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上海量博實業(yè)有限公司
主營產品： 粗糙度輪廓儀,圓柱度測量儀,CORNING平面度測量儀,ROMER關節(jié)臂三坐標,軼諾INNOVATEST布洛維氏硬度計 |
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- 郵編：
- 200131
- 網址：
- www.labgages.com
| 參考價 | 面議 |
- 型號 TP200
- 品牌 RENISHAW/英國雷尼紹
- 廠商性質 經銷商
- 所在地 上海市
更新時間：2017-07-18 02:03:11瀏覽次數(shù)：849
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TP200三坐標觸發(fā)式測頭
TP200三坐標觸發(fā)式測頭簡介：
英國雷尼紹Renishaw TP200觸發(fā)式三坐標測頭系統(tǒng)具有模塊交換功能的超小型應變片式測頭。
TP200觸發(fā)式三坐標測頭系統(tǒng)組件包括：
1. TP200或TP200B測頭本體（TP200B為另一款，允許更大振動公差） 2. TP200測針模塊 — 選擇固定超程測力：SF（標準測力）或LF（低測力） 3. PI 200測頭接口 4. SCR200測針交換架 還有一種EO模塊（長超程），超程測力與SF相同，但工作范圍更大，并在測頭Z軸方向提供保護。
TP200三坐標測頭系統(tǒng)特性與優(yōu)點 1. 應變片技術具有*的重復性和的三維輪廓測量 2. 零復位誤差 3. 無各向同性影響 4. 六向測量能力 5. 測針測量距離達100 mm（GF測針） 6. 快速測頭模塊交換，無需重新標定測尖 7. 壽命 >1 000萬次觸發(fā) |  |
TP200 / TP200B測頭本體 TP200采用微應變片傳感器，實現(xiàn)優(yōu)異的重復性和的三維輪廓測量，即使配用長測針時也不例外。 傳感器技術提供亞微米級的重復性，并且消除了機械結構式測頭存在的各向異性問題。測頭采用成熟的ASIC電子元件，確保了在數(shù)百萬次觸發(fā)中的可靠操作。 TP200B采用的技術與TP200相同，但允許更高的振動公差。這有助于克服因坐標測量機傳導振動或在移動速度很高的情況下使用長測針所引發(fā)的誤觸發(fā)問題。 請注意：我們不推薦TP200B配用LF模塊或曲柄/星形測針。 |  |
Renishaw TP200三坐標測頭技術規(guī)格:
摘要 | TP200 | TP200B |
| 主要應用 | 需要高精度的數(shù)控坐標測量機 | 與TP200一樣，但當出現(xiàn)誤觸發(fā)事件時 |
| 傳感器方向 | 六軸：±X、±Y、±Z | 六軸：±X、±Y、±Z |
| 單向重復性 (2s µm) | 觸發(fā)水平1：0.40 µm 觸發(fā)水平2：0.50 µm | 觸發(fā)水平1：0.40 µm 觸發(fā)水平2：0.50 µm |
| XY（2D）輪廓形式測量偏差 | 觸發(fā)水平1：±0.80 µm 觸發(fā)水平2：±0.90 µm | 觸發(fā)水平1：±1 µm 觸發(fā)水平2：±1.2 µm |
| XYZ (3D) 輪廓測量偏差 | 觸發(fā)水平1：±1 µm 觸發(fā)水平2：±1.40 µm | 觸發(fā)水平1：±2.50 µm 觸發(fā)水平2：±4 µm |
| 測針交換的重復性 | SCR200：±0.50 µm（zui大） 手動：±1 µm（zui大） | SCR200：±0.50 µm（zui大） 手動：±1 µm（zui大） |
| 測力（測尖） | XY平面（所有模塊）：0.02 N Z軸（所有模塊）：0.07 N | XY平面（所有模塊）：0.02 N Z軸（所有模塊）：0.07 N |
| 超程測力（位移為0.50 mm時） | XY平面（SF/EO模塊）：0.2 N至0.4 N XY平面（LF模塊）：0.1 N至0.15 N Z軸（SF/EO模塊）：4.90 N Z軸（LF模塊）：1.60 N | XY平面（SF/EO模塊）：0.2 N至0.4 N XY平面（LF模塊）：0.1 N至0.15 N Z軸（SF/EO模塊）：4.90 N Z軸（LF模塊）：1.60 N |
| 重量（測頭傳感器和模塊） | 22 g | 22 g |
| zui長加長桿（如配在PH10系列測座上） | 300 mm | 300 mm |
| 推薦的zui大測針長度（M2測針系列） | SF/EO模塊：50 mm鋼質至100 mm GF LF模塊：20 mm鋼質至50 mm GF | SF/EO模塊：50 mm鋼質至100 mm GF LF模塊：20 mm鋼質至50 mm GF |
| 安裝方式 | M8螺紋 | M8螺紋 |
| 適合的接口 | PI200、UCC | PI200、UCC |
| 測針模塊交換架 | 自動：SCR200 手動：MSR1 | 自動：SCR200 手動：MSR1 |
| 測針系列 | M2 | M2 |
TP200測針模塊：
測針模塊通過高重復性機械定位的磁性接頭安裝在TP200/TP200B測頭本體上，具有快速測針交換功能和測頭超程保護功能。
有三種測針模塊可供選擇，具有兩種不同的超程測力。
| 模塊 | SF（標準測力） | LF（低測力） | EO（長超程） |
| 應用 | 一般使用 | 小直徑測球或必須使用zui小測力的場合。 | 額外超程使坐標測量機在較高的碰觸速度下安全停止并回退。 |
| 備注 | 測針zui長可達100 mm，測球直徑 > 1 mm。 | 測球直徑小于1 mm | 與SF的超程測力相同。 |
雷尼紹SCR200測頭交換架：
SCR200可對zui多六個TP200測針模塊進行自動高速交換。SCR200由獨立的測頭接口 — PI200供電，并可確保安全的測針交換。SCR200套件可包含低測力和標準測力組件，每一種套件都包含一個SCR200加上三個測力相同的測針模塊。 SCR200交換架規(guī)格： 高度：190mm； 寬度：245mm。 |  |
測針模塊交換：
TP20和TP200測頭具有測針模塊交換功能，生產效率更高，并且總能選擇應用的測量系統(tǒng)。 減少循環(huán)時間 — 模塊交換時間約為6秒，相比之下手工交換需要1分鐘（還有重新標定時間）。 XY平面碰撞保護裝置 — 測針模塊在發(fā)生碰撞時會分離。 模塊可以安全地存放在交換架上。 |  |
