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微先鋒鍍層測厚儀的功能分析
Micro Pioneer XRF-2000R X光鍍層測厚儀及ROHS元素分析儀是在XRF-2000系列測厚儀的基礎(chǔ)上增加了元素分析及有害物質(zhì)檢測的功能，其物點為：高分辨率，固態(tài)探測器。主要應(yīng)用測量鍍金、涂層、薄膜、元素的成分或者是厚度，其可偵測元素的范圍：Ti(22)~U(92 )。 自動過濾器，多準直儀(五個準直器，從0.1mm-3.0mm)和全自動XYZ移動樣品臺；性價比*的元素分析及鍍層測厚雙功能分析儀器
微先鋒鍍層測厚儀的功能：
1.相容Microsoft微軟作業(yè)系統(tǒng)之測量軟體，操作方便，直接可用Office軟體編輯報告。
2.標準ROI軟體搭配內(nèi)建多種專業(yè)報告格式，亦可將數(shù)據(jù)、圖形、統(tǒng)計等作成完整報告。
3.可測量高達六層的鍍層(五層厚度底材) 并可同時分析多種元素。
4.移動方式：全系列全自動載臺電動控制，減少人為視差。
5.全系列*設(shè)計樣品與光徑自動對準系統(tǒng)。
6.非破壞，非接觸式檢測分析，快速精準。
7.準直器口徑多種選擇，可根據(jù)樣品大小來選擇準值器的口徑。