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四探針方阻儀廣泛用于：覆蓋膜;導電高分子膜，高、低溫電熱膜;隔熱、防輻射導電窗膜 導電（屏蔽）布、裝飾膜、裝飾紙;金屬化標簽、合金類箔膜;熔煉、燒結(jié)、濺射、涂覆...
雙電四探針方阻測試儀分析方法，適用于生產(chǎn)企業(yè)、高等院校、科研部門，是檢驗和分析導體材料和半導體材料質(zhì)量的一種重要的工具。本儀器配置各類測量裝置可以測試不同材料四...
金屬涂層四探針方阻電阻率測試儀使用方法，參照標準：硅片電阻率測量的標準（ASTMF84）.GB/T1551-2009《硅單晶電阻率測定方法》.GB/T1551-...
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