環(huán)境測試儀器: 流量計氣溶膠發(fā)生器聲校準器/噪聲監(jiān)測系統(tǒng) 溫濕度傳感器煙氣分析儀溫濕度記錄儀電磁輻射分析儀激光塵埃粒子計數(shù)器柯尼卡美能達T-10照度計日本新宇宙氣體檢測儀維薩拉露點儀氣體檢測儀/測量儀照度計風速儀粉塵儀差壓計露點儀水分儀溫濕度計噪音計/聲級計/噪聲分析儀風量罩/風量儀浮游菌采樣器

設(shè)備診斷儀器: FLIR紅外熱像儀德圖testo紅外熱像儀福祿克過程校驗儀福祿克紅外熱像儀美國蒙拿多頻閃儀測距儀測振儀轉(zhuǎn)速表粘度計附著力測試儀爐溫儀紅外線測溫儀

電工測試儀器: 接地電阻測試儀電能質(zhì)量測試工具電阻計電池測試儀無紙記錄儀絕緣電阻測試儀 LCR測試儀

電子測試儀器: 信號發(fā)生器頻譜分析儀毫歐表高斯計相序表示波器鉗形表萬用表功率計

力學檢測儀器: 數(shù)顯測力計扭力測試儀張力計

水質(zhì)分析儀器: 水分測定儀鹽度-鈉度pNa測定儀 PH-ORP-ISE測定儀滴定分析儀水質(zhì)多參數(shù)測定儀磁力攪拌器余氯/總氯測定儀離子濃度測定儀 BOD/COD測定儀色度儀/比色儀濁度儀溶解氧測定儀電導率儀酸度計/PH計

紫外線燈: 紫外線觀察箱手持式紫外線燈紫外線燈防護品高強度紫外線燈紫外線殺菌燈紫外線燈泡

物理光學儀器: 葉綠素儀阿貝折射儀折射儀光源箱光澤度儀分光測色儀色差儀

光纖通訊儀表: 網(wǎng)絡(luò)測試儀光纖切割刀光纖熔接機光源/紅光源光功率計

其他儀器儀表: 日本愛拓濃度計

DUALSCOPE® MP0 中文操作手冊

時間：2015/6/9閱讀：2099

DUALSCOPE? MP0 中文操作手冊

1 開 / 關(guān)儀器

說明：儀器沒有專門的開關(guān)。

打開儀器

- 當儀器放在工件上時自動開啟。如果儀器放在非鐵磁性或不導電材料上，顯示屏會顯示“Er6"，然后顯示四個水平短線而不顯示任何讀數(shù)。
- 另一種開機方法是按 [OK]鍵。

請注意!

不要通過手指壓迫傳感器來開啟儀器！這樣可能會導致錯誤的測量結(jié)果。

關(guān)閉儀器 / 自動關(guān)閉

一分鐘不使用，儀器會自動關(guān)閉。（關(guān)閉 = 儀器沒有任何顯示）。

2 測量涂鍍層厚度

儀器開啟后，把儀器放在要測量工件上，等待儀器發(fā)出測量聲響。這種方式可以自動開啟儀器。
把儀器提離工件。
測量聲響后顯示讀數(shù)。說明：若太早提起儀器(未有聲響前)，錯誤信息 “Er6"會出現(xiàn)。重復步驟1。

3. 當儀器已在開啟狀態(tài)時，讀數(shù)會馬上顯示。儀器放在測量工件上及提起后均有顯示。

用 MP0 測量

3 顯示儀器內(nèi)儲存的測量數(shù)據(jù)

儀器zui多可以儲存999個測量數(shù)據(jù)。

用 [5]鍵或 [6]鍵可翻看測量數(shù)據(jù)。
翻過*個或者zui后一個測量數(shù)據(jù)后，屏幕將顯示 “- - - - “并維持1秒鐘左右。
任何時候您都可以繼續(xù)測量。

4 刪除所有測量數(shù)據(jù)

按 [5] 或 [6]鍵。
按 [CAL]鍵。
“del" 即刪除將顯示 2 秒鐘。
在“del"顯示的時候按[OK]鍵。
儀器內(nèi)所有測量數(shù)據(jù)將被刪除。
當 “del"不顯示的時候按 [OK]鍵將無任何反應。

5 歸一化

歸一化用來對測量儀器進行調(diào)整。歸一化需要未鍍過的底材，而且底材的形狀和物料必須和被測量的工件一致。

說明：歸一化會刪除所有的內(nèi)存數(shù)據(jù)。

歸一化儀器 (前提: 儀器處于開啟狀態(tài))

按 [CAL]鍵. 顯示 "Base" (即 “未鍍過的底材").
在底材上測量五次左右
每次測量后，會顯示當前的讀數(shù)。
按兩次[OK] 鍵.
屏幕顯示 “Er17"，忽略它。
完成歸一化程序。

6 校準

校準需要有下面幾項東西：底材（形狀和底材物料要與待測部件一致）和一片標準片(儀器隨機的75 μm左右標準片)。 說明：校準將刪除內(nèi)存中的所有讀數(shù)。

校準儀器（前提：儀器必須打開）

按 [CAL]鍵。
顯示 "Base" (即 “未鍍過的底材")
在底材上測量五次左右.
每次測量后，會顯示當前的讀數(shù)。
按 [OK]鍵.
顯示 0.00 和 STD1 (即校準標準片 # 1).
把校準標準片放在底材上，并測量5次左右。
每次測量后，屏幕上會顯示當前讀數(shù)。
用 [5] 或 [6]鍵調(diào)整第4步的zui后一個數(shù)值至標準片的標稱值，如“75 μm"。標準片的標稱值注明在標準片上。
按 [OK]鍵。
完成校準程序. 儀器返回測量狀態(tài).

7 刪除校準資料 / 恢復初始曲線

有時，如果經(jīng)過校準后，儀器測量仍然不準確，則可以刪除校準參數(shù)。如果先前的校準程序沒有正確進行的話，就可能會發(fā)生這種情況。
在這種情況下，可以把特征曲線恢復到原始的出廠設(shè)定。

刪除儀器的校準參數(shù) （前提：儀器必須打開）

按[CAL]鍵. 屏幕上顯示"Base" (即 “底材") .
在底材上測量5次左右.
按[OK]鍵. 顯示 “STD1" (即校準標準片 # 1) .
在底材上測量1次.
屏幕將顯示0左右的讀數(shù).
用[5] 或 [6] 鍵將 STD1調(diào)整到 0.00 .
屏幕將顯示 “0.00 STD1" .
按 [OK] 鍵?；謴偷匠跏嫉奶卣髑€。
恢復完成。 儀器現(xiàn)在可以測量了。

8 服務(wù)菜單

進入服務(wù)菜單及設(shè)定方法：

按[OK]鍵10次。屏幕上顯示“157"。
用[5]鍵設(shè)定到“159"。
按[OK]。屏幕顯示 FREE。
用[5] [6]鍵選擇服務(wù)菜單編號 (只可選 # 5 到 #10)
重復按[OK]選擇菜單內(nèi)容，利用 [5]或 [6] 進行設(shè)定。
zui后按[OK]離開服務(wù)程序。

服務(wù)菜單# 5

內(nèi)容

解釋

連續(xù)測量模式

連續(xù)測量模式下：
開啟連續(xù)測量模式：訪問服務(wù)菜單 5
關(guān)閉連續(xù)測量模式：訪問服務(wù)菜單 5

注意： 測量結(jié)束后，請務(wù)必關(guān)閉連續(xù)測量模式！否則電池將耗盡 (連續(xù)測量模式下自動關(guān)機功能失效！)

(服務(wù)菜單# 1 到 4 這款型號沒有)

服務(wù)菜單# 6

內(nèi)容	解釋
顯示符號	按兩次 [OK]鍵將顯示全部符號。注：但不是所有符號MP0這款儀器都用到。

服務(wù)菜單# 7

內(nèi)容	解釋
軟件版本	顯示儀器軟件版本

服務(wù)菜單# 8

內(nèi)容	解釋
測試菜單	僅供維修使用!

服務(wù)菜單# 9

內(nèi)容	解釋
恢復到出廠設(shè)置	所有服務(wù)菜單的設(shè)置都將恢復到出廠設(shè)置。校準信息也將被刪除。

服務(wù)菜單# 10

內(nèi)容	解釋
主校準	UCAL (僅供維修使用!)

9 故障查找

信息	解釋 / 可能原因	解決方法
Er1	內(nèi)部錯誤。	進行歸零步驟。如錯誤重復出現(xiàn)，聯(lián)絡(luò)Fischer維修部。
Er4	內(nèi)存測量數(shù)據(jù)儲存滿。	刪除內(nèi)存測量數(shù)據(jù)。
Er5	無法確定底材值。	用合適的標準片校正。校正標準片至少要有實際工件涂鍍層的1/2厚(在涂層上校正時)。
信息	解釋 / 可能原因	解決方法
Er6	超出測量范圍，不能顯示讀數(shù)。原因: 涂鍍層太厚。原因: 不正確測量。原因: 歸零或校正方法有誤。	涂鍍層厚度在儀器測量范圍內(nèi)。正確測量 (例如: 在測量前或后，不要把儀器放在工件上徘徊；在測量后不要太快提起儀器)。
Er7	歸零或校正時，非正常值被認可了。 - 不正確測量標準片。 - 要求測量底材時卻測量了標準片。 - 測量有折痕的標準片。 - 測量時，儀器沒有平放在工件或標準片上。	刪除內(nèi)存數(shù)據(jù)，重新測量。重新正確歸零或校正 (例如:在測量前或后，不要把儀器放在工件上徘徊；在測量后不要太快提起儀器)。在同一工件上測量多次取其平均值歸零。更換標準片。正確測量，將儀器平放在工件或標準片上。
Er12	校正時測量標準片順序錯誤。	按正確的順序重新校正。
Er13	主校準時，標準片的間隔不在允許范圍內(nèi)。使用了錯誤的標準片。誤操作，在標準片上而不是在底材上歸零。	通知客戶服務(wù)部門。使用正確的標準片。在底材上歸零。
Er14	儀器內(nèi)部錯誤: 無法計算主校準參數(shù)。原始主校準參數(shù)被保留。	重做主校正。如果錯誤重復出現(xiàn): 客戶服務(wù)部門。
Er15	無法儲存主校準參數(shù)。探頭可能已損害。	客戶服務(wù)部門。
Er17	讀數(shù)不夠，因此無法結(jié)束一個組。	再測幾個數(shù)據(jù)，直到*組可以結(jié)束，然后產(chǎn)生一個新的統(tǒng)計值。
Er22	儀器內(nèi)部錯誤: 錯誤訪問內(nèi)存或EEPROM。	客戶服務(wù)部門。
Er28	儀器內(nèi)部錯誤: 無法計算測量數(shù)據(jù)。	客戶服務(wù)部門。

10 技術(shù)資料

儀器型號	DUALSCOPE? MP0
訂貨號	604-162
可測量的涂鍍層系統(tǒng) (測量方法)	NF, Iso/Fe 磁性鋼鐵基材上非磁性鍍層和非導電涂層的厚度(磁感應方法) 和 Iso/NF 非磁性金屬基材上非導電涂層的厚度 (電渦流方法)
測量范圍	NF,Iso/Fe 0 - 2000 μm (0 - 78 mils) Iso/NF 0 - 2000 μm (0 - 78 mils)
測量誤差以Fischer標準片為準	For applications NF, Iso/Fe 0 ... 75 μm (0 - 3 mils) ± 1.5 μm 75 ... 1000 μm (3 - 39 mils) ± 2 % 1000 ... 2000 μm (39 - 78 mils) ￡ 3 % For applications Iso/NF 0 ... 50 μm (0 - 2 mils) ± 1 μm 50 ... 1000 μm (2 - 39 mils) ± 2 % 1000 ... 2000 μm (39 - 78 mils) ￡ 3 %
重復精度以Fischer標準片為準	For applications NF, Iso/Fe 0 ... 50 μm (0 - 2 mils) ￡ 0.25 μm 50 … 2000 μm (2 - 78 mils) ￡ 0.5 % For applications Iso/NF 0 ... 100 μm (0 - 4 mils) ￡ 0.5 μm 100 … 2000 μm (4 - 78 mils) ￡ 0.5 %
重量	85 g (2.73 oz) (不含電池); 135 g (4.34 oz) (含電池)
尺寸	W x D x H: 64 mm x 30 mm x 85 mm (2.5" x 1.2" x 3.4")
電源	2 x battery LR6.AA 1.5 V
功耗	Max. 0.2 Watt
環(huán)境溫度	操作溫度5° ... 40°C (41° – 104°F) ; 儲存溫度: 5°... 60°C (41° – 140°F)
相對濕度	30 ... 90 % (無凝水)
測量數(shù)據(jù)內(nèi)存	zui多999個測量讀數(shù) 即使沒有電池，內(nèi)存中的數(shù)據(jù)也能保存
zui小測量間隔	2 秒

11 儀器及附件的訂貨資料

項目 訂貨號

DUALSCOPEò MP0 604-162

電池 MP0R 2x LR6.AA 1.5 V 603-534

掛帶 MP0R 603-481

探頭保護罩MP0R 603-582

塑料校準標準片 75 μm MP0R 603-479

Al-基材 MP0R 603-478

Fe-基材 MP0R 603-477

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深圳市歐亞精密儀器有限公司