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電腦型熔點測定儀 XPH-200E
一、用途
XPH-200系列偏光顯微鏡是利用光的偏振特性對具有雙折射性物質(zhì)進行研究鑒定的*儀器。偏光顯微鏡在衛(wèi)生部門上有廣泛的用途，如觀察齒、骨、頭發(fā)及活細胞等的結(jié)晶內(nèi)含物，神經(jīng)纖維、動物肌肉、植物纖維等的結(jié)構(gòu)細節(jié)，分析病變過程，偏光顯微鏡也可以觀察無機化學(xué)中各種鹽類的結(jié)晶狀況。偏光熱臺系統(tǒng)可供廣大用戶通過偏光來觀察物體在加熱狀態(tài)下的形變、色變及物體的三態(tài)轉(zhuǎn)化。
二、技術(shù)參數(shù)：
1.目鏡：
類 別 | 放大倍數(shù) | 視場（mm） |
目鏡 | 6X | φ22 |
10X | φ18 | |
15X | φ11 |
電腦型熔點測定儀 XPH-200E
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