DM1230 X熒光鋁硅分析儀

與鈣鐵分析儀同時(shí)使用、

實(shí)現(xiàn)生料配料的率值控制

以不到一半的投資實(shí)現(xiàn)

X熒光多元素分析儀的功能

采用

能量色散X射線熒光(EDXRF)分析技術(shù)

本公司專有的分譜技術(shù)、次級(jí)濾光片、

超薄鈹窗正比計(jì)數(shù)管、特殊的光路系統(tǒng)

符合標(biāo)準(zhǔn)GB/T176 JB/T11145 JC/T1085

概述

DM1230 X熒光鋁硅分析儀是本公司集數(shù)十年X熒光分析儀的研究經(jīng)驗(yàn)，在公司原有的DM系列鈣鐵分析儀、X熒光多元素分析儀等的基礎(chǔ)上研制推出的分析儀器。它采用能量色散X射線熒光(EDXRF)分析技術(shù)，薄鈹窗充氣正比計(jì)數(shù)管、次級(jí)濾光片、特殊的光路系統(tǒng)、硬質(zhì)樣品比例法和本公司專有的分譜技術(shù)，從而使小型儀器也能準(zhǔn)確測(cè)量相鄰的輕元素(如水泥生料中的Al、Si)，其測(cè)量準(zhǔn)確度達(dá)到進(jìn)口同類儀器的水平。其符合國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)GB/T 176—2017《水泥化學(xué)分析方法》的相關(guān)要求，符合行業(yè)標(biāo)準(zhǔn)JC/T1085—2008《水泥用X射線熒光分析儀》，符合行業(yè)標(biāo)準(zhǔn)JB/T11145—2011《X射線熒光光譜儀》。只要壓個(gè)片就能在5分鐘內(nèi)測(cè)出生料、熟料或水泥中Al2O3、SiO2的濃度。

目前國(guó)內(nèi)大多數(shù)水泥企業(yè)已使用X熒光鈣鐵分析儀來(lái)測(cè)量生料等物料中CaO、Fe2O3的含量，但Al2O3、SiO2含量的測(cè)量卻很少是用X熒光分析儀的，而Al2O3、SiO2含量的即時(shí)準(zhǔn)確得到與CaO、Fe2O3對(duì)水泥生產(chǎn)的質(zhì)量控制同樣重要，只有同時(shí)即時(shí)準(zhǔn)確得到這四個(gè)氧化物的含量才能真正實(shí)現(xiàn)生料的率值控制。當(dāng)本儀器與本公司的鈣鐵分析儀一起使用時(shí)可用同一個(gè)樣品，且由于按本儀器要求制備出的樣品比按鈣鐵分析儀要求的好，所以還能提高CaO、Fe2O3的含量測(cè)量準(zhǔn)確度，與DM2100型X熒光多元素分析儀相比，雖然使用麻煩了一點(diǎn)，但價(jià)格不到一半，且由于結(jié)構(gòu)簡(jiǎn)單可靠性更高了。

DM1230 X熒光鋁硅分析儀的2021款除保持了原有DM1230的優(yōu)點(diǎn)外,還進(jìn)行了以下重大改進(jìn)：

(1) 大屏幕彩色觸摸式液晶屏代替原黑白液晶屏和鍵盤(pán)，改善了用戶的操控體驗(yàn)。

(2) 新的大規(guī)模集成電路CPU代替原老的如80C31等CPU，沒(méi)有數(shù)據(jù)總線與外部設(shè)備或外部芯片直接連接，極大地提高了系統(tǒng)的可靠性，基本消滅了死機(jī)現(xiàn)象。

(3) 用貼片電路代替原立式電路，減少了電路板的面積，并能大規(guī)模機(jī)械化生產(chǎn)，極大地提高了硬件的可靠性，使儀器的返修率降到底。

(4) 用熱敏打印機(jī)代替了原來(lái)的針打印機(jī)。

(5) 用最新設(shè)計(jì)的采用CPLD，F(xiàn)PGA，DSP等技術(shù)的多道脈沖幅度分析器及可變?cè)鲆娣糯笃鞔嬖瓎蔚烂}沖幅度分析器及固定增益放大器，極大地提高了儀器的長(zhǎng)期穩(wěn)定性。

DM1230 X熒光鋁硅分析儀的2021款的推出是本公司實(shí)現(xiàn)自我超越的成果

DM1230 X熒光鋁硅分析儀 X射線探測(cè)裝置適用范圍

主要用于水泥生料、熟料、水泥和原料等物料中Al2O3、SiO2的濃度測(cè)量?？蓡螜C(jī)使用，也可聯(lián)機(jī)使用為生料配料自動(dòng)控制系統(tǒng)提供檢測(cè)訊號(hào)，形成“分析儀---微機(jī)---皮帶秤"自動(dòng)控制系統(tǒng)。

除水泥工業(yè)外，也可用于發(fā)電廠、磚瓦廠、冶金、石油、地質(zhì)礦山等部門的固體、液體和粉末樣品中Al2O3、SiO2的濃度測(cè)量。

DM1230 X熒光鋁硅分析儀 X射線探測(cè)裝置特點(diǎn)

快速同時(shí)––所需測(cè)量元素同時(shí)快速分析,一般幾分鐘給出濃度結(jié)果。

高準(zhǔn)確度––采用EDXRF技術(shù),低本底薄鈹窗正比計(jì)數(shù)管，次級(jí)濾光片。極大地提高了儀器的靈敏度和峰背比,具出色的重復(fù)性和再現(xiàn)性，準(zhǔn)確度。

向下照射––采用X射線向下照射系統(tǒng)，杜絕了樣品粉末污染損壞探測(cè)系統(tǒng)的可能，特別適合水泥生熟料等粉末樣品。

長(zhǎng)期穩(wěn)定––采用可變?cè)鲆鏀?shù)字多道，有增益調(diào)整、比率校正、偏差修正等功能，的長(zhǎng)期穩(wěn)定性。

環(huán)保節(jié)能––射線防護(hù)達(dá)豁免要求。分析時(shí)不接觸不破壞樣品，無(wú)污染，無(wú)需化學(xué)試劑，也不需要燃燒。

使用方便––觸摸屏操作。樣品粉碎壓片放入儀器后只需按[啟動(dòng)]鍵即可，真正實(shí)現(xiàn)一鍵操作。

高可靠性––一體化設(shè)計(jì)，集成化程度高，環(huán)境適應(yīng)能力強(qiáng)，抗干擾能力強(qiáng)，可靠性高。

數(shù)據(jù)傳存––可存儲(chǔ)海量數(shù)據(jù)，支持掉電后保持?jǐn)?shù)據(jù)，并可隨時(shí)查看。并可將存儲(chǔ)數(shù)據(jù)傳輸?shù)絇C機(jī)。

高性價(jià)比––無(wú)需氣體、真空、稀釋，運(yùn)行維護(hù)成本極低。價(jià)格為國(guó)外同類產(chǎn)品的一半.

校準(zhǔn)

X熒光分析方法是一種參考方法，校準(zhǔn)是為得到定量的結(jié)果所必須的。XRF光譜儀通過(guò)比較已知標(biāo)樣與未知樣的光譜強(qiáng)度來(lái)得到定量分析的結(jié)果。其某元素的濃度計(jì)算式（即校準(zhǔn)曲線）為：C＝D＋EIC＋FIC 2  

（1）式中，IC =f(I0)，I0為原始強(qiáng)度，IC為處理后強(qiáng)度，D、E、F是由校準(zhǔn)確定的系數(shù)。校準(zhǔn)的方法是：用光譜儀測(cè)量一系列校準(zhǔn)標(biāo)準(zhǔn)樣品或有證標(biāo)準(zhǔn)樣品的每種元素強(qiáng)度，利用回歸分析，例如最小二乘法，確定(1)式的系數(shù)。

用已知濃度的11個(gè)水泥生料標(biāo)準(zhǔn)樣品對(duì)光譜儀進(jìn)行校準(zhǔn)，得到的數(shù)據(jù)如表1。

表1.水泥生料標(biāo)準(zhǔn)樣品校準(zhǔn)結(jié)果數(shù)據(jù)

這些校準(zhǔn)曲線的相關(guān)系數(shù)γ均大于0.99，表示DM1230 X熒光鋁硅分析儀的線性誤差小。

重復(fù)性

對(duì)同一水泥生料樣品，進(jìn)行11次測(cè)量，得到各元素的重復(fù)性數(shù)據(jù)如表2。

表2.生料標(biāo)準(zhǔn)樣品重復(fù)性測(cè)量數(shù)據(jù)分析(%）

按國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)GB/T 176—2017《水泥化學(xué)分析方法》的重復(fù)性要求，光譜儀的重復(fù)性必須滿足：其示值標(biāo)準(zhǔn)偏差的3倍不大于GB/T176的重復(fù)性限。從表2可以看出DM1230 X熒光鋁硅分析儀可以實(shí)現(xiàn)優(yōu)異的重復(fù)性

主要技術(shù)指標(biāo)