紅外測溫儀

主要特點:HDIR-1D型紅外測溫儀是一種非接觸溫度測量儀表，由紅外探頭和信號處理模塊兩部分組成，信號處理模塊采用儀表柜常用的模塊化道軌固定方式，使安裝更靈活方便。                                            
測溫范圍：700～1600℃                                                         
工作環(huán)境：－10～70℃，相對濕度≤85% 
測量精度：±1%          
工作波段：0.4～1.1μm                                                                                      
距離系數(shù)：70:1                      
輻射系數(shù)：0.001～1.000                  
模擬輸出：4～20mA                
通    訊：RS485，MODBUS協(xié)議 
電    源：DC 24V               
功    率：≤3W    

產(chǎn)品名稱：放射性污染測量儀 核輻射污染檢測儀 產(chǎn)品型號：mu-I

放射性污染測量儀 核輻射污染檢測儀 型號：mu-I

適用性  
   mu-I放射性表面污染測量儀采用半導體探測器，適用于低水平α、β輻射表面污染檢測和環(huán)境X、γ輻射監(jiān)測。具有良好的探測效率、較高的可靠性和方便的操作特性。精巧的設(shè)計使同一探頭能同時區(qū)分測量α、β粒子，并可即時用于環(huán)境X、γ輻射劑量水平測量。該儀器采用單片機控制，可連續(xù)進行測量數(shù)據(jù)的記錄存儲，并由計算機通訊獲取。該設(shè)備可用于環(huán)境放射性監(jiān)測、核醫(yī)學、核電站、核燃料生產(chǎn)、運輸、儲存和商檢等諸多領(lǐng)域。儀器控制功能還有：本底測量定時選擇、污染測量定時選擇、報警閾值設(shè)置、數(shù)據(jù)通訊選擇、聲音控制、背光控制、模擬條碼顯示、電池欠壓指示等。  
▉主要技術(shù)指標  
探測器●半導體探測器 
探頭靈敏窗面積●Ia型3.14cm2和Ib型19.6cm2可選;  
探頭端口邊緣至靈敏窗Z小距離●4.5mm;  
探頭窗鋁膜質(zhì)量厚度●＜1.1mg/ cm2;  
儀器效率●ηα≥24%（239Pu，距窗表面4.5mm ）；ηβ≥30% 
儀器本底●Ia型：α＜0.5cpm; β≤20 cpm； 
●Ib型: α＜3cpm; β≤100 cpm； 
計數(shù)量程●α、β計數(shù)率0.1～99999cpm；  
X、γ輻射測量范圍●0.01μSv/h～100mSv/h,相對誤差：≤±15%； 
報警設(shè)置●α：1～200cpm，β：20～2000cpm，步長1，連續(xù)可調(diào)； 
電 源●內(nèi)置可充電鋰電池，一次充電可持續(xù)工作時間≥7天； 
工作環(huán)境特性●溫度-20℃～50℃，相對濕度RH≤90%（@30℃）； 
尺寸/重 量<●主機：190×93×48;探頭：Φ33×150；總重：730g。

產(chǎn)品名稱：單角度光澤度測量儀 產(chǎn)品型號：WG60  單角度光澤度測量儀 型號：WG60 型號WG60  量程0-200Gu  測量范圍適用于涂料、油墨、烤漆、涂料、木制品、大理石、花崗巖、陶瓷磚、塑料、紙張等等金屬材料的表面鏡向光澤度測量。  尺寸122x34x60mm  投射角度60°   測量光斑(橢圓: 長軸*短軸) 9mm X 15mm  測量模式自動測量、手動測量、單次測量、平均測量，并能實現(xiàn)交叉設(shè)置進行測量，提供多種組合的測量模式。  數(shù)據(jù)存儲100 組.可將已存儲的任意數(shù)據(jù)設(shè)置為標樣，自定義容差范圍  語言中文/English  輸出可連接微型打印機，實現(xiàn)測量數(shù)據(jù)的實時輸出  測量時間0.4S  分度值0.1Gu  重復(fù)性0.2Gu  重現(xiàn)性0.4Gu  示值誤差1.0Gu  標準ISO-2813、ASTM-C584、ASTM-D523、DIN-67530、ASTM-D2457、JND-A60、JND-P60  國內(nèi)標準GB 9754、GB 9966、GB 8807  標準附件電源適配器、說明書、保修卡合格證、校準板  選購配件微型打印機