銅箔測(cè)厚儀是一種專門用于測(cè)量金屬材料中厚度的設(shè)備。它能夠通過精密的傳感器來測(cè)量銅箔的厚度,并將數(shù)據(jù)輸出到計(jì)算機(jī)系統(tǒng)上進(jìn)行分析處理。這些數(shù)據(jù)就可以用來確定銅箔的厚度是否符合相關(guān)的標(biāo)準(zhǔn)要求。此外,銅箔厚度測(cè)量?jī)x還具有精度高、速度快、操作簡(jiǎn)單等諸多特點(diǎn),大大提高了生產(chǎn)效率和產(chǎn)品質(zhì)量。 首先用5.5mm標(biāo)準(zhǔn)厚度塊和一塊為儀器測(cè)量上限1/2的標(biāo)準(zhǔn)厚度塊作儀器高、低兩端的示值校正。即用探頭分別測(cè)量這兩塊厚度塊,若示值與標(biāo)稱值不符,在校正低端時(shí),調(diào)整起點(diǎn)調(diào)整螺絲,校正時(shí),調(diào)整聲速微調(diào)旋鈕,邊測(cè)量邊調(diào)整,反復(fù)進(jìn)行,直到示值均與標(biāo)稱值相符為止。測(cè)量范圍細(xì)分為若干檔的儀器,其示值校正應(yīng)在每檔分別進(jìn)行。低端校正均采用各檔的測(cè)量下限,校正點(diǎn)分為:該檔測(cè)量上限小于50mm的,按測(cè)量上限校正;大于50mm的,在測(cè)量上限的1/2處校正。
校正完畢后,按規(guī)定的受檢點(diǎn)檢定儀器的示值誤差,檢定時(shí),將探頭放置在標(biāo)準(zhǔn)厚度塊的中心位置上連續(xù)測(cè)量三次,取算術(shù)平均值作為儀器在該點(diǎn)的示值。