云飛牌*型植物圖像分析儀系統(tǒng)廠家|價格
植物冠層分析儀適用于森林及低矮植物冠層測量；廣泛應用于植物研究，農(nóng)業(yè)生產(chǎn)和農(nóng)業(yè)科研，研究植物冠層內(nèi)部的光照輻射透過情況，研究植物的生長發(fā)育、人工栽培管理、產(chǎn)量品質(zhì)與光能利用間的關(guān)系，可根據(jù)獲取的植物冠層圖像計算出葉面積指數(shù)LAI、葉片平均傾角、散射輻射透過率、不同太陽高度角下的直接輻射透過率、消光系數(shù)和葉面積密度的方位分布、任意地點和任意時期的太陽軌跡等冠層參數(shù)。
*型植物圖像分析儀系統(tǒng)    產(chǎn)品簡介：
該多用途*型的植物葉面積、根系、年輪、葉色分析儀是一種方便、可在野外或?qū)嶒炇沂褂玫木C合性分析儀器，精確度遠高于傳統(tǒng)的分析儀（傳送或基于相機的類型）。采用統(tǒng)一標準，可精確、快速、無損傷地測定葉片的葉面積和葉色參數(shù)，也可對采摘的植物葉片及其它片狀物體進行面積測量，還可進行葉片顏色分析（包括按葉片顏色自動分檔查詢，用于植物或作物氮肥狀態(tài)的快速評價）。系統(tǒng)的植物年輪分析模塊可用于樹木年代學、年輪生態(tài)環(huán)境變化學、年輪氣候?qū)W、地理科學、考古學研究。植物根系分析模塊為可選模塊，用于洗根后的專業(yè)根系分析，可分析根系長度、直徑、面積、體積、根尖記數(shù)等，其功能強大，操作簡單，運用于根系形態(tài)和構(gòu)造研究。該儀器綜合了植物、農(nóng)作物在葉面積、根系、年輪、葉色這4大方面的分析功能，廣泛適用于農(nóng)業(yè)、林業(yè)、氣象等部門。
*型植物圖像分析儀系統(tǒng)  技術(shù)參數(shù)：
葉分析測量參數(shù)：葉面積 （可累計面積）、葉片面積（可累計面積）、葉子穿孔面積 （可累計面積）、葉片長度和寬度、葉柄長度、葉周長 （不受葉片孔洞影響）、葉片周長、葉片長寬比、葉片形狀系數(shù)、自定義長度和角度測量，葉片鋸齒高度、寬度、數(shù)量測量，葉孔面積測量；包膜（齒-齒之間的直線長度和），包膜形成的投影面積；不規(guī)則葉片形態(tài)分析，輔助真彩病理分析，葉片顏色分析（包括按葉片顏色自動分檔查詢，用于氮肥狀態(tài)的外觀評價）。
植物年輪測量分析：可自動判讀年輪數(shù)、各年輪平均寬度、早材及晚材寬度、各年輪切向角度和面積?？勺詣觿澐殖瞿贻嗊吔?、早材邊界、晚材邊界，以及識別出很窄的樹輪，可交互刪除偽年輪、插入斷年輪。分析獲得的測量數(shù)據(jù)具備進一步做交叉定年、生成年表、數(shù)據(jù)分析處理能力。
植物根系可分析測量：1）根總長；2）根平均直徑；3）根總面積；4）根總體積；5）根尖計數(shù)；6）分叉計數(shù)；7）交疊計數(shù)；8）根直徑等級分布參數(shù)，等。匹配專門的雙光源照明系統(tǒng)，提供高分辨率的彩色或黑白圖像，去除了陰影和不均勻現(xiàn)象的影響，有效保證圖像質(zhì)量。采用非統(tǒng)計學方法測量計算出交叉重疊部分根系長度等，可讀取處理TIFF、BMP、JPEG標準格式的圖像。
植物葉面積分析   植物葉色比對分檔
植物年輪分析1    植物年輪分析2
植物根系分析1    植物根系分析2

云飛牌*型植物圖像分析儀系統(tǒng)廠家|價格植物冠層圖像分析儀用于各種高度植物冠層的研究，利用魚眼鏡頭和CCD圖像傳感器獲取植物冠層圖像，通過分析軟件，獲得植物冠層的相關(guān)指標和參數(shù)。利用魚眼鏡頭成像測量植物冠層數(shù)據(jù)，只操作一次即可，簡化了傳統(tǒng)測量方法要一天定點多次測量的繁復工作，而且利用圖像法測量冠層可以主動避開不符合計算該冠層結(jié)構(gòu)參數(shù)的冠層空隙部分，也可以躲開不符合測量計算的障礙物。

植物冠層圖象分析儀廣泛適用于農(nóng)業(yè)、園藝、林業(yè)領(lǐng)域有關(guān)栽培、育種、 植物群體對比與發(fā)展的研究與教學中農(nóng)作物、果樹、森林內(nèi)冠層受光狀況的測量和分析。能測算植物冠層的太陽直射光透過率、天空散射光透過率、冠層的消光系數(shù)，葉面積指數(shù)和葉片平均傾角等。植物冠層圖象分析儀廣泛適用于農(nóng)業(yè)、園藝、林業(yè)領(lǐng)域有關(guān)栽培、育種、 植物群體對比與發(fā)展的研究與教學中農(nóng)作物、果樹、森林內(nèi)冠層受光狀況的測量和分析。能測算植物冠層的太陽直射光透過率、天空散射光透過率、冠層的消光系數(shù)，葉面積指數(shù)和葉片平均傾角等。