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當(dāng)前位置:蘇州日井精密儀器有限公司>>光譜儀>>X熒光光譜儀>> RIJ-606BROHS無(wú)鹵分析光譜儀
參 考 價(jià) | 面議 |
產(chǎn)品型號(hào)RIJ-606B
品 牌其他品牌
廠商性質(zhì)生產(chǎn)商
所 在 地蘇州市
更新時(shí)間:2023-05-08 14:39:04瀏覽次數(shù):902次
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ROHS無(wú)鹵分析光譜儀
蘇州日井精密儀器,于2007年在華東區(qū)注冊(cè)成立蘇州日井精密儀器有限公司,多年來(lái)一直是從事精密量測(cè)儀器銷售及配套售后維修服務(wù)為一體的精密儀器公司。
產(chǎn)品介紹:
1.采用美國(guó)Amptek SDD高靈敏度探測(cè)器,分辨率高,探測(cè)范圍廣,涵蓋RoHS、鹵素、鍍層、合金(含貴金屬)及各種常規(guī)材料分析的基本要求。
2.配置良好的DPP數(shù)字多道信號(hào)集成處理器,比普通模擬多道信號(hào)處理器性能佳,尤其在高計(jì)數(shù)率時(shí)分辨率高(如Hg和CI等),高達(dá)80MHz的數(shù)據(jù)傳輸速度使分析時(shí)間變短,尤其在測(cè)量重復(fù)性和長(zhǎng)期穩(wěn)定性上有提高。
3.內(nèi)置高清攝像系統(tǒng),清晰觀察樣品,準(zhǔn)確定位樣品測(cè)試區(qū)域。
4.配套FP測(cè)量軟件,集成多種譜圖處理算法和基體校正算法,有效降低儀器測(cè)量中的各種干擾譜峰,使低含量和痕量元素的檢測(cè)結(jié)果趨近準(zhǔn)確,更加接近真值水平。
分析原理 | 能量色散X射線熒光分析法 | |
分析元素 | 鉛(Pb)、汞(Hg)、鎘(Cd)、鉻(Cr)、氯(Cl)、溴(Br),其中氯(Cl)僅作為定性測(cè)定分析。 | |
工作條件 | 工作溫度:10-30℃ | |
相對(duì)濕度:≤70% | ||
電 源:AC 220 V±10 %、50/60 Hz | ||
測(cè)定條件:大氣環(huán)境 | ||
技術(shù)指標(biāo) | 檢出下限:Cd/Cr/Hg/Br/Pb≦2 ppm | |
儀器均質(zhì)材料測(cè)試可靠性要求:20ppm以下50%以內(nèi),20ppm以上30%以內(nèi) | ||
測(cè)試樣品時(shí)間:30-900秒可調(diào) | ||
BXR 606B | 1ppm-99.99% | |
樣品類型:塑膠/金屬/薄膜/粉末/液體 | ||
X射線管:靶材/Mo 管電壓/5~45kV 管電流/最大1~1000 μA | ||
照射直徑:2、5、8mm | ||
濾光片:新型濾光片自動(dòng)選擇 | ||
樣品觀察:USB 2.0界面 30倍130萬(wàn)像素彩色CCD攝像機(jī) | ||
定量分析:理論Alpha系數(shù)法(NBS-GSC法) | ||
功率:0.35kW | ||
重量:50Kg | ||
外形尺寸:550(W)×450(D)×450(H)mm | ||
BXR 606B | 美國(guó)Amptek SDD高靈敏度探測(cè)器 | |
鎢(W)靶特殊防輻射處理X光光管 | ||
美國(guó)Spellman高壓電源(RSD<0.25%) | ||
全封閉鉛板雙樣品蓋 | ||
高精密CCD攝像機(jī)(130萬(wàn)像素) | ||
Alpha系數(shù)法(NBS-GSC法)定量軟件 | ||
測(cè)試用樣品杯1個(gè),測(cè)試用塑料薄膜數(shù)張 | ||
歐盟EC681標(biāo)樣一片、銀校正標(biāo)樣一片 |
ROHS無(wú)鹵分析光譜儀
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