X-4顯微熔點測定儀可廣泛應用于醫(yī)藥、化工紡織、橡膠、制藥等方面的生產化驗、藥品檢驗和高等院?；瘜W系等部門的單晶或共晶等有機物質的分析；晶體的觀察和晶體熔點溫度的測定；X-4顯微熔點測定儀為研究工程材料、固體物理、觀察物體在加熱狀態(tài)下的形變、色變及物體三態(tài)轉化等物理變化的過程，提供了有力的檢測手段。

X-4顯微熔點測定儀結構原理：熔點儀顯微鏡、加熱臺為分體結構,通過簡單插入式熱傳感器相聯接，裝配簡單,使用方便，顯微鏡用來觀察樣品受熱后的反映變化及熔化的全過程。X-4顯微熔點測定儀加熱臺用電熱絲加熱，LED數顯溫度，自動恒溫，可設定恒溫時間，通過設定溫度和調節(jié)輸出電壓達到控制溫升速度和恒溫目的。X-4顯微熔點測定儀帶有散熱器,當實驗完成后可用于快速降溫。可用于載波片法測量，也可用毛細管測量熔點。

X-4顯微熔點測定儀技術參數：

放大倍數：2X/4X物鏡，10X目鏡；       工作距離：30-110mm；

物方視場：Φ110mm-Φ3mm；             測定量：小于1mg/次；

測定誤差：滿量程±0.5%；              測量準確度：±0.5℃