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- X熒光測(cè)厚儀 產(chǎn)品型號(hào)
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- 無(wú)錫市 所在地
訪(fǎng)問(wèn)次數(shù):1064更新時(shí)間:2023-12-02 10:32:21
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- 江蘇無(wú)錫市錫滬西路999號(hào)現(xiàn)代之星大樓5層
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- www.wxjd17.net
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是根據(jù)多年的貴金屬檢測(cè)技術(shù)和經(jīng)驗(yàn),Thick 680鍍層測(cè)厚儀以*的產(chǎn)品配置、功能齊全的測(cè)試軟件、友好的操作界面來(lái)滿(mǎn)足貴金屬的成分檢測(cè)的需要,人性化的設(shè)計(jì),Thick 680鍍層測(cè)厚儀使測(cè)試工作更加輕松完成
Thick680鍍層測(cè)厚儀(X熒光測(cè)厚儀)
Thick680鍍層測(cè)厚儀是根據(jù)多年的貴金屬檢測(cè)技術(shù)和經(jīng)驗(yàn),Thick 680鍍層測(cè)厚儀以*的產(chǎn)品配置、功能齊全的測(cè)試軟件、友好的操作界面來(lái)滿(mǎn)足貴金屬的成分檢測(cè)的需要,人性化的設(shè)計(jì),Thick 680鍍層測(cè)厚儀使測(cè)試工作更加輕松完成
Thick 680鍍層測(cè)厚儀性能特點(diǎn)
專(zhuān)業(yè)貴金屬檢測(cè)
內(nèi)置信噪比增強(qiáng)器,可有效提高儀器信號(hào)處理能力25倍以上
智能貴金屬軟件,與儀器相得益彰
任意多個(gè)可選擇的分析和識(shí)別模型
多變量非線(xiàn)性回收程序
Thick 680鍍層測(cè)厚儀技術(shù)指標(biāo)
X射線(xiàn)激發(fā)系統(tǒng) 垂直上照式X射線(xiàn)光學(xué)系統(tǒng)
空冷式微聚焦型X射線(xiàn)管,Be窗
標(biāo)準(zhǔn)靶材:Rh靶;任選靶材:W、Mo、Ag等
X射線(xiàn)管:管電壓50KV,管電流1mA
可測(cè)元素:Ti~U
檢測(cè)器:正比計(jì)數(shù)管
樣品觀察:CCD攝像頭
測(cè)定軟件:薄膜FP法、檢量線(xiàn)法
Z軸程控移動(dòng)高度 20mm
Thick 680鍍層測(cè)厚儀標(biāo)準(zhǔn)配置
X射線(xiàn)管,正比記數(shù)盒,高清攝像頭,高度激光,信號(hào)檢測(cè)電子電路。
Thick 680鍍層測(cè)厚儀應(yīng)用領(lǐng)域
大型線(xiàn)路板,大型板材,鍍層厚度測(cè)試,快速測(cè)定:660mm縱深;黃金、鉑、銀等貴金屬和各種首飾的含量檢測(cè);主要用于貴金屬加工和首飾加工行業(yè)
X熒光測(cè)厚儀EDX680技術(shù)指標(biāo) 元素分析范圍:從鉀(K)到鈾(U)。 測(cè)量對(duì)象:固體、液體、粉末 分析檢出限可達(dá):1ppm。 分析含量一般為:1ppm到99.9%。 多次測(cè)量重復(fù)性可達(dá):0.1%。 長(zhǎng)期工作穩(wěn)定性為:0.1%。 | EDX680鍍層測(cè)厚儀標(biāo)準(zhǔn)配置 單樣品腔。 激光定位裝置。 正比計(jì)數(shù)盒探測(cè)器。 信號(hào)檢測(cè)電子電路。 高低壓電源。 X光管。 硬件 |
EDX680鍍層測(cè)厚儀工作環(huán)境要求環(huán)境溫度要求:15℃-30℃ |