日本TECLOCK得樂外測卡規(guī)GM-3
游標(biāo)卡規(guī)
外盤游標(biāo)卡尺
和大型工件與厚度測量被認(rèn)為是困難的,外尺寸,例如變體產(chǎn)物可以直接測量。
形狀,請(qǐng)根據(jù)測量深度進(jìn)行選擇。
定制生產(chǎn)也是可能的。
產(chǎn)品簡介
詳細(xì)介紹
日本TECLOCK得樂外測卡規(guī)GM-3
游標(biāo)卡規(guī)
外盤游標(biāo)卡尺
和大型工件與厚度測量被認(rèn)為是困難的,外尺寸,例如變體產(chǎn)物可以直接測量。
形狀,請(qǐng)根據(jù)測量深度進(jìn)行選擇。
定制生產(chǎn)也是可能的。