Omega/Theta XRD 用于超快速晶體定向和搖擺曲線測量

10秒內(nèi)完成晶體取向測定

Omega/Theta XRD為測定晶面取向提供了良好的綜合精度和速度。Omega/Theta XRD可在短短 10 秒內(nèi)返回結(jié)果，具有從條形碼閱讀器到晶體堆疊支架的許多工藝附件，可容納重量達30kg、長度達 450mm 的一系列樣品。它是將測量好的取向轉(zhuǎn)移到加工工具的可靠合作伙伴。

精度：在偏角幅度和面內(nèi)方向上達到＜0.003°/＜0.03°的精度（1σ）

• 10秒內(nèi)完成晶體取向測定

• 以3D形式自動評估完整晶格取向

用于研究和生產(chǎn)質(zhì)量的控制

• 晶體取向的方位設置和標記

• 提供多種附件用于將取向轉(zhuǎn)移到其他工藝步驟

• 通過測角儀實現(xiàn)未知樣品的的掃描和定向

• 可使用搖擺曲線測量進行晶體質(zhì)量評估

用戶友好、性價比高

• 樣品處理方便，操作簡單

• 用戶友好的高級軟件

• 能耗和運行成本低

模塊化設計和靈活性

• 通過各種升級選項滿足未來需求

• 根據(jù)客戶要求為特殊應用定制的解決方案

• 平邊和 V 槽的光學測量