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低阻雙電四探針測試儀可以測試到1uΩ方阻值，是目前同行業(yè)中能測量到的Z小值，采用高精度AD芯片控制，恒流輸出，結(jié)構(gòu)合理、質(zhì)量輕便，運輸安全、使用方便；適用于生產(chǎn)...

高阻四探針測試儀 本機(jī)還可以配合各類環(huán)境溫度試驗箱體使用，通過不同的測量治具滿足不同環(huán)境溫度下測量方阻和電阻率的需求.采用高精度AD芯片控制，恒流輸出，結(jié)構(gòu)合理...

高溫雙電測四探針方阻測試儀使用說明，采用四探針雙電組合測量方法測試方阻和電阻率系統(tǒng)與高溫箱結(jié)合配置高溫四探針測試探針治具與PC軟件對數(shù)據(jù)的處理和測量控制，解決半...

雙電四探針方阻測試儀分析方法，適用于生產(chǎn)企業(yè)、高等院校、科研部門，是檢驗和分析導(dǎo)體材料和半導(dǎo)體材料質(zhì)量的一種重要的工具。本儀器配置各類測量裝置可以測試不同材料四...

硅片四探針電導(dǎo)率測試儀操作方法，參照標(biāo)準(zhǔn)：硅片電阻率測量的標(biāo)準(zhǔn)（ASTMF84）.GB/T1551-2009《硅單晶電阻率測定方法》.

高溫四探針電阻率測試儀樣品檢測， 采用高精度AD芯片控制，恒流輸出，結(jié)構(gòu)合理、質(zhì)量輕便，運輸安全、使用方便；配備軟件可以由電腦操控。用于：企業(yè)、高等院校、科研部...

涂布層四探針測試儀計算公式，本儀器采用四探針單電測量法適用于生產(chǎn)企業(yè)、高等院校、科研部門，是檢驗和分析導(dǎo)體材料和半導(dǎo)體材料質(zhì)量的一種重要的工具。本儀器配置各類測...

雙電四探針電阻率詳情介紹，本儀器本儀器采用四探針雙電測量方法，適用于生產(chǎn)企業(yè)、高等院校、科研部門，是檢驗和分析導(dǎo)體材料和半導(dǎo)體材料質(zhì)量的一種重要的工具。本儀器配...

雙電測電四探針方阻電阻率測試儀參數(shù)，本儀器采用4.3吋大液晶屏幕顯示，同時顯示液晶顯示：電阻、電阻率、方阻、溫度、單位換算、溫度系數(shù)、電流、電壓、探針形狀、探針...

薄膜方塊電阻率測試使用說明，本儀器本儀器采用四探針單電測量法適用于生產(chǎn)企業(yè)、高等院校、科研部門，是檢驗和分析導(dǎo)體材料和半導(dǎo)體材料質(zhì)量的一種重要的工具。本儀器配置...

普通四探針方阻電阻率測試儀軟件操作，儀器自動測量并根據(jù)測試結(jié)果自動轉(zhuǎn)換量程，無需人工多次和重復(fù)設(shè)置。采用高精度AD芯片控制，恒流輸出，結(jié)構(gòu)合理、質(zhì)量輕便，運輸安...

普通四探針方阻電阻率測試儀現(xiàn)貨，本機(jī)配置232電腦接口及USB兩種接口。本儀器本儀器采用四探針單電測量法適用于生產(chǎn)企業(yè)、高等院校、科研部門，是檢驗和分析導(dǎo)體材料...

導(dǎo)電涂層四探針方阻電阻率測試儀，按照硅片電阻率測量的標(biāo)準(zhǔn)（ASTM F84）及標(biāo)準(zhǔn)設(shè)計制造該儀器設(shè)計符合GB/T 1551-2009 《硅單晶電阻率測定方法》、...

PCB銅箔膜四探針方阻電阻率測試儀，按照硅片電阻率測量的標(biāo)準(zhǔn)（ASTM F84）及標(biāo)準(zhǔn)設(shè)計制造該儀器設(shè)計符合GB/T 1551-2009 《硅單晶電阻率測定方法...

高溫四探針電阻測試儀，該儀器設(shè)計符合單晶硅物理測試方法標(biāo)準(zhǔn)并參考美國 A.S.T.M 標(biāo)準(zhǔn)。利用電流探針、電壓探針的變換，進(jìn)行兩次電測量，對數(shù)據(jù)進(jìn)行雙電測分析，...

涂布層四探針電阻率測試儀操作手冊，采用四探針組合雙電測量方法，液晶顯示，自動測量，自動量程，自動系數(shù)補(bǔ)償.高集成電路系統(tǒng)、恒流輸出；選配：PC軟件進(jìn)行數(shù)據(jù)管理和...

導(dǎo)體粉末電阻率測試儀計量方法，本儀器本儀器采用四探針測量法適用于生產(chǎn)企業(yè)、高等院校、科研部門，是檢驗和分析導(dǎo)體粉末材料和半導(dǎo)體粉末材料質(zhì)量的一種重要的工具液晶顯...

金屬薄膜四探針電阻率測試儀可以測量片狀、塊狀半導(dǎo)體材料的電阻率，擴(kuò)散層的薄層電阻（亦稱方塊電阻）。也可測柔性導(dǎo)電薄膜和玻璃等硬基底上導(dǎo)電膜的方塊電阻（簡稱方阻）...

四探針方阻電阻率測試儀檢測范圍，四探針組合雙電測量方法，2.液晶顯示，自動測量，自動量程，自動系數(shù)補(bǔ)償.

金屬涂層四探針方阻電阻率測試儀使用方法，參照標(biāo)準(zhǔn)：硅片電阻率測量的標(biāo)準(zhǔn)（ASTMF84）.GB/T1551-2009《硅單晶電阻率測定方法》.GB/T1551-...