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固體硬盤高低溫濕熱老化試驗箱,溫濕度循環(huán)濕熱老化測試箱
電路板高低溫濕熱老化試驗箱也就是PCB高低溫濕熱老化試驗箱,這是科文針對PCB電路板產品研發(fā)生產的一款電路板產品的高低溫濕熱老化試驗箱。是根據電路板、線路板通電時的發(fā)熱量負載所設計的制冷量。電路板高低溫濕熱老化試驗箱生產廠家科文為您提供性能穩(wěn)定,溫度精度高,,使用壽命zui長的。
用途:
用于測試電路板、線路板、PCB、PCB板、FPC、FPC線路板、LED、LED顯示器、LED照明、LED節(jié)能燈、LED模組、LCD、LCD模組、LCD液晶屏、LCD顯示器、塑膠、橡膠、五金、化工、涂料、建材、陶瓷、汽車、電子、電器、電腦、手機、數碼產品、通訊產品、航空、航天、軍工、船舶。主要用來對上述材料進行高低溫恒定和漸變、突發(fā)、耐熱、耐寒、耐干燥等環(huán)境模擬的可靠性及適應性。根據試驗方法與行業(yè)標準可分為“循環(huán)試驗”和“溫度試驗”,兩種試驗方法都是在高低溫測試箱的基礎上進行升級拓展,可編程高低溫循環(huán)試驗箱是指可以一次性將需要做的高溫、低溫、時間設定在儀表參數內,試驗箱會按照設定走程序,高低溫試驗箱就是在做一個固定的溫度,使試驗效果更接近自然氣候,模擬出更惡劣的自然氣候,從而使被測樣品的可靠性更高。
的符合標準:
GB11158 高溫試驗箱技術條件
GB10589 低溫試驗箱技術條件
GB10592-89 高低溫試驗箱技術條件
GB/T2423.1-2001 低溫試驗箱試驗方法
GB/T2423.2-2001 高溫試驗箱試驗方法
GB/T2423.22-2001 溫度變化試驗方法
IEC60068-2-1.1990 低溫試驗箱試驗方法
IEC60068-2-2.1974 高溫試驗箱試驗方法
GJB150.3 高溫試驗
GJB150.4 低溫試驗
型號參數:
型號:KW-TH-80 內箱尺寸:400×500×400 外箱尺寸:970×1360×970
型號:KW-TH-150 內箱尺寸: 500×600×500 外箱尺寸:1070×1460×1070
型號:KW-TH-225 內箱尺寸:500×750×600 外箱尺寸:1070×1610×1170
型號:KW-TH-408 內箱尺寸: 600×850×800 外箱尺寸:1170×1710×1270
型號:KW-TH-800 內箱尺寸:1000×1000×800 外箱尺寸:1550×1850×1300
型號:KW-TH-1000 內箱尺寸:1000×1000×1000 外箱尺寸:1550×1850×1470
容積:80L 150L 225L 408L 800L 1000L
注:以上尺寸如不能滿足,可根據客戶需求定制
溫度范圍:Z: 0~150℃ T:-20~150℃ F:-40~150℃ S:-70~150℃
溫度均勻度:±2℃ (空載時)
溫度波動度:±0.5℃ (空載時)
升溫速率:1.0℃~3.0℃/min
降溫速率:1.0℃~1.5℃/min
*制冷機組:
控制系統(tǒng)及操作畫面:
科文采用由科文公司自主研發(fā)的KW-890型可程式微電腦溫濕度控制器:7英寸中英文真彩觸摸屏式人機界面(畫面對談式)電腦控制,USB曲線記錄,數據儲存裝置.
優(yōu)勢一:大屏幕逼真彩色畫面:TFT LCD(LED 背光) 7英寸TFT真彩VGA(800x480)
優(yōu)勢二:人機對話式觸摸屏輸入系統(tǒng),操作簡單易學,功能強大,并可于LCD畫面上了解程序設定之曲線及監(jiān)測過程;
優(yōu)勢三:PV曲線/組曲線:實時表示溫、濕度PV,SV曲線,表示歷史儲存的曲線,表示組曲線及進行狀態(tài);
優(yōu)勢四:可設定程序120組,1200段,循環(huán)次數可達999次,每段時間zui大設定99小時59分;
優(yōu)勢五:提供USB通訊接口可備份/歷史曲線/歷史數據,使用便捷;還可選配RS485接口,RS232通信接口,可通過PC隨意控制和監(jiān)視。
優(yōu)勢六:具有程序修正、清除、預約、啟動、停電、記憶、按鍵鎖定等功能;
優(yōu)勢七:畫面保護器功能,程式運行時可以設定操作條件,一個段次的運行時間(530小時59分),每段可以設定待機開關,定值zui大999999小時;
優(yōu)勢八:具有多種報警功能,故障發(fā)生同時,可通過熒幕故障顯示,消除故障;
優(yōu)勢九:把記錄錯誤履歷,提供使用者查閱,全部畫面提供英語、中國語;
優(yōu)勢十:BMP文件表示:通過USB下載歷史曲線為BMP圖片格式文件。
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