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點(diǎn)擊次數(shù)：1844 發(fā)布時(shí)間：2017-9-8

溫度試驗(yàn)是質(zhì)量與可靠性工程師經(jīng)常開(kāi)展的環(huán)境試驗(yàn)，但要真正做好溫度試驗(yàn)，需要掌握的知識(shí)內(nèi)容很多，東莞市賽思檢測(cè)設(shè)備有限公司介紹溫度試驗(yàn)主要知識(shí)點(diǎn)，供學(xué)習(xí)參考。
溫度對(duì)試件的影響 
溫度相關(guān)試驗(yàn)是環(huán)境試驗(yàn)入門(mén)，包括高溫試驗(yàn)、低溫試驗(yàn)、溫度變化試驗(yàn)。高低溫試驗(yàn)主要驗(yàn)證產(chǎn)品在極值溫度條件下是否發(fā)生變形或功能影響，是否可以正常運(yùn)作。溫度變化試驗(yàn)主要測(cè)試產(chǎn)品反復(fù)承受溫度極值的耐受力。 
高溫條件下試件的失效模式
產(chǎn)品所使用零件、材料在高溫時(shí)可能發(fā)生軟化、效能降低、特性改變、潛在破壞、氧化等現(xiàn)象。 
高溫環(huán)境對(duì)設(shè)備的主要影響有：
a. 填充物和密封條軟化或融化； 
b. 潤(rùn)滑劑粘度降低，揮發(fā)加快，潤(rùn)滑作用減??； 
c. 電子電路穩(wěn)定性下降，絕緣損壞； 
d. 加速高分子材料和絕緣材料老化，包括氧化、開(kāi)裂、化學(xué)反應(yīng)等；
e. 材料膨脹造成機(jī)械應(yīng)力增大或磨損增大。
低溫條件下試件的失效模式
產(chǎn)品所使用零件、材料在低溫時(shí)可能發(fā)生龜裂、脆化、可動(dòng)部卡死、特性改變等現(xiàn)象。 
低溫環(huán)境對(duì)設(shè)備的主要影響有：
 a. 使材料發(fā)硬變脆；
 b. 潤(rùn)滑劑粘度增加，流動(dòng)能力降低，潤(rùn)滑作用減??；
 c. 電子元器件性能發(fā)生變化；
 d. 水冷凝結(jié)冰；
 e. 密封件失效；
 f. 材料收縮造成機(jī)械結(jié)構(gòu)變化。
溫度變化條件下試件的失效模式
 產(chǎn)品所使用零件、材料在溫度劇烈變化時(shí)可能發(fā)生機(jī)械故障、開(kāi)裂、密封損壞、泄漏等現(xiàn)象。 
溫度劇烈變化對(duì)設(shè)備的主要影響有： 
a. 使部件裝配點(diǎn)或焊接點(diǎn)松動(dòng)或脫落；
b. 使材料本身開(kāi)裂；
c. 電子元器件性能發(fā)生變化；
d. 密封件失效造成泄漏；
非散熱試件和散熱試件
試件內(nèi)不產(chǎn)生熱量的為非散熱試件。在實(shí)驗(yàn)室可以采用以下較嚴(yán)格的定義：在沒(méi)有強(qiáng)迫空氣循環(huán)的自由空氣條件和試驗(yàn)用標(biāo)準(zhǔn)大氣規(guī)定的氣壓（86－106kPa）下，試驗(yàn)樣品溫度達(dá)到穩(wěn)定后，試驗(yàn)樣品表面zui熱點(diǎn)溫度與環(huán)境溫度之差小于5℃的試驗(yàn)樣品。 
若環(huán)境溫度不變時(shí)，非散熱試件的熱流方向如下：在環(huán)境溫度較高時(shí)，熱由環(huán)境大氣傳入試件；反之，熱由試件傳入周?chē)髿狻醾鬏斶^(guò)程將不斷進(jìn)行直至試件各部分的溫度均達(dá)到周?chē)髿鉁囟葹橹?。此后熱傳輸過(guò)程停止。非散熱試件的zui后穩(wěn)定溫度是放置試驗(yàn)樣品試驗(yàn)箱的平均溫度。
 試件內(nèi)有熱量產(chǎn)生為散熱試件。較嚴(yán)格的定義為在沒(méi)有強(qiáng)迫空氣循環(huán)的自由空氣條件和試驗(yàn)用標(biāo)準(zhǔn)大氣規(guī)定的氣壓（86－106kPa）下，試驗(yàn)樣品溫度達(dá)到穩(wěn)定后，試驗(yàn)樣品表面zui熱點(diǎn)溫度與環(huán)境溫度之差大于5℃的試驗(yàn)樣品。 
散熱試件產(chǎn)生的熱量不斷向周?chē)h(huán)境大氣發(fā)散，直至試件產(chǎn)生的熱量與耗散在周?chē)髿庵械臒崃肯嗥胶?，試件溫度達(dá)到穩(wěn)定。當(dāng)環(huán)境溫度上升或下降時(shí)，試件內(nèi)部的溫度也將隨著一同上升或下降，直至達(dá)到新的平衡。散熱試件的zui后穩(wěn)定溫度需要進(jìn)行反復(fù)測(cè)量，當(dāng)試件的溫度每變化3℃后測(cè)量其間的時(shí)間間隔，當(dāng)相鄰兩段時(shí)間間隔之比大于1.7時(shí)，認(rèn)為已達(dá)到溫度穩(wěn)定狀態(tài)。
產(chǎn)品
對(duì)于目前的產(chǎn)品來(lái)說(shuō)，在未工作狀態(tài)產(chǎn)品本身不產(chǎn)生熱量，因此在試件未工作狀態(tài)進(jìn)行的溫度試驗(yàn)都可作為非散熱試件來(lái)處理。在工作狀態(tài)進(jìn)行溫度試驗(yàn)的產(chǎn)品目前主要有燃油泵，點(diǎn)火線圈，怠速調(diào)節(jié)器等。這些產(chǎn)品如在工作條件下進(jìn)行溫度試驗(yàn)都應(yīng)作為散熱試件。特別是點(diǎn)火線圈，工作時(shí)的發(fā)熱量較大，應(yīng)對(duì)其上的溫度進(jìn)行監(jiān)測(cè)。
試驗(yàn)區(qū)域空氣速度的影響 
試驗(yàn)區(qū)域中空氣和試驗(yàn)樣品間的熱交換效率取決于空氣流動(dòng)的速度。
對(duì)于非散熱試件，較高的空氣流動(dòng)速度可以使試件各部分的溫度較快速的達(dá)到周?chē)諝獾臏囟?。一般在試?yàn)區(qū)域未擺放試件的情況下，空氣流動(dòng)速度應(yīng)不低于2m/s。
對(duì)于散熱試件，試件樣品zui熱點(diǎn)的溫度高于周?chē)h(huán)境溫度時(shí)，應(yīng)在無(wú)強(qiáng)迫空氣流動(dòng)（自由空氣條件）的環(huán)境下進(jìn)行試驗(yàn)，否則試件的溫度將被降低，從而減小試驗(yàn)的嚴(yán)酷程度。
試驗(yàn)區(qū)域中試件的擺放 
多個(gè)樣品在同一試驗(yàn)箱進(jìn)行高溫實(shí)驗(yàn)時(shí)，應(yīng)保證所有樣品都處在同一環(huán)境溫度下，并具有相同的安裝條件。對(duì)于散熱樣品而言，各個(gè)試件之間不能因輻射散熱而影響到其它試件，即試件間間隔應(yīng)足夠大，這樣對(duì)于單個(gè)試件來(lái)說(shuō)，其他散熱試件輻射到其上的熱量所造成的溫度變化就很小，到可忽略的程度。對(duì)于非散熱試件，溫度保持不變的高溫或低溫試驗(yàn)，試件間的間距可以不做要求，因?yàn)闇囟群愣ê笤嚰臏囟扰c溫度試驗(yàn)箱內(nèi)的溫度保持一致，不發(fā)生熱量交換，試件間的間距對(duì)試驗(yàn)不會(huì)產(chǎn)生影響。非散熱試件的溫度變化試驗(yàn)試件間則應(yīng)該保持間隔，使試驗(yàn)件之間有足夠的空氣流動(dòng)，加速試件與溫度試驗(yàn)箱之間的熱交換，使試件盡快達(dá)到試驗(yàn)的溫度。
試驗(yàn)持續(xù)的時(shí)間的確定 
在化學(xué)中一條常用的規(guī)律是在高溫下反應(yīng)的速度要快一些。 這一規(guī)律被應(yīng)用到技術(shù)中，以便進(jìn)行加速試驗(yàn)，這也被稱(chēng)為阿侖尼斯方程。 
阿侖尼斯關(guān)系從數(shù)學(xué)上的表示為：    
AF(T)=e^(EA/K)*(1/T實(shí)際– 1/T試驗(yàn)室) 
式中數(shù)值：
AF= 加速度系數(shù)
Ea=激活能 
K=玻爾茲曼常數(shù)(8.65×10-5ev/K)  
T實(shí)際=在實(shí)際負(fù)荷下的溫度(溫度) 
T實(shí)驗(yàn)室=在實(shí)驗(yàn)室負(fù)荷下的溫度(溫度)  
為確定加速度系數(shù)激活能必須是已知的，對(duì)于一般的電子元件經(jīng)常采用的值是： Ea=0.44Ev  
( 在產(chǎn)品不工作時(shí)進(jìn)行的低溫或高溫實(shí)驗(yàn)，試驗(yàn)的持續(xù)時(shí)間為試驗(yàn)樣品達(dá)到溫度穩(wěn)定后，根據(jù)試驗(yàn)樣品的特點(diǎn)和試驗(yàn)?zāi)康拇_定。也可從下列等級(jí)中選取：2，16，72，96h。 t = t穩(wěn)定+ to (to由計(jì)算產(chǎn)生或=2，16，72，96h) 。

高低溫交變濕熱試驗(yàn)箱適用于對(duì)產(chǎn)品（整機(jī)）、零部件、材料進(jìn)行高溫、低溫、高低溫循環(huán)試驗(yàn)，以及恒定濕熱和交變濕熱試驗(yàn)。本試驗(yàn)箱可用于散熱試驗(yàn)樣品和非散熱試驗(yàn)樣品的試驗(yàn)。對(duì)于散熱試驗(yàn)樣品的試驗(yàn)，其散熱功率不能超過(guò)試驗(yàn)箱制冷量，因制冷量為動(dòng)態(tài)值，其隨溫度點(diǎn)變化而有所變化，同時(shí)，較高濕度也會(huì)因散熱產(chǎn)品帶來(lái)熱量須冷卻平衡時(shí)引起凝露而受到影響

高低溫交變濕熱試驗(yàn)箱 特 點(diǎn)：

◆同容積在承受較大存放區(qū)域和負(fù)載發(fā)熱量；

◆采用美國(guó)新型PWM冷媒控制技術(shù)實(shí)現(xiàn)低溫節(jié)能運(yùn)行；

◆防止測(cè)試品不結(jié)露控制條件；

◆通信配置RS232接口和USB儲(chǔ)存下載功能；

◆機(jī)臺(tái)多重報(bào)警監(jiān)測(cè)，配置無(wú)線遠(yuǎn)程報(bào)警功能；

◆zui安全的水路系統(tǒng)和再生用水環(huán)循系統(tǒng)；

◆濕度效應(yīng)可以達(dá)到15℃/5%RH效能，除濕速度快；

◆防止靜電降耗能力強(qiáng)，達(dá)到同行業(yè)中性能*狀態(tài)；

高低溫交變濕熱試驗(yàn)箱 標(biāo) 準(zhǔn)：

GB10589-89 低溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件；GB10592-89 高低溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件；GB11158高溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件；GB/T10586-89 濕熱試驗(yàn)箱技術(shù)條件；GB/T2423.1-2008 低溫試驗(yàn)箱試驗(yàn)方法；GB/T2423.2-2008 高溫試驗(yàn)箱試驗(yàn)方法；GB/T2423.3-2006 濕熱試驗(yàn)箱試驗(yàn)方法； GB/T2423.4-2008 交變濕熱試驗(yàn)方法 ；GB/T2423.22-2002 溫度變化試驗(yàn)方法；IEC60068-2-1.1990 低溫試驗(yàn)箱試驗(yàn)方法；IEC60068-2-2.1974 高溫試驗(yàn)箱試驗(yàn)方法； GJB150.3 高溫試驗(yàn)；GJB150.4 低溫試驗(yàn)；  GJB150.9 濕熱試驗(yàn)；

高低溫交變濕熱試驗(yàn)箱 技術(shù)規(guī)格：

型號(hào)				SEH-150	SEH-225	SEH-408	SEH-800	SEH-1000
工作室尺寸(cm)				50×50×60	50×60×75	60×80×85	100×80×100	100×100×100
外形尺寸（cm）				115×75×150	115×85×165	130×105×170	165×105×185	170×125×185
性 能	溫度范圍			0℃/-20℃/-40℃/-70℃～+100℃/+150℃/+180℃
	溫度均勻度			≤2℃
	溫度偏差			±2℃
	溫度波動(dòng)度			≤1℃（≤±0.5℃,按GB/T5170-1996表示）
	升溫時(shí)間			+20℃～+150℃/約45min (空載)
	降溫時(shí)間			+20℃～-20℃/30min/ +20℃～-40℃/50min/ +20℃～-70℃/60min/(空載)
濕度范圍				（10）20～98%RH
濕度偏差				±3%(＞75%RH), ±5%(≤75%R上)
溫度控制器				中文彩色觸摸屏+ PLC控制器（控制軟件自行開(kāi)發(fā)）
低溫系統(tǒng)適應(yīng)性				*的設(shè)計(jì)滿(mǎn)足全溫度范圍內(nèi)壓縮機(jī)自動(dòng)運(yùn)行
設(shè)備運(yùn)行方式				定值運(yùn)行、程序運(yùn)行
制冷系統(tǒng)		制冷壓縮機(jī)		進(jìn)口全封閉壓縮機(jī)
		冷卻方式		風(fēng)冷（水冷選配）
加濕用水				蒸餾水或去離子水
安全保護(hù)措施				漏電、短路、超溫、缺水、電機(jī)過(guò)熱、壓縮機(jī)超壓、過(guò)載、過(guò)流
標(biāo)準(zhǔn)裝置				試品擱板(兩套)、觀察窗、照明燈、電纜孔（?50一個(gè)）、腳輪
電源				AC380V  50Hz 三相四線+接地線
材料			外殼材料	冷軋鋼板靜電噴塑(SETH標(biāo)準(zhǔn)色)
			內(nèi)壁材料	SUS304不銹鋼板
			保溫材料	硬質(zhì)聚氨脂泡沫

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