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一、鋅層測厚儀特點：
1、鋅層測厚儀是用電池供電的便攜式測量儀器， 采用磁感應(yīng)和電渦流原理。測量方法符合標(biāo)準(zhǔn)ISO2178,ISO2360和國家標(biāo)準(zhǔn)GB4956,GB4957.它采用計算機技術(shù),無損檢測技術(shù)等多項良好技術(shù),無需損傷被測體就能準(zhǔn)確地測量出它的厚度.
2、F型探頭可直接測量導(dǎo)磁材料（ 如鐵、鎳） 表面上的非導(dǎo)磁覆蓋層厚度（ 如： 油漆、塑料、搪瓷、銅、鋁、鋅、鉻等） ?？蓱?yīng)用于電鍍層、油漆層、搪瓷層、鋁瓦、銅瓦、巴氏合金瓦、磷化層、紙張的厚度測量，也可用于船體油漆及水下結(jié)構(gòu)件的附著物的厚度測量。
3、NF型探頭可測量非導(dǎo)磁金屬基體上的絕緣覆蓋層厚度， 如鋁、銅、鋅、無磁不銹鋼等材料表面上的油漆、塑料、橡膠涂層， 也可測量鋁或鋁合金材料的陽極氧化層厚度。
4、具有耐磨硬質(zhì)金屬探針的彈簧導(dǎo)套式探頭,不但能在堅硬或粗糙的表面上進行測量,而且能保證測頭具有不變的壓緊力和穩(wěn)定的取樣值。
5、測量范圍寬,分辨率高。
6、自動記憶校準(zhǔn)值,方便使用。
7、一體化結(jié)構(gòu),體積小,重量輕。
8、數(shù)字背光顯示,無視差。
9、可存儲99組數(shù)據(jù)通過測出平均值,zui大值和zui小值實現(xiàn)儀器的統(tǒng)計功能。
10、利用可選的RS232C軟件和電纜,可與PC計算機通訊,實現(xiàn)數(shù)據(jù)的采集,處理,分析和打印功能。
11、本儀器設(shè)有自動關(guān)機， 實現(xiàn)省電功能。
二、技術(shù)參數(shù)：
顯示器4位數(shù)字背光液晶
標(biāo)準(zhǔn)測試范圍0-1250 um
（其他測量范圍可訂制）
zui小曲面:F: 凸 1.5mm/ 凹 25mm N: 凸 3mm/ 凹 50mm
zui小測量面積：6mm
zui薄基底：0.3mm分辨率: 0.1μm/1μm
測量精度:±1-3%n或2.5μm
電池電壓指示：低電壓提示
具有自動識別被測基體的功能。
測量模式單次測量和連續(xù)測量。
具有公英制單位轉(zhuǎn)換功能,實現(xiàn)μm/mil轉(zhuǎn)換。
帶有標(biāo)準(zhǔn)的RS232C接口。
電 源: 2節(jié)7號電池。
操作條件:溫度0-40℃，濕度< 95%
尺 寸126x65x35 mm
重 量81 g 不包括電池
三、標(biāo)準(zhǔn)附件：
便攜盒............1只
鐵基 .............1塊
鋁基 .............1塊
說明書............1份
校準(zhǔn)膜片..........1套
（膜片的實際厚度詳見包裝）
可選附件：1.RS232C 通訊電纜和軟件USB適配器
          2.藍牙通訊和軟件

四、根據(jù)測量原理一般有以下五種類型：
1.磁性測厚法：適用導(dǎo)磁材料上的非導(dǎo)磁層厚度測量。導(dǎo)磁材料一般為：鋼、鐵、銀和鎳。此種方法測量精度高。
2.渦流測厚法:適用導(dǎo)電金屬上的非導(dǎo)電層厚度測量。此種方法較磁性測厚法精度低。
3.超聲波測厚法：目前國內(nèi)還沒有用此種方法測量涂鍍層厚度的，國外個別廠家有這樣的儀器，適用多層涂鍍層厚度的測量或則是以上兩種方法都無法測量的場合。但一般價格昂貴，測量精度也不高.  
4.電解測厚法:此方法有別于以上三種，不屬于無損檢測,需要破壞涂鍍層。一般精度也不高，測量起來較其他幾種麻煩。  
5.放射測厚法:此種儀器價格非常昂貴(一般在10萬RMB以上)，適用于一些特殊場合，國內(nèi)目前使用zui為普遍的是第1和2兩種方法。  
五、常規(guī)涂層測厚儀的原理：
對材料表面保護、裝飾形成的覆蓋層，如涂層、鍍層、敷層、貼層、化學(xué)生成膜等，在有關(guān)國家和標(biāo)準(zhǔn)中稱為覆層（coating）。   覆層厚度測量已成為加工工業(yè)、表面工程質(zhì)量檢測的重要一環(huán)，是產(chǎn)品達到優(yōu)等質(zhì)量標(biāo)準(zhǔn)的*手段。為使產(chǎn)品化，我國出口商品和涉外項目中，對覆層厚度有了明確的要求。   覆層厚度的測量方法主要有：楔切法，光截法，電解法，厚度差測量法，稱重法，X射線熒光法，β射線反向散射法，電容法、磁性測量法及渦流測量法等。這些方法中前五種是有損檢測，測量手段繁瑣，速度慢，多適用于抽樣檢驗。 
X射線和β射線法是無接觸無損測量，但裝置復(fù)雜昂貴，測量范圍較小。因有放射源，使用者必須遵守射線防護規(guī)范。X射線法可測極薄鍍層、雙鍍層、合金鍍層。β射線法適合鍍層和底材原子序號大于3的鍍層測量。電容法僅在薄導(dǎo)電體的絕緣覆層測厚時采用。   隨著技術(shù)的日益進步，特別是近年來引入微機技術(shù)后，采用磁性法和渦流法的測厚儀向微型、智能、多功能、高精度、實用化的方向進了一步。測量的分辨率已達0.1微米，精度可達到1%，有了大幅度的提高。它適用范圍廣，量程寬、操作簡便且價廉，是工業(yè)和科研使用zui廣泛的測厚儀器。 
采用無損方法既不破壞覆層也不破壞基材，檢測速度快，能使大量的檢測工作經(jīng)濟地進行。