• 下照式：可滿足各種形狀樣品的測(cè)試需求：多種準(zhǔn)直器和濾光片的電動(dòng)切換，滿足各種測(cè)試方式的應(yīng)用
• 電制冷Si-PIN探測(cè)器：信噪比增強(qiáng)器
• 型號(hào)規(guī)格：外觀尺寸： 550×416×333mm
• 分析含量：1ppm到99.99％
• 電源：交流220V±5V建議配置交流凈化穩(wěn)壓電源
• 能量分辨率：160±5eV
• 重量：45Kg
• 多次測(cè)量重復(fù)性：0.1％（含量96％以上）

X射線熒光光譜儀特點(diǎn) 金屬成分檢測(cè)儀_不銹鋼牌號(hào)分析儀器

X射線熒光光譜儀的特征是波長非常短，頻率很高，其波長約為（20～0.06）×10-8厘米之間。因此X射線必定是由于原子在能量相差懸殊的兩個(gè)能級(jí)之間的躍遷而產(chǎn)生的。所以X射線光譜是原子中zui靠內(nèi)層的電子躍遷時(shí)發(fā)出來的，而光學(xué)光譜則是外層的電子躍遷時(shí)發(fā)射出來的。X射線在電場(chǎng)磁場(chǎng)中不偏轉(zhuǎn)。這說明X射線是不帶電的粒子流，因此能產(chǎn)生干涉、衍射現(xiàn)象。 

X射線熒光光譜儀的X射線譜由連續(xù)譜和標(biāo)識(shí)譜兩部分組成 ，標(biāo)識(shí)譜重疊在連續(xù)譜背景上，連續(xù)譜是由于高速電子受靶極阻擋而產(chǎn)生的 軔致輻射，其短波極限λ 0 由加速電壓V決定：λ 0 = hc /( ev )為普朗克常數(shù)，e為電子電量，c為真空中的光速。標(biāo)識(shí)譜是由一系列線狀譜組成，它們是因靶元素內(nèi)層電子的躍遷而產(chǎn)生，每種元素各有一套特定的標(biāo)識(shí)譜，反映了原子殼層結(jié)構(gòu) 。同步輻射源可產(chǎn)生高強(qiáng)度的連續(xù)譜X射線，現(xiàn)已成為重要的X射線源。

江蘇天瑞儀器股份有限公司是專業(yè)生產(chǎn)光譜、色譜、質(zhì)譜等分析測(cè)試儀器及其軟件的研發(fā)、生產(chǎn)和銷售一體型企業(yè)。天瑞EDX4500H,EDX2000H,EDX1800BS,EDX3600H,OES系列儀器是測(cè)合金元素成分檢測(cè)儀,專門研發(fā)測(cè)試合金成分分析.測(cè)試過程校準(zhǔn)，保證測(cè)量精度，內(nèi)置多條曲線，可滿足多種元素的分析需要。 X熒光光譜儀是利用XRF檢測(cè)原理實(shí)現(xiàn)對(duì)各種元素成份進(jìn)行快速、準(zhǔn)確、無損分析。該儀器的主要特征是利用智能真空系統(tǒng)，可對(duì)Si、P、S、Al、Mg等輕元素具有良好的激發(fā)效果，利用XRF技術(shù)可對(duì)高含量的Cr、Ni、Mo等重點(diǎn)關(guān)注的元素進(jìn)行成分分析，在冶煉過程控制中起到了測(cè)試時(shí)間短，大大提高了檢測(cè)效率和工作效率的作用。另外，在合金分析、全元素分析、有害元素檢測(cè)應(yīng)用上也十分廣泛。

下照式：可滿足各種形狀樣品的測(cè)試需求
準(zhǔn)直器和濾光片：多種準(zhǔn)直器和濾光片的電動(dòng)切換，滿足各種測(cè)試方式的應(yīng)用
移動(dòng)平臺(tái)：精細(xì)的手動(dòng)移動(dòng)平臺(tái)，方便定位測(cè)試點(diǎn)
高分辨率探測(cè)器：提高分析的準(zhǔn)確性
新一代的高壓電源和X光管：性能穩(wěn)定可靠，實(shí)現(xiàn)更高的測(cè)試效率
元素分析范圍從硫（S）到鈾（U）
分析檢出限可達(dá)ppm
分析含量一般為ppm到99.99％
任意多個(gè)可選擇的分析和識(shí)別模型
相互獨(dú)立的基體效應(yīng)校正模型
多變量非線性回歸程序
溫度適應(yīng)范圍為15℃至30℃
電源：交流220V±5V,建議配置交流凈化穩(wěn)壓電源
能量分辨率：160±5eV
樣品腔尺寸：460×298×98mm
儀器尺寸：550mm×410mm×320mm
儀器重量：45kg
移動(dòng)樣品平臺(tái)
電制冷Si-PIN探測(cè)器
信號(hào)檢測(cè)電子電路
高低壓電源
新型X光管
計(jì)算機(jī)及噴墨打印機(jī)

金屬成分檢測(cè)儀_不銹鋼牌號(hào)分析儀器應(yīng)用領(lǐng)域

黃銅成分分析，以及銅合金、鋅合金、鈷合金、不銹鋼等金屬樣品的成分分析