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高功率光束分析儀和功率測量系統(tǒng)BeamPeek™ 系統(tǒng)可進行實時光束輪廓分析，包括焦點尺寸和位置監(jiān)控，以及綠光和近紅外范圍內(nèi)增材制造 (AM) 激光...

全自動非接觸式光束分析儀BeamWatch Integrated 500 是一種全自動激光測量系統(tǒng)，設(shè)計用于對工業(yè)生產(chǎn)線上的關(guān)鍵激光束參數(shù)測量進行整合。Beam...

高功率全自動光束分析儀BeamWatch Integrated 150 是一種全自動激光測量系統(tǒng)，設(shè)計用于對工業(yè)生產(chǎn)線上的關(guān)鍵激光束參數(shù)測量進行整合。BeamW...

非接觸式光束分析儀千瓦級980-1080nm波段BeamWatch非接觸式輪廓分析儀通過測量瑞利散射，精確捕獲和分析波長范圍為980nm - 1080nm的多千...

經(jīng)濟型光束分析儀包含BeamMic軟件BM-USB3-SP203P相機配備磷涂層傳感器，專門用于 1440 至 1605 nm 的 SWIR 波長，尤其是流行的...

經(jīng)濟型光束分析儀BeamMic軟件BM-USB3-SP920s光束分析儀USB 3.0 全局快門 CMOS，高分辨率相機，精度更高，尤其是在流行的 NIR 和 ...

狹縫掃描式光束分析儀熱釋電探測器NS2s-Pyro/9/5精確捕獲和分析190nm - 100µm的波長。該分析儀包括適合于大多數(shù)光束的狹縫和孔徑尺寸...

狹縫掃描式光束輪廓分析儀鍺探測器NS2s-Ge/9/5，精確捕獲和分析700nm - 1800nm的波長。該分析儀包括適合于大多數(shù)光束的孔徑尺寸、近實時數(shù)據(jù)捕獲...

NanoScan 2s Ge/3.5/1.8鍺探測器狹縫掃描式光束輪廓分析儀，精確捕獲和分析700nm - 1800nm的波長。該分析儀包括適合于小光束的孔徑尺...

NanoScan 2s Si/9/5硅探測器狹縫掃描式光束輪廓分析儀，精確捕獲和分析190nm - 1100nm的波長。該分析儀包括適合于大多數(shù)光束的狹縫尺寸、...

NS2s-SI/3.5/1.8-STD硅探測器狹縫掃描式光束輪廓分析儀，精確捕獲和分析190nm - 1100nm的波長。該分析儀包括適合于小光束的狹縫尺寸、近...

光束分析儀第四代熱釋電陣列相機PY-IV-C-A-PRO精確捕獲和分析13nm - 355nm和 1.06-3000µm的波長。該相機包括具有寬動態(tài)范...

PY-III-HR-C-A-PRO Spiricon光束分析儀熱釋電陣列相機精確捕獲和分析13nm - 355nm和 1.06-3000µm的波長。該...

光束輪廓分析儀InGaAs相機NIR近紅外Xeva XC-130精確捕獲和分析900nm - 1700nm的波長。該相機包括可在室溫工作、寬動態(tài)范圍、快速數(shù)據(jù)捕...

光束輪廓分析儀InGaAs砷化鎵相機SP1201可精確捕捉并分析 900nm 至 1700nm 的波長。它配備有一個高分辨率QVGA傳感器，設(shè)計緊湊，以太網(wǎng)供電...

光束輪廓分析儀InGaAs相機SP1203可精確捕捉并分析 900nm 至 1700nm 的波長。它配備有一個高分辨率VGA傳感器，設(shè)計緊湊，以太網(wǎng)供電，穩(wěn)定傳...

光束分析儀CCD相機LT665-1550相機精確捕獲和分析1440nm - 1605nm的波長。該相機包括緊湊型設(shè)計、寬動態(tài)范圍、良好的信噪比及1英寸畫幅等特征...

光束質(zhì)量分析儀CMOS相機SP203P相機配備磷涂層傳感器，專門用于 1440 至 1605 nm 的 SWIR 波長，尤其是流行的 1550nm。與 Beam...

SP504S光束質(zhì)量分析儀CMOS相機Spiricon相機可精確捕獲和分析 340 nm 至 1100nm 范圍內(nèi)的波長。它是我們 32.5 mm 格式的最大有...

光束質(zhì)量分析儀CCD相機以色列Spiricon BGS-USB3-LT665相機精確捕獲和分析190nm - 1100nm的波長。該相機包括緊湊型設(shè)計、寬動態(tài)范...