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【簡單介紹】超聲波測厚儀性價(jià)比好的雙探頭涂層測厚儀TT260A|代替時(shí)代TT260磁性非磁性物體都可以測量跟時(shí)代TT260相比少了一個(gè)打印機(jī) 但是多了一個(gè)自帶的數(shù)據(jù)線和軟件可以連接電腦打印出來其他功能是一樣的但是價(jià)格要比時(shí)代的好。

【詳細(xì)說明】

時(shí)代恒宇測厚儀涂層測厚儀 TT260A雙探頭涂層測厚儀磁性非磁性都可測

簡單介紹

超聲波測厚儀性價(jià)比好的雙探頭涂層測厚儀TT260A|代替時(shí)代TT260磁性非磁性物體都可以測量跟時(shí)代TT260相比少了一個(gè)打印機(jī) 但是多了一個(gè)自帶的數(shù)據(jù)線和軟件可以連接電腦打印出來其他功能是一樣的但是價(jià)格要比時(shí)代的好。

超聲波測厚儀性價(jià)比好的雙探頭涂層測厚儀TT260A|代替時(shí)代TT260磁性非磁性物體都可以測量的詳細(xì)介紹

超聲波測厚儀性價(jià)比好的雙探頭涂層測厚儀TT260A|代替時(shí)代TT260磁性非磁性物體都可以測量TT260A涂層測厚儀采用了磁性和渦流兩種測厚方法，可無損地測量磁性金屬基體(如鋼、鐵、合金和硬磁性鋼等)上非磁性覆蓋層的厚度(如鉻、鋅、銅、鋁、琺瑯、橡膠、油漆等)及非磁性金屬基體(如銅、鋁、鋅、錫等)上非導(dǎo)電覆蓋層的厚度(如:琺瑯、橡膠、油漆、塑料等)。

●磁性法(F型測頭)當(dāng)測頭與覆蓋層接觸時(shí)，測頭和磁性金屬基體構(gòu)成一閉合磁路，由于非磁性覆蓋層的存在，使磁路磁阻變化，通過測量其變化可導(dǎo)出覆蓋層的厚度。

●渦流法(N型測頭)利用高頻交變電流在線圈中產(chǎn)生一個(gè)電磁場，當(dāng)測頭與覆蓋層接觸時(shí)，金屬基體上產(chǎn)生電渦流，并對測頭中的線圈產(chǎn)生反饋?zhàn)饔茫ㄟ^測量反饋?zhàn)饔玫拇笮】蓪?dǎo)出覆蓋層的厚度。

TT260A涂層測厚儀符合以下標(biāo)準(zhǔn)

GB/T 4956─1985磁性金屬基體上非磁性覆蓋層厚度測量磁性方法

GB/T 4957─1985非磁性金屬基體上非導(dǎo)電覆蓋層厚度測量渦流方法

JB/T 8393─1996磁性和渦流式覆層厚度測量儀

JJG 889─95《磁阻法測厚儀》

JJG 818─93《電渦流式測厚儀》

TT260A涂層測厚儀特點(diǎn)：

◎采用了磁性和渦流兩種測厚方法，即可測量磁性金屬基體上非磁性覆蓋層的厚度又可測量非磁性金屬基體上非導(dǎo)電覆蓋層的厚度；

◎可使用10種測頭(F400、F1、F1/90°、F5、F10、N400、N1、N1/90°、CN02、N10)；

◎具有兩種測量方式：連續(xù)測量方式（CONTINUE）和單次測量方式（SINGLE）；

◎具有兩種工作方式：直接方式(DIRECT)和成組方式(A-B)；

◎設(shè)有五個(gè)統(tǒng)計(jì)量：平均值（MEAN）、zui大值（MAX）、zui小值（MIN）、測試次數(shù)（NO．）、標(biāo)準(zhǔn)偏差（S．DEV）；

◎可采用單點(diǎn)校準(zhǔn)和兩點(diǎn)校準(zhǔn)兩種方法對儀器進(jìn)行校準(zhǔn)，并可用基本校準(zhǔn)法對測頭的系統(tǒng)誤差進(jìn)行修正；

◎具有存貯功能：可存貯495個(gè)測量值；

◎具有刪除功能：對測量中出現(xiàn)的單個(gè)可疑數(shù)據(jù)進(jìn)行刪除，也可刪除存貯區(qū)內(nèi)的所有數(shù)據(jù)，以便進(jìn)行新的測量；

◎可設(shè)置限界：對限界外的測量值能自動報(bào)警；

◎具有電源欠壓指示功能；

◎操作過程有蜂鳴聲提示；

◎具有錯(cuò)誤提示功能，通過屏顯或蜂鳴聲進(jìn)行錯(cuò)誤提示；

◎設(shè)有兩種關(guān)機(jī)方式：手動關(guān)機(jī)方式和自動關(guān)機(jī)方式；

探頭技術(shù)參數(shù)

測頭型號		F400	F1		F1/90	F10	N1	CN02
工作原理		磁感應(yīng)					電渦流
測量范圍（um）		0-400	0-1250			0-10000	0-1250(銅上鍍鉻0-40um)		10-200
低限分辨力(um)		0.1	0.1			10	0.1		1
示值誤差	一點(diǎn)校準(zhǔn)(um)	±[3%H+1]				±[3%H+10]	±[3%H+1.5]		±[3%H+1]
	兩點(diǎn)校準(zhǔn)(um)	±[(1-3)%H+0.7]		±[(1～3)%H+1]		±[(1～3)%H+10]	±[(1～3)%H+1.5]		-
測量條件	zui小曲率半徑(mm)	凸1		凸1.5	平直	10	3		平直
	基體zui小面積的直徑(mm)	ф3		ф7	ф7	ф40	ф5		ф7
	zui小臨界厚度(mm)	0.2		0.5	0.5	2	0.3		無限制

測頭選用參考表

覆蓋層		有機(jī)材料等非磁性覆蓋層(如:漆料、涂漆、琺瑯、搪瓷、塑料和陽極化處理等)			非磁性的有色金屬覆蓋層(如:鉻、鋅、鋁、銅、錫、銀等)
基體		覆蓋層厚度不超過100μm		覆蓋層厚度超過100μm	覆蓋層厚度不超過100μm	覆蓋層厚度超過100μm
如鐵、鋼	被測面積的直徑大于30mm	F400型測頭 0～400μm		F1型測頭 0～1250μm	F400型測頭0～400μm	F1型測頭 0～1250μm
等磁性金屬		F1型測頭 0～1250μm		F10型測頭 0～10mm	F1型測頭0～1250μm	F10型測頭 0～10mm
	被測面積的直徑小于30mm	F400型測頭 0～400μm		F400型測頭0～400μm	F400型測頭0～400μm	F400型測頭 0～400μm
				F1型測頭 0～1250μm		F1型測頭 0～1250μm
如銅、鋁、	被測面積的直徑大于5mm	N1型測頭0～1250μm			僅用于銅上鍍鉻N1型測頭0～40μm
黃銅、鋅、錫
等有色金屬
塑料、印刷線路非金屬基體	被測面積的直徑大于7mm	-	-		CN02型測頭10～200μm

標(biāo)準(zhǔn)配置：

主機(jī)1臺F1或N1測頭1支,校準(zhǔn)標(biāo)準(zhǔn)片1套（含試片5片，基體1塊）,電池2節(jié),通訊電纜1根,