后的減薄程度,也可以對(duì)各種板材和各種加工零件作精確測(cè)量。本儀器可廣泛應(yīng)用于石油、化工、冶金、造船、航空、航天等各個(gè)領(lǐng)域。
1.1 技術(shù)參數(shù)
- 顯示方法:高對(duì)比度的段碼液晶顯示,帶有LED背光;
- 測(cè)量范圍:0.75~300mm(鋼中),公制與英制可自由轉(zhuǎn)換;
- 聲速范圍:1000~9999 m/s:
- 分 辨 率::0.1mm; 0.1/0.01mm可選
- 示值精度:±(1%H+0.1)mm; H為被測(cè)物實(shí)際厚度
- 測(cè)量周期:單點(diǎn)測(cè)量時(shí)4次/秒、掃描模式10次/秒;
- 存儲(chǔ)容量:可存儲(chǔ)20組(每組zui多100個(gè)測(cè)量值)厚度測(cè)量數(shù)據(jù)
- 工作模式:具有單點(diǎn)測(cè)厚和掃描測(cè)厚兩種測(cè)厚工作模式
- 單 位 制:公制或者英制(可選)
- 工作電壓:3V(2節(jié)AA尺寸堿性電池)
- 持續(xù)工作時(shí)間:大于100小時(shí)(不開(kāi)背光時(shí))
- 外形尺寸:151×75×33 mm
- 整機(jī)重量:248g
1.2 主要功能
- 適合測(cè)量金屬(如鋼、鑄鐵、鋁、銅等)、塑料、陶瓷、玻璃、玻璃纖維及其他任何超聲波的良導(dǎo)體的厚度;
- 可配備多種不同頻率、不同晶片尺寸的雙晶探頭使用;
- 具有探頭零點(diǎn)校準(zhǔn)、兩點(diǎn)校準(zhǔn)功能, 可對(duì)系統(tǒng)誤差進(jìn)行自動(dòng)修正;
- 已知厚度可以反測(cè)聲速,以提高測(cè)量精度;
- 具有耦合狀態(tài)提示功能;
- 有LED背光顯示,方便在光線(xiàn)昏暗環(huán)境中使用;
- 有剩余電量指示功能,可實(shí)時(shí)顯示電池剩余電量;
- 具有自動(dòng)休眠、自動(dòng)關(guān)機(jī)等節(jié)電功能;
- 小巧、便攜、可靠性高,適用于惡劣的操作環(huán)境,抗振動(dòng)、沖擊和電磁干擾;
供應(yīng)MTE170A超聲波測(cè)厚儀廠家價(jià)格
1.3 工作原理
本超聲波測(cè)厚儀對(duì)厚度的測(cè)量,是由探頭產(chǎn)生超聲波脈沖透過(guò)耦合劑到達(dá)被測(cè)體,一部分超聲信號(hào)被物體底面反射,探頭接收由被測(cè)體底面反射的回波,精確地計(jì)算超聲波的往返時(shí)間,并按下式計(jì)算厚度值,再將計(jì)算結(jié)果顯示出來(lái)。
式中: H-測(cè)量厚度; v-材料聲速;
t-超聲波在試件中往返一次的傳播時(shí)間。
1.5 工作條件
環(huán)境溫度:操作溫度-20~+50℃;存儲(chǔ)溫度:-30℃~+70℃
相對(duì)濕度≤90%;
周?chē)h(huán)境無(wú)強(qiáng)烈振動(dòng)、無(wú)強(qiáng)烈磁場(chǎng)、無(wú)腐蝕性介質(zhì)及嚴(yán)重粉塵。
耦合狀態(tài):探頭與被測(cè)工件的耦合狀態(tài)
單位制式:MM、M/S(公制時(shí)),或者IN、IN/μS(英制時(shí))
電池電量:電池剩余電量顯示
信息顯示:顯示厚度測(cè)量值,以及簡(jiǎn)單的操作提示信息。
3 測(cè)量前的準(zhǔn)備
3.1 儀器準(zhǔn)備
新購(gòu)儀器請(qǐng)參照裝箱單仔細(xì)查對(duì)儀器及附件,不全時(shí)請(qǐng)及時(shí)與廠家。
3.2 探頭選擇
根據(jù)被測(cè)對(duì)象的厚度及形狀來(lái)選擇探頭。
選擇的依據(jù)請(qǐng)參考本手冊(cè)1.4的表1.2:探頭選擇。
3.3 被測(cè)工件的表面處理
若被測(cè)體表面很粗糙或銹蝕嚴(yán)重,請(qǐng)用以下方法處理:
- 在被測(cè)體表面使用耦合劑;
- 利用除銹劑、鋼絲刷或砂紙?zhí)幚肀粶y(cè)體表面
- 在同一點(diǎn)附近多次測(cè)量
4.2 探頭零點(diǎn)校準(zhǔn)
在每次更換探頭、改變聲速、更換電池、環(huán)境溫度變化較大或者測(cè)量出現(xiàn)偏差時(shí)應(yīng)進(jìn)行探頭校準(zhǔn)。此步驟對(duì)保證測(cè)量準(zhǔn)確度十分關(guān)鍵。如有必要,可重復(fù)多次。
- 測(cè)量?jī)x器上提供的標(biāo)準(zhǔn)試塊(4.00±0.01mm,當(dāng)聲速為5920m/s時(shí));
- 儀器顯示校準(zhǔn)測(cè)量值(4.00±0.01mm,當(dāng)聲速為5920m/s時(shí)),校準(zhǔn)過(guò)程完畢。
注意!只限于將探頭耦合在儀器面板上的標(biāo)準(zhǔn)試塊上進(jìn)行校準(zhǔn),而不得在其它任何試塊上使用此鍵,否則將引起測(cè)量錯(cuò)誤。
4.3 聲速設(shè)置
當(dāng)已知材料的聲速時(shí),可以利用儀器提供的聲速調(diào)節(jié)功能,并依據(jù)附表中的參考聲速值,調(diào)整儀器的內(nèi)置聲速值。
4.4 聲速測(cè)量
在被測(cè)材料的聲速未知時(shí),可利用儀器提供的聲速測(cè)量功能計(jì)算材料的聲速值。請(qǐng)注意,利用這一功能時(shí),請(qǐng)用戶(hù)使用與被測(cè)材料同質(zhì)并已知厚度的試塊。
4.5 兩點(diǎn)校準(zhǔn)
兩點(diǎn)校準(zhǔn)可以同時(shí)校準(zhǔn)探頭零點(diǎn)和材料聲速,從而提高厚度測(cè)量精度。選擇與被測(cè)物的材料、聲速及曲率相同的兩個(gè)標(biāo)準(zhǔn)試塊,其中一個(gè)試塊的厚度等于或略高于使用中實(shí)際測(cè)量范圍的上限(試塊A),另一個(gè)試塊的厚度盡可能接近測(cè)量范圍的下限(試塊B)
4.6厚度測(cè)量
將耦合劑均勻涂于被測(cè)區(qū)域,將探頭與被測(cè)材料表面緊密耦合,屏幕將顯示被測(cè)區(qū)域的測(cè)量厚度。當(dāng)探頭與被測(cè)材料良好耦合時(shí),屏幕將顯示耦合標(biāo)志,如果耦合標(biāo)志閃爍或無(wú)耦合標(biāo)志則表示耦合狀況不好。移開(kāi)探頭后,耦合標(biāo)志消失,厚度值保持。
4.7 設(shè)置測(cè)厚模式
該儀器有兩種測(cè)厚模式:?jiǎn)吸c(diǎn)模式和掃描模式。單點(diǎn)模式:將儀器的探頭耦合到被測(cè)工件上,儀器就會(huì)測(cè)出該點(diǎn)處的厚度。掃描模式:將探頭耦合到工件上并沿工件表面移動(dòng),當(dāng)探頭被拿起時(shí),儀器就會(huì)閃爍顯示所掃查區(qū)域內(nèi)的zui小厚度值,5秒鐘后停止閃爍(屏幕閃爍顯示厚度值時(shí),表示本次掃描測(cè)量尚未結(jié)束,可以繼續(xù)測(cè)量)。單點(diǎn)模式的測(cè)量頻率為4次/秒,掃描模式的測(cè)量頻率為10次/秒,后者快于前者。
測(cè)厚模式的改變可以通過(guò)下面的操作來(lái)實(shí)現(xiàn):按鍵改變當(dāng)前設(shè)置,屏幕顯示改變后的測(cè)厚模式,單點(diǎn)模式顯示為:SCAN OFF,掃描模式顯示為:SCAN ON。
4.8 設(shè)置顯示分辨率(測(cè)量精度)
對(duì)于zui高分辨率為0.01mm的超聲波測(cè)厚儀,用戶(hù)可根據(jù)實(shí)際情況手動(dòng)調(diào)整所需要的測(cè)量精度。在選擇高精度時(shí),要求被測(cè)工件的表面比較光滑,以便測(cè)量得到精確的數(shù)據(jù)。當(dāng)測(cè)量粗糙表面或者粗晶材料時(shí)建議使用低精度。
4.9 改變單位制式
該儀器可以公制或者英制顯示厚度和聲速。在厚度測(cè)量過(guò)程中,按鍵可以改變單位制式,在公制(厚度:mm,聲速: m/s)和英制(厚度:inch, 聲速: inch/µS)之間進(jìn)行切換。
4.10 存儲(chǔ)功能
4.10.1 存儲(chǔ)測(cè)量值
儀器中將存儲(chǔ)單元分成20個(gè)文件(F00-F19),每個(gè)文件可存儲(chǔ)zui多100個(gè)厚度測(cè)量值。厚度測(cè)量后可直接按鍵將測(cè)量值存入當(dāng)前文件中
存儲(chǔ)厚度值時(shí),如果當(dāng)前文件中的記錄總數(shù)已經(jīng)達(dá)到100個(gè),則儀器會(huì)自動(dòng)取消本次存儲(chǔ)操作,并且屏幕會(huì)顯示“FULL”提示信息。
B.1 表面狀況對(duì)測(cè)量結(jié)果的影響
B.1.1 表面覆蓋物
測(cè)量前應(yīng)清除被測(cè)物體表面所有的灰塵、污垢及銹蝕物,鏟除油漆等覆蓋物。
B.1.2 粗糙表面
過(guò)于粗糙的表面會(huì)引起測(cè)量誤差,甚至儀器無(wú)讀數(shù)。測(cè)量前應(yīng)盡量使被測(cè)材料表面光滑,可使用磨、拋、銼等方法使其光滑。還可使用高粘度耦合劑。
B.1.3 粗加工表面
粗加工表面(如車(chē)床或刨床)所造成的有規(guī)則的細(xì)槽也會(huì)引起測(cè)量誤差,處理方法同上。另外調(diào)整超聲探頭串音隔層板(穿過(guò)探頭底面中心的金屬薄層)與被測(cè)材料細(xì)槽之間的夾角,使隔層板與細(xì)槽相互垂直或平行,取讀數(shù)中的zui小值作為測(cè)量厚度,可取得較好效果。
B1.4 圓柱型表面
測(cè)量圓柱型材料,如管子、油桶等,正確選擇探頭串音隔層板與被測(cè)材料軸線(xiàn)之間的夾角至關(guān)重要。簡(jiǎn)單地說(shuō),將探頭與被測(cè)材料耦合,探頭串音隔層板與被測(cè)材料軸線(xiàn)平行或垂直,沿與被測(cè)材料軸線(xiàn)方向垂直地緩慢搖動(dòng)探頭,屏幕上的讀數(shù)將有規(guī)則地變化,選擇讀數(shù)中的zui小值,作為材料的測(cè)量厚度。
根據(jù)材料的曲率正確選擇探頭串音隔層板與被測(cè)材料軸線(xiàn)夾角方向。直徑較大的管材,選擇探頭串音隔層板與管子軸線(xiàn)垂直;直徑較小的管材,則選擇與管子軸線(xiàn)平行和垂直兩種測(cè)量方法,取讀數(shù)中的zui小值作為測(cè)量厚度。
B1.5 復(fù)合外形
當(dāng)測(cè)量復(fù)合外形的材料(如管子彎頭處)時(shí)可采用上文介紹的方法,所不同的是要進(jìn)行二次測(cè)量,分別讀取探頭串音隔層板與軸線(xiàn)垂直和平行的兩個(gè)數(shù)值,其較小的一個(gè)數(shù)作為該材料在測(cè)量點(diǎn)處的厚度測(cè)量值。
B1.6 不平行表面
為了得到穩(wěn)定、可靠的厚度測(cè)量值,被測(cè)材料的另一表面必須與被測(cè)面平行或同軸,否則將引起較大測(cè)量誤差或根本無(wú)讀數(shù)顯示。
B.2 溫度對(duì)測(cè)量結(jié)果的影響
材料的厚度與超聲波在材料中的傳播速度均受溫度的影響。對(duì)測(cè)量精度要求較高時(shí),可采用試塊對(duì)比法,即用相同材料、近似厚度的試塊在相同溫度條件下進(jìn)行測(cè)量,并求得溫度補(bǔ)償系數(shù),用此系數(shù)修正被測(cè)工件的測(cè)量值
B.3材料衰減對(duì)測(cè)量結(jié)果的影響
對(duì)于一些如纖維、多孔、粗晶等材料,它們會(huì)造成超聲波的大量散射和能量衰減,以致可能使儀器出現(xiàn)反常的讀數(shù)甚至無(wú)讀數(shù)(通常反常的讀數(shù)小于實(shí)際厚度)。在這種情況下,該材料不適于用此測(cè)厚儀進(jìn)行厚度測(cè)量。
B.4 參考試塊的使用
對(duì)不同材料在不同條件下進(jìn)行精確測(cè)量,校準(zhǔn)試塊的材料越接近于被測(cè)材料,測(cè)量就越精確。理想的參考試塊將是一組被測(cè)材料的不同厚度的試塊,試塊能提供儀器補(bǔ)償校正因素(如材料的微觀結(jié)構(gòu)、熱處理?xiàng)l件、粒子方向、表面粗糙等)。為了滿(mǎn)足zui大精度測(cè)量的要求,一套參考試塊將是很重要的。
在大部分情況下,只要使用一個(gè)參考試塊就能得到令人滿(mǎn)意的測(cè)量精度,這個(gè)試塊應(yīng)具有與被測(cè)材料相同的材質(zhì)和相近的厚度。取均勻被測(cè)材料用千分尺測(cè)量后就能作為一個(gè)試塊。
對(duì)于薄材料,在它的厚度接近于探頭測(cè)量下*,可用試塊來(lái)確定準(zhǔn)確的低限。不要測(cè)量低于下限厚度的材料。如果一個(gè)厚度范圍是可以估計(jì)的,那么試塊的厚度應(yīng)選上限值。
當(dāng)被測(cè)材料較厚時(shí),特別是內(nèi)部結(jié)構(gòu)較為復(fù)雜的合金等,應(yīng)在一組試塊中選擇一個(gè)接近被測(cè)材料的,以便于掌握校準(zhǔn)。
大部分鍛件和鑄件的內(nèi)部結(jié)構(gòu)具有方向性,在不同的方向上,聲速將會(huì)有少量變化,為了解決這個(gè)問(wèn)題,試塊應(yīng)具有與被測(cè)材料相同方向的內(nèi)部結(jié)構(gòu),聲波在試塊中的傳播方向也要與在被測(cè)材料中的方向相同。
在一定情況下,查已知材料的聲速表,可代替參考試塊,但這只是近似地代替一些參考試塊,在一些情況下,聲速表中的數(shù)值與實(shí)際測(cè)量有別,這是因?yàn)椴牧系奈锢砑盎瘜W(xué)情況有異。這種方法常被用來(lái)測(cè)低碳鋼,但只能作為粗略測(cè)量。
本測(cè)厚儀具有測(cè)量聲速的功能,故可先測(cè)量出聲速,再以此聲速對(duì)工件進(jìn)行測(cè)量。
B.5 鑄件測(cè)量
鑄件測(cè)量有其特殊性。鑄件材料的晶粒比較粗大,組織不夠致密,再加上往往處于毛面狀態(tài)就進(jìn)行測(cè)量,因此使測(cè)量遇到較大的困難。
首先是晶粒的粗大和組織不致密性造成聲能的極大衰減,衰減是由材料對(duì)聲能的散射和吸收造成的。衰減的程度與晶粒尺寸和超聲頻率是有密切關(guān)系的,相同頻率下衰減隨晶粒直徑的增大而增大,但有一zui高點(diǎn),超過(guò)這一點(diǎn),晶粒直徑再增大,衰減基本趨于一個(gè)固定值。對(duì)于不同頻率的探頭,衰減隨頻率的增大而增大。
其次,當(dāng)晶粒粗大和鑄造中存在粗大異相組織時(shí),將對(duì)超聲信號(hào)產(chǎn)生異常反射,產(chǎn)生草狀回波或樹(shù)狀回波,使測(cè)厚結(jié)果出現(xiàn)錯(cuò)誤讀數(shù),造成誤判。
另外,隨著晶粒的粗大,金屬結(jié)晶方向上的各向異性表現(xiàn)得更為顯著,從而使不同方向上的聲速造成差異,zui大差異甚至可達(dá)5.5%。而且工件內(nèi)不同位置上組織的致密性也不*,這也將造成聲速的差異。這些因素都將引起測(cè)量結(jié)果的不準(zhǔn)確。因此對(duì)鑄件測(cè)量要特別小心。
對(duì)鑄件測(cè)量時(shí)應(yīng)注意:
- 在測(cè)量表面粗糙的鑄件時(shí),必須采用粘度較大的機(jī)油、黃油等作耦合劑。
- 建議用與待測(cè)物相同的材料,測(cè)量方向與待測(cè)物也相同的試塊來(lái)校準(zhǔn)材料的聲速。
- 必要時(shí)可進(jìn)行兩點(diǎn)校準(zhǔn)。
B.6 減小測(cè)量誤差的方法
B.6.1 超薄材料
使用任何超聲波測(cè)厚儀,當(dāng)被測(cè)材料的厚度降到探頭使用下限以下時(shí),將導(dǎo)致測(cè)量誤差,必要時(shí),zui小極限厚度可用試塊比較法測(cè)得。
當(dāng)測(cè)量超薄材料時(shí),有時(shí)會(huì)發(fā)生一種稱(chēng)為“雙重折射”的錯(cuò)誤結(jié)果,它的現(xiàn)象為:顯示讀數(shù)是實(shí)際厚度的二倍;另一種錯(cuò)誤結(jié)果被稱(chēng)為“脈沖包絡(luò)、循環(huán)跳躍”,它的現(xiàn)象是測(cè)量值大于實(shí)際厚度,為防止這類(lèi)誤差,測(cè)臨界薄材料時(shí)應(yīng)反復(fù)測(cè)量核對(duì)。
B.6.2銹斑、腐蝕凹坑等
被測(cè)材料另一表面的銹斑凹坑(很小的銹點(diǎn)有時(shí)是很難發(fā)現(xiàn)的)等將引起讀數(shù)無(wú)規(guī)則地變化,在情況下甚至無(wú)讀數(shù)。當(dāng)發(fā)現(xiàn)凹坑或感到懷疑時(shí),對(duì)這個(gè)區(qū)域的測(cè)量就得十分小心,可選擇探頭串音隔層板不同角度的定位來(lái)作多次測(cè)試。
B6.3 材料識(shí)別錯(cuò)誤
當(dāng)用一種材料校正了儀器后,又去測(cè)量另一種材料時(shí),將發(fā)生錯(cuò)誤的結(jié)果,應(yīng)注意選擇正確的聲速。
B6.4 探頭的磨損
探頭表面為丙烯樹(shù)脂,長(zhǎng)期使用會(huì)使其粗糙度增高,導(dǎo)致探頭靈敏度下降,如果探頭磨損嚴(yán)重導(dǎo)致測(cè)量結(jié)果誤差較大,可用砂紙或油石少量打磨探頭表面使其平滑并保證平行度。如測(cè)值仍不穩(wěn)定,則需更換探頭。
B6.5 多層材料、復(fù)合材料
要測(cè)量結(jié)合面不緊密的多層材料是不可能的,因超聲波無(wú)法穿透未經(jīng)耦合的結(jié)合面。因?yàn)槌暡ú荒茉趶?fù)合材料中以勻速傳播,所以用超聲反射原理測(cè)量厚度的儀器均不適于測(cè)量多層材料和復(fù)合材料。
B6.6 金屬表面氧化層的影響
有些金屬可能在其表面產(chǎn)生較致密的氧化層,例如鋁等,這層氧化層與基體間結(jié)合緊密,無(wú)明顯界面,但超聲波在這兩種物質(zhì)中的傳播速度是不同的,故會(huì)造成測(cè)量誤差,且氧化層厚度不同誤差的大小也不同。請(qǐng)用戶(hù)在使用時(shí)注意這種情況??梢栽谕慌粶y(cè)材料中選擇一塊制成樣塊,用千分尺或卡尺測(cè)量測(cè)量其厚度,并用該樣塊對(duì)儀器進(jìn)行校準(zhǔn)。
B6.7 反常的厚度讀數(shù)
操作者應(yīng)具備辨別反常讀數(shù)的能力,通常銹斑、腐蝕凹坑、被測(cè)材料內(nèi)部缺陷都將引起反常讀數(shù)。解決辦法可參考本手冊(cè)的有關(guān)章節(jié)。
B6.8 耦合劑的選擇和使用
耦合劑是用來(lái)作為探頭與被測(cè)材料之間的超聲信號(hào)傳播載體。如果耦合劑的種類(lèi)或使用方法不當(dāng)將有可能造成較大誤差,或者耦合標(biāo)志閃爍,測(cè)值無(wú)法穩(wěn)定。耦合劑應(yīng)適量使用,涂沫均勻。
選擇合適類(lèi)型的耦合劑非常重要。當(dāng)使用在光滑材料表面時(shí),可以使用低粘度的耦合劑(如隨機(jī)配置的耦合劑、輕機(jī)油等);當(dāng)使用在粗糙材料表面,或垂直表面及頂面時(shí),需要使用粘度較高的耦合劑(如甘油膏、黃油、潤(rùn)滑脂等)。
供應(yīng)MTE170A超聲波測(cè)厚儀廠家價(jià)格用 戶(hù) 須 知
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