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上海量博實(shí)業(yè)有限公司

主營產(chǎn)品: 粗糙度輪廓儀,圓柱度測量儀,CORNING平面度測量儀,ROMER關(guān)節(jié)臂三坐標(biāo),軼諾INNOVATEST布洛維氏硬度計(jì)

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[供應(yīng)]TP200-三坐標(biāo)觸發(fā)式測頭
TP200-三坐標(biāo)觸發(fā)式測頭
貨物所在地:
上海上海市
產(chǎn)地:
英國
更新時(shí)間:
2024-08-27 09:18:59
有效期:
2024年8月27日--2025年2月27日
已獲點(diǎn)擊:
496
【簡單介紹】具有模塊交換功能的超小型應(yīng)變片式測頭。
【詳細(xì)說明】

TP200三坐標(biāo)觸發(fā)式測頭

 

TP200三坐標(biāo)觸發(fā)式測頭簡介:

英國雷尼紹Renishaw TP200觸發(fā)式三坐標(biāo)測頭系統(tǒng)具有模塊交換功能的超小型應(yīng)變片式測頭。

 

TP200觸發(fā)式三坐標(biāo)測頭系統(tǒng)組件包括:

1. TP200或TP200B測頭本體(TP200B為另一款,允許更大振動(dòng)公差)

2. TP200測針模塊 — 選擇固定超程測力:SF(標(biāo)準(zhǔn)測力)或LF(低測力)

3. PI 200測頭接口

4. SCR200測針交換架

還有一種EO模塊(長超程),超程測力與SF相同,但工作范圍更大,并在測頭Z軸方向提供保護(hù)。

 

TP200三坐標(biāo)測頭系統(tǒng)特性與優(yōu)點(diǎn)

1. 應(yīng)變片技術(shù)具有*的重復(fù)性和的三維輪廓測量

2. 零復(fù)位誤差

3. 無各向同性影響

4. 六向測量能力

5. 測針測量距離達(dá)100 mm(GF測針)

6. 快速測頭模塊交換,無需重新標(biāo)定測尖

7. 壽命 >1 000萬次觸發(fā)

TP200 / TP200B測頭本體

TP200采用微應(yīng)變片傳感器,實(shí)現(xiàn)優(yōu)異的重復(fù)性和的三維輪廓測量,即使配用長測針時(shí)也不例外。

傳感器技術(shù)提供亞微米級(jí)的重復(fù)性,并且消除了機(jī)械結(jié)構(gòu)式測頭存在的各向異性問題。測頭采用成熟的ASIC電子元件,確保了在數(shù)百萬次觸發(fā)中的可靠操作。

TP200B采用的技術(shù)與TP200相同,但允許更高的振動(dòng)公差。這有助于克服因坐標(biāo)測量機(jī)傳導(dǎo)振動(dòng)或在移動(dòng)速度很高的情況下使用長測針?biāo)l(fā)的誤觸發(fā)問題。

請注意:我們不推薦TP200B配用LF模塊或曲柄/星形測針。

 

Renishaw TP200三坐標(biāo)測頭技術(shù)規(guī)格:

摘要

TP200

TP200B

主要應(yīng)用需要高精度的數(shù)控坐標(biāo)測量機(jī)TP200一樣,但當(dāng)出現(xiàn)誤觸發(fā)事件時(shí)
傳感器方向六軸:±X、±Y、±Z六軸:±X、±Y、±Z
單向重復(fù)性 (2s µm)

觸發(fā)水平1:0.40 µm

觸發(fā)水平2:0.50 µm

觸發(fā)水平1:0.40 µm

觸發(fā)水平2:0.50 µm

XY(2D)輪廓形式測量偏差

觸發(fā)水平1:±0.80 µm

觸發(fā)水平2:±0.90 µm

觸發(fā)水平1:±1 µm

觸發(fā)水平2:±1.2 µm

XYZ (3D) 輪廓測量偏差

觸發(fā)水平1:±1 µm

觸發(fā)水平2:±1.40 µm

觸發(fā)水平1:±2.50 µm

觸發(fā)水平2:±4 µm

測針交換的重復(fù)性

SCR200:±0.50 µm(zui大)

手動(dòng):±1 µm(zui大)

SCR200:±0.50 µm(zui大)

手動(dòng):±1 µm(zui大)

測力(測尖)

XY平面(所有模塊):0.02 N

Z軸(所有模塊):0.07 N

XY平面(所有模塊):0.02 N

Z軸(所有模塊):0.07 N

超程測力(位移為0.50 mm時(shí))

XY平面(SF/EO模塊):0.2 N至0.4 N

XY平面(LF模塊):0.1 N至0.15 N

Z軸(SF/EO模塊):4.90 N

Z軸(LF模塊):1.60 N

XY平面(SF/EO模塊):0.2 N至0.4 N

XY平面(LF模塊):0.1 N至0.15 N

Z軸(SF/EO模塊):4.90 N

Z軸(LF模塊):1.60 N

重量(測頭傳感器和模塊)22 g22 g
zui長加長桿(如配在PH10系列測座上)300 mm300 mm
推薦的zui大測針長度(M2測針系列)

SF/EO模塊:50 mm鋼質(zhì)至100 mm GF

LF模塊:20 mm鋼質(zhì)至50 mm GF

SF/EO模塊:50 mm鋼質(zhì)至100 mm GF

LF模塊:20 mm鋼質(zhì)至50 mm GF

安裝方式M8螺紋M8螺紋
適合的接口PI200、UCCPI200、UCC
測針模塊交換架

自動(dòng):SCR200

手動(dòng):MSR1

自動(dòng):SCR200

手動(dòng):MSR1

測針系列M2M2

 

TP200測針模塊:

測針模塊通過高重復(fù)性機(jī)械定位的磁性接頭安裝在TP200/TP200B測頭本體上,具有快速測針交換功能和測頭超程保護(hù)功能。

有三種測針模塊可供選擇,具有兩種不同的超程測力。

模塊

SF(標(biāo)準(zhǔn)測力)

LF(低測力)

EO(長超程)
應(yīng)用

一般使用

小直徑測球或必須使用zui小測力的場合。

額外超程使坐標(biāo)測量機(jī)在較高的碰觸速度下安全停止并回退。

備注

測針zui長可達(dá)100 mm,測球直徑 > 1 mm。

測球直徑小于1 mm

與SF的超程測力相同。
測頭Z軸的額外超程為8 mm

 

雷尼紹SCR200測頭交換架:

SCR200可對(duì)zui多六個(gè)TP200測針模塊進(jìn)行自動(dòng)高速交換。SCR200由獨(dú)立的測頭接口 — PI200供電,并可確保安全的測針交換。SCR200套件可包含低測力和標(biāo)準(zhǔn)測力組件,每一種套件都包含一個(gè)SCR200加上三個(gè)測力相同的測針模塊。

SCR200交換架規(guī)格:

高度:190mm;

寬度:245mm。

 

測針模塊交換:

TP20和TP200測頭具有測針模塊交換功能,生產(chǎn)效率更高,并且總能選擇應(yīng)用的測量系統(tǒng)。

減少循環(huán)時(shí)間 — 模塊交換時(shí)間約為6秒,相比之下手工交換需要1分鐘(還有重新標(biāo)定時(shí)間)。

XY平面碰撞保護(hù)裝置 — 測針模塊在發(fā)生碰撞時(shí)會(huì)分離。

模塊可以安全地存放在交換架上。

 



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