DDCOM 用于超快速晶體取向測量

用于晶體取向測量的臺(tái)式 X射線衍射儀 (DDCOM) 是一種用于自動(dòng)測定各種晶體取向的工具。

超快速掃描方法

• 速度是Theta掃描方法的 200 倍

• 以3D形式自動(dòng)評估完整晶格取向

• 在10秒內(nèi)測定整個(gè)晶體取向

高效的質(zhì)量控制工作流程

• 用于標(biāo)準(zhǔn)研究和工業(yè)工作流程

• 晶體取向的方位設(shè)置和標(biāo)記

• 預(yù)編程的立方晶體參數(shù)

• 先進(jìn)便捷的軟件

• 精度高，可達(dá)（1/100）°

結(jié)構(gòu)緊湊、用戶友好、性價(jià)比高

• 樣品處理方便，操作簡單

• 采用風(fēng)冷 X射線光管（無需水冷），能耗和運(yùn)行成本低

控制切割、研磨和拋光

• 單晶的完整晶格取向

• 適用于不同尺寸和重量的各種材料，例如：2-12“的晶圓和重達(dá)20kg的鑄錠