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介電常數(shù)測試儀使用方法
閱讀：3694發(fā)布時(shí)間：2014-9-18
介電常數(shù)測試儀
4 介電常數(shù)測試儀使用方法
4.1 ZJD-B介電常數(shù)測試儀裝置圖示：
1 圓筒電容器。 2 平板電容器。 3圓筒測微桿。
4 平板測微桿。 5 圓筒測微頭。
4.2 被測樣品的準(zhǔn)備：
被測樣品要求為圓形，直徑38~42 mm配ZJD-B。這是減小因樣品邊緣泄漏和邊緣電場引起的誤差的有效辦法。樣品厚度可在1~5mm之間，如太薄或太厚則測試精度就會下降，樣品要盡可能平直。
注意：在操作中要十分注意樣品的清潔，要戴手套或用鑷子取放樣品。
下面推薦一種能提高測試性的方法：準(zhǔn)備二片厚0.05mm的圓形錫膜。直徑和平板電容器極片一致，錫膜兩面均勻地涂上一層薄薄的凡士林，它起粘附作用，又能排除接觸面之間殘余空氣。把錫膜再粘在平板電容器兩個極片上，粘好后，極片呈鏡面狀為佳。然后，放上被測樣品。
4.3 介電常數(shù)測試儀測試前準(zhǔn)備：
先要詳細(xì)了解本裝置配用Q表的使用方法，操作時(shí)，要避免人體感應(yīng)的影響，即調(diào)節(jié)本裝置時(shí)，手臂盡可能離開本裝置。
持不變。試樣電容近似于△C，即是可變電容器電容的變化量。
測量誤差主要來自二次指示器的標(biāo)定刻度，以及在連線中尤其是在可變電容器和試樣的連線中所引入的阻抗。
4.3.1 檢查Q表是否正常工作
a ) 將250-100μH電感器（一般先用250μH），接在Q表“Lx”接線柱上。
b) 頻率調(diào)至1MHz。
c ) 微調(diào)電容器置于“0pF”處（ZJD-B無微調(diào)電容），調(diào)節(jié)主調(diào)電容器，使其諧振，Q值應(yīng)指示在160左右，調(diào)諧電容值刻度在100pF附近，表示Q表處于正常工作狀態(tài)。
4.4 國標(biāo)GB/T 1409-2006，推薦Q表法測試絕緣材料的介質(zhì)損耗因數(shù)和介電常數(shù)程序：
4.4.1 先完成4.3規(guī)定的測試前準(zhǔn)備基礎(chǔ)上進(jìn)行正常測試。
4.4.2 把本測試裝置ZJD-B插到Q表測試回路的“Cx”二個端子上（如下圖）。把圓筒電容器置于12.5mm處，平板電容器置于3 mm處。
4.4.3 把被測樣品放置于二極片之間，到二極片夾住樣品止。
4.4.4 調(diào)節(jié)Q表的調(diào)諧電容器，使其諧振，此時(shí)讀取Q值記為Qt，調(diào)諧電容的刻度記為Ct。
4.4.5 松開平板電容器極片，取出被測樣品，但平板電容器仍在置于有樣品時(shí)的刻度處，保持極片距離和有樣品時(shí)一致。
4.4.6 再次調(diào)節(jié)Q表的調(diào)諧電容器，再次諧振，此時(shí)讀取的Q值為Qo（Qo總是比Qt高，對絕緣材料，二者較接近，要仔細(xì)調(diào)諧,并要利用Q表的Q記憶功能，得到正確的Q值）。調(diào)諧電容的刻度記為C0（C0總是比Ct大）對低介電常數(shù)材料，電容變化值（ΔC）較小，可考慮使用Q表的ΔC調(diào)節(jié)旋鈕或用ZH914,ZH915測試裝置上圓筒電容器的讀數(shù)變化換算成ΔC，以提高測試精度。
4.4.7試樣的損耗因數(shù)計(jì)算公式為：
試樣的介電常數(shù)測試儀計(jì)算公式為：
式中：
C0：電路中的總電容，包括電壓表以及電感線圈本身的電容，一般以無試樣時(shí)，Q表諧振電容值為C0（即Q表調(diào)諧電容指示值）。
△C：是移除試樣后再諧振時(shí)電容值（C0）與有樣品時(shí)調(diào)諧電容值（C0）之差，即：△C= C0- Ct（有試樣時(shí)測得電容值）
Cp：極片空氣介質(zhì)結(jié)構(gòu)電容，Cp= r 2 /3.6d ,式中r為測試夾具平板電極的半經(jīng)，對ZJD-B而言r =1.9。所以當(dāng)用厚度(d)為2mm樣品測試時(shí)，用ZJD-B測Cp=5pF。同樣可以查看附圖1板間隙曲線得到Cp值。
Qt：有試樣時(shí)測得Q值。 Qo：無試樣時(shí)測得Q值。
4.5 另一種介質(zhì)損耗因數(shù)和介電常數(shù)測試儀方法（變電納法）：
4.5.1調(diào)節(jié)平板電容器測微桿，使二極片相接為止，讀取刻度值記為D0。這時(shí)測微桿應(yīng)處在0mm處附近。
4.5.2再松開二極片，把被測樣品插入二極片之間，調(diào)節(jié)平板電容器測微桿，到二極片夾住樣品止。這時(shí)能讀取新的刻度值，記為D1，這時(shí)樣品厚度D2=D1-D0。
4.5.3把圓筒電容器置于10mm處。
4.5.4設(shè)置Q表的測試頻率，例如1MHz，調(diào)節(jié)Q表調(diào)諧電容，使之諧振，讀得Q值。
4.5.5 先順時(shí)針方向，后逆時(shí)針方向，調(diào)節(jié)圓筒電容器，讀取當(dāng)Q表指示Q值為原值的一半時(shí)測微桿上二個刻度值，取這二個值之差，記為M1。舉例：諧振時(shí)Q值為200，先順時(shí)針方向轉(zhuǎn)，Q值下降呈100時(shí)，圓筒刻度計(jì)為8mm，再逆時(shí)針轉(zhuǎn)至再次出現(xiàn)Q值降至100時(shí)，刻度計(jì)為11mm，測二值之差M1=3。
4.5.6再調(diào)節(jié)圓筒電容器，使Q表再次諧振。即圓筒電容器重新回到10mm處。
4.5.7取出平板電容器中的樣品，這時(shí)Q表又失諧，調(diào)節(jié)平板電容器，使再諧振，讀取測微桿上的讀值D3，其變化值為D4=D3-D0。
4.5.8 和4.4.5款操作一樣，得到新的二個值之差，記為M2，M2總比M1小。
4.5.9 計(jì)算測試結(jié)果：
被測樣品的介電常數(shù)：
∑=D2/D4
被測樣品的介質(zhì)損耗因數(shù)：
tanδ=K（M1-M2）/2Cp
式中：K為圓筒電容器線性變化率，應(yīng)為0.33/mm。
Cp 見附圖1
一般按以上公式計(jì)算的結(jié)果，其精度和重復(fù)性是能滿足的。但對介電常數(shù)大的被測樣品（即樣品從平板樣品放入和取出平板電容器刻度值變化較大），邊緣效應(yīng)電容對測試會有較顯著的影響。這時(shí)可按下列公式計(jì)算：
∑=（C2+CF2-CF）/C1
tanδ=K（M1-M2）/3.46（C2+CF2-CF1）
式中：C1=D1刻度時(shí)平板電容器空氣介質(zhì)電容量（見附圖一）
C2=D3刻度時(shí)平板電容器空氣介質(zhì)電容量（見附圖一）
CF1=D1刻度時(shí)的邊緣效應(yīng)電容量（見附圖二）
CF2=D3刻度時(shí)的邊緣效應(yīng)電容量（見附圖二）
4.6附錄：國標(biāo)GB/T 1409-2006“測量電氣絕緣材料在工頻，音頻，高頻下電容率和介質(zhì)損耗因數(shù)”和美標(biāo)ASTD D150的測試方法摘錄如下：
介電常數(shù)測試儀諧振法（Q表法）
諧振法或Q表法是在10kHz～100MHz的頻率范圍內(nèi)使用。它的原理是基于在一個諧振電路中感應(yīng)一個已知的弱小電壓時(shí)，測量在該電路出現(xiàn)的電壓。下圖表示這種電路的常用形式，在線路中通過一個共用電阻R將振蕩器信號耦合到調(diào)諧回路上，也可用其他的耦合方法。
介電常數(shù)測試儀諧振法的電原理圖
操作程序是在規(guī)定的頻率下將輸入電壓或電流調(diào)節(jié)到一個已知值，然后調(diào)節(jié)諧振電路達(dá)到zui大諧振，觀察此時(shí)的電壓Uo(相應(yīng)為Qo)。然后將試樣接到相應(yīng)的接線端上，再調(diào)節(jié)可變電容使電路重新諧振，觀察新的電壓U1（相應(yīng)為Qt）的值。
持不變。試樣電容近似于△C，即是可變電容器電容的變化量。
測量誤差主要來自二次指示器的標(biāo)定刻度，以及在連線中尤其是在可變電容器和試樣的連線中所引入的阻抗。
4.7 介電常數(shù)測試儀其他應(yīng)用使用方法：
使用本測試裝置和Q表配用，對絕緣材料以及其它高阻性能的薄材，例如：紙張、木材、粉壓片料等，進(jìn)行相對測量。其測試方法就非常簡便、實(shí)用。采取被測樣品和標(biāo)準(zhǔn)樣品相比較方法，就能靈敏地區(qū)別二者之間的細(xì)微差別，例如含水量，配用原料變動等等。
測試時(shí)先把標(biāo)準(zhǔn)樣品放入平板電容器，調(diào)節(jié)Q表頻率，諧振后讀得Q值。再換上被測樣品，調(diào)節(jié)圓筒電容器，再諧振，看Q值變化，如Q值變化很小，說明標(biāo)準(zhǔn)樣品和被測樣品高頻損耗值一致，反之，說明二者性能有區(qū)別，如圓筒電容器調(diào)節(jié)不能再諧振，通過調(diào)節(jié)Q表頻率才能諧振，且頻率變化較大。說明被測樣品和標(biāo)準(zhǔn)樣品的配用原材料使其介電常數(shù)相差很大。
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