產(chǎn)品分類品牌分類
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熒光燈管生產(chǎn)老化實驗設(shè)備 人工光源的老化試驗機(jī) 觸摸屏UV測試箱 uv紫外光輻照度老化箱 光照 燈管 UV 冷凝箱 紫外線檢測試驗機(jī) 模擬陽光模擬試驗箱 深圳老化箱 uv能量測試儀 染料耐光耐氣候試驗箱 紫外線熱老化箱 化工耐候測試設(shè)備 紫外線碳素電弧燈實驗箱 UV照射燈試驗箱 熒光紫外燈控溫供濕箱 紫外線燈管耐候設(shè)備 紫外加速試驗箱 紫外線強(qiáng)度檢測儀 紫外光耐候箱 UV老化機(jī) UV耐候測試儀 紫外線uv燈 uv試驗輻照度箱 橡膠支座老化試驗箱 氣候耐環(huán)境試驗箱 紫外光照試驗機(jī) 紫外線老化測試儀 UV紫外老化試驗箱 三功能紫外線加速老化試驗箱 二功能紫外線加速老化試驗箱 單功能紫外線加速老化試驗箱
產(chǎn)品簡介
·箱體通常由圍護(hù)結(jié)構(gòu)、風(fēng)道系統(tǒng)、控制系統(tǒng)、室內(nèi)測試架構(gòu)等組成。
·箱體的外殼采用冷軋鋼板靜電噴塑,內(nèi)膽采用優(yōu)質(zhì)SUS304B不銹鋼板,
·箱體結(jié)構(gòu)一般采用保溫板(雙面彩色鋼板,中間加保溫材料)在現(xiàn)場拼裝而成, 房間尺寸均根據(jù)客戶要求設(shè)計,
詳細(xì)介紹
步入式恒溫恒濕室北京 生產(chǎn)步入式恒溫恒濕室的廠家 國產(chǎn)步入式恒溫恒濕室有哪些?產(chǎn)品特點
美工設(shè)計
·箱體通常由圍護(hù)結(jié)構(gòu)、風(fēng)道系統(tǒng)、控制系統(tǒng)、室內(nèi)測試架構(gòu)等組成。
·箱體的外殼采用冷軋鋼板靜電噴塑,內(nèi)膽采用優(yōu)質(zhì)SUS304B不銹鋼板,
·箱體結(jié)構(gòu)一般采用保溫板(雙面彩色鋼板,中間加保溫材料)在現(xiàn)場拼裝而成, 房間尺寸均根據(jù)客戶要求設(shè)計,
·整個房間外表美觀,結(jié)構(gòu)牢固,同時安裝方便快捷,施工期短,
·在房間墻上,根據(jù)需要可設(shè)置觀察窗,方便在室外觀察到室內(nèi)產(chǎn)品測試情況。
·本設(shè)備具有合理的風(fēng)道循環(huán)系統(tǒng),使得箱體內(nèi)溫度達(dá)到zui高均勻性。
步入式恒溫恒濕室北京 生產(chǎn)步入式恒溫恒濕室的廠家 國產(chǎn)步入式恒溫恒濕室有哪些?主要技術(shù)參數(shù)
工作室標(biāo)準(zhǔn)容積:0.5,1.0,2,……25,30,40立方米
溫度上限:100℃
溫度下限:-20~-70℃
溫度偏差:±2℃
溫度波動:±0.5℃
濕度范圍:30-98%R.H
濕度誤差:+2/-3%R.H
升溫時間:平均 1℃/min
降溫時間:平均 1℃/min
冷卻方式Cooling Way:
水冷控制器:中文液晶觸摸屏溫度控制器,PID控制算法
用戶程序容量:120組1200段
安全保護(hù)措施:溫度上限控制,壓縮機(jī)超壓,壓縮機(jī)超載,加熱器短路
電源:380V, 50Hz ,三相四線
材質(zhì):SUS#304
作用:程序控制溫濕度
步入式恒溫恒濕室北京 生產(chǎn)步入式恒溫恒濕室的廠家 國產(chǎn)步入式恒溫恒濕室有哪些?控制系統(tǒng)
·*真彩液晶寬屏,帶RS232 和RS485 計算機(jī)接口實行人機(jī)對話、聯(lián)機(jī)
數(shù)據(jù)傳輸及遠(yuǎn)程控制功能,
· (測 溫 體):Pt100測試傳感器(電容式),
·加熱系統(tǒng)為鎳鉻合金電加熱式加熱器,
步入式恒溫恒濕室北京 生產(chǎn)步入式恒溫恒濕室的廠家 國產(chǎn)步入式恒溫恒濕室有哪些?安全系統(tǒng)
·工作室超溫;加熱器短路,
·具備安全保護(hù)裝置及停電記憶,
·總電源相序和缺相保護(hù)
·系統(tǒng)漏電保護(hù)。
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GB/T 10592 -2008 高低溫試驗箱技術(shù)條件
GB/T 10586 -2006 濕熱試驗箱技術(shù)條件
GB/T 2423.1-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分:試驗方法 試驗A:低溫
GB/T 2423.2-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分:試驗方法試驗B:高溫
GB/T 2423.3-2006 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分:試驗方法試驗Cab:恒定濕熱試驗
GB/T 2423.4-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分:試驗方法試驗Db:交變濕熱(12h + 12h循環(huán))
GB/T 5170.1-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備檢驗方法 總則