上海量博實(shí)業(yè)有限公司
主營產(chǎn)品: 粗糙度輪廓儀,圓柱度測量儀,CORNING平面度測量儀,ROMER關(guān)節(jié)臂三坐標(biāo),軼諾INNOVATEST布洛維氏硬度計(jì) |
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- 2024-08-27 09:18:59
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- 2024年8月27日--2025年2月27日
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TP200三坐標(biāo)觸發(fā)式測頭
TP200三坐標(biāo)觸發(fā)式測頭簡介:
英國雷尼紹Renishaw TP200觸發(fā)式三坐標(biāo)測頭系統(tǒng)具有模塊交換功能的超小型應(yīng)變片式測頭。
TP200觸發(fā)式三坐標(biāo)測頭系統(tǒng)組件包括:
1. TP200或TP200B測頭本體(TP200B為另一款,允許更大振動(dòng)公差) 2. TP200測針模塊 — 選擇固定超程測力:SF(標(biāo)準(zhǔn)測力)或LF(低測力) 3. PI 200測頭接口 4. SCR200測針交換架 還有一種EO模塊(長超程),超程測力與SF相同,但工作范圍更大,并在測頭Z軸方向提供保護(hù)。
TP200三坐標(biāo)測頭系統(tǒng)特性與優(yōu)點(diǎn) 1. 應(yīng)變片技術(shù)具有*的重復(fù)性和的三維輪廓測量 2. 零復(fù)位誤差 3. 無各向同性影響 4. 六向測量能力 5. 測針測量距離達(dá)100 mm(GF測針) 6. 快速測頭模塊交換,無需重新標(biāo)定測尖 7. 壽命 >1 000萬次觸發(fā) |
TP200 / TP200B測頭本體 TP200采用微應(yīng)變片傳感器,實(shí)現(xiàn)優(yōu)異的重復(fù)性和的三維輪廓測量,即使配用長測針時(shí)也不例外。 傳感器技術(shù)提供亞微米級(jí)的重復(fù)性,并且消除了機(jī)械結(jié)構(gòu)式測頭存在的各向異性問題。測頭采用成熟的ASIC電子元件,確保了在數(shù)百萬次觸發(fā)中的可靠操作。 TP200B采用的技術(shù)與TP200相同,但允許更高的振動(dòng)公差。這有助于克服因坐標(biāo)測量機(jī)傳導(dǎo)振動(dòng)或在移動(dòng)速度很高的情況下使用長測針?biāo)l(fā)的誤觸發(fā)問題。 請注意:我們不推薦TP200B配用LF模塊或曲柄/星形測針。 |
Renishaw TP200三坐標(biāo)測頭技術(shù)規(guī)格:
摘要 | TP200 | TP200B |
主要應(yīng)用 | 需要高精度的數(shù)控坐標(biāo)測量機(jī) | 與TP200一樣,但當(dāng)出現(xiàn)誤觸發(fā)事件時(shí) |
傳感器方向 | 六軸:±X、±Y、±Z | 六軸:±X、±Y、±Z |
單向重復(fù)性 (2s µm) | 觸發(fā)水平1:0.40 µm 觸發(fā)水平2:0.50 µm | 觸發(fā)水平1:0.40 µm 觸發(fā)水平2:0.50 µm |
XY(2D)輪廓形式測量偏差 | 觸發(fā)水平1:±0.80 µm 觸發(fā)水平2:±0.90 µm | 觸發(fā)水平1:±1 µm 觸發(fā)水平2:±1.2 µm |
XYZ (3D) 輪廓測量偏差 | 觸發(fā)水平1:±1 µm 觸發(fā)水平2:±1.40 µm | 觸發(fā)水平1:±2.50 µm 觸發(fā)水平2:±4 µm |
測針交換的重復(fù)性 | SCR200:±0.50 µm(zui大) 手動(dòng):±1 µm(zui大) | SCR200:±0.50 µm(zui大) 手動(dòng):±1 µm(zui大) |
測力(測尖) | XY平面(所有模塊):0.02 N Z軸(所有模塊):0.07 N | XY平面(所有模塊):0.02 N Z軸(所有模塊):0.07 N |
超程測力(位移為0.50 mm時(shí)) | XY平面(SF/EO模塊):0.2 N至0.4 N XY平面(LF模塊):0.1 N至0.15 N Z軸(SF/EO模塊):4.90 N Z軸(LF模塊):1.60 N | XY平面(SF/EO模塊):0.2 N至0.4 N XY平面(LF模塊):0.1 N至0.15 N Z軸(SF/EO模塊):4.90 N Z軸(LF模塊):1.60 N |
重量(測頭傳感器和模塊) | 22 g | 22 g |
zui長加長桿(如配在PH10系列測座上) | 300 mm | 300 mm |
推薦的zui大測針長度(M2測針系列) | SF/EO模塊:50 mm鋼質(zhì)至100 mm GF LF模塊:20 mm鋼質(zhì)至50 mm GF | SF/EO模塊:50 mm鋼質(zhì)至100 mm GF LF模塊:20 mm鋼質(zhì)至50 mm GF |
安裝方式 | M8螺紋 | M8螺紋 |
適合的接口 | PI200、UCC | PI200、UCC |
測針模塊交換架 | 自動(dòng):SCR200 手動(dòng):MSR1 | 自動(dòng):SCR200 手動(dòng):MSR1 |
測針系列 | M2 | M2 |
TP200測針模塊:
測針模塊通過高重復(fù)性機(jī)械定位的磁性接頭安裝在TP200/TP200B測頭本體上,具有快速測針交換功能和測頭超程保護(hù)功能。
有三種測針模塊可供選擇,具有兩種不同的超程測力。
模塊 | SF(標(biāo)準(zhǔn)測力) | LF(低測力) | EO(長超程) |
應(yīng)用 | 一般使用 | 小直徑測球或必須使用zui小測力的場合。 | 額外超程使坐標(biāo)測量機(jī)在較高的碰觸速度下安全停止并回退。 |
備注 | 測針zui長可達(dá)100 mm,測球直徑 > 1 mm。 | 測球直徑小于1 mm | 與SF的超程測力相同。 |
雷尼紹SCR200測頭交換架:
SCR200可對(duì)zui多六個(gè)TP200測針模塊進(jìn)行自動(dòng)高速交換。SCR200由獨(dú)立的測頭接口 — PI200供電,并可確保安全的測針交換。SCR200套件可包含低測力和標(biāo)準(zhǔn)測力組件,每一種套件都包含一個(gè)SCR200加上三個(gè)測力相同的測針模塊。 SCR200交換架規(guī)格: 高度:190mm; 寬度:245mm。 |
測針模塊交換:
TP20和TP200測頭具有測針模塊交換功能,生產(chǎn)效率更高,并且總能選擇應(yīng)用的測量系統(tǒng)。 減少循環(huán)時(shí)間 — 模塊交換時(shí)間約為6秒,相比之下手工交換需要1分鐘(還有重新標(biāo)定時(shí)間)。 XY平面碰撞保護(hù)裝置 — 測針模塊在發(fā)生碰撞時(shí)會(huì)分離。 模塊可以安全地存放在交換架上。 |