目錄:北京中恒日鑫科技有限公司>>實(shí)驗(yàn)室儀器設(shè)備>> 電腦型熔點(diǎn)測定儀XPH-200E
電腦型熔點(diǎn)測定儀XPH-200E
一、用途
XPH-200系列偏光顯微鏡是利用光的偏振特性對具有雙折射性物質(zhì)進(jìn)行研究鑒定的*儀器。偏光顯微鏡在衛(wèi)生部門上有廣泛的用途，如觀察齒、骨、頭發(fā)及活細(xì)胞等的結(jié)晶內(nèi)含物，神經(jīng)纖維、動(dòng)物肌肉、植物纖維等的結(jié)構(gòu)細(xì)節(jié)，分析病變過程，偏光顯微鏡也可以觀察無機(jī)化學(xué)中各種鹽類的結(jié)晶狀況。偏光熱臺(tái)系統(tǒng)可供廣大用戶通過偏光來觀察物體在加熱狀態(tài)下的形變、色變及物體的三態(tài)轉(zhuǎn)化。
二、電腦型熔點(diǎn)測定儀XPH-200E 技術(shù)參數(shù)：
1.目鏡：
類 別 | 放大倍數(shù) | 視場（mm） |
目鏡 | 6X | φ22 |
10X | φ18 | |
15X | φ11 |
(空格分隔,最多3個(gè),單個(gè)標(biāo)簽最多10個(gè)字符)
員.png)
10
化工儀器網(wǎng)