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介電常數(shù)測試儀【介電常數(shù)裝置】
| 參考價 | 面議 |
- 型號 GDAT-C
- 品牌
- 廠商性質(zhì) 生產(chǎn)商
- 所在地 北京市
更新時間：2024-08-12 07:34:22瀏覽次數(shù)：1073
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高頻介質(zhì)損耗測試系統(tǒng)由S916測試裝置（夾具）、GDAT型高頻Q表、數(shù)據(jù)采集和tanδ自動測量控件（裝入GDAT）、及LKI-1型電感器組成，它依據(jù)國標(biāo)GB/T 1409-2006、美標(biāo)ASTM D150以及電工委員會IEC60250的規(guī)定設(shè)計制作。系統(tǒng)提供了絕緣材料的高頻介質(zhì)損耗角正切值（tanδ）和介電常數(shù)（ε）自動測量的*解決方案。
介電常數(shù)測試儀BH916測試裝置GDAT高頻Q表
平板電容極片Φ50mm/Φ38mm 可選頻率范圍20KHz-60MHz/200KHz-160MHz
間距可調(diào)范圍≥15mm 頻率指示誤差3×10-5±1個字
夾具插頭間距25mm±0.01mm 主電容調(diào)節(jié)范圍30-500/18-220pF
測微桿分辨率0.001mm 主調(diào)電容誤差<1%或1pF
夾具損耗角正切值≦4×10-4 （1MHz） Q測試范圍2～1023
北京北廣精儀儀器設(shè)備有限有限公司
：
聯(lián) 系 人：李叢林
地 址：北京市海淀區(qū)建材城西路50號
公司：http://www.beiguangjy.com
介電常數(shù)測試儀《BH916介質(zhì)損耗裝置》（測試夾具）是測試系統(tǒng)的核心檢測部件，它由一個LCD數(shù)字顯示的微測量裝置和一對經(jīng)精密加工的、間距可調(diào)的平板電容器極片組成。平板電容器極片用于夾持被測材料樣品，微測量裝置則顯示被測材料樣品的厚度。通過被測材料樣品放進(jìn)平板電容器和不放進(jìn)樣品時的Q值變化的量化，測得絕緣材料的損耗角正切值。從平板電容器平板間距的讀值變化則可換算得到絕緣材料介電常數(shù)。BH916介質(zhì)損耗測試裝置是本公司研制的更新?lián)Q代產(chǎn)品，精密的加工設(shè)計、精確的LCD數(shù)字讀出、一鍵式清零功能，克服了機(jī)械刻度讀數(shù)誤差和圓筒形電容裝置不可避免的測量誤差。
線圈號 測試頻率 Q值 分布電容p 電感值
9 100KHz 98 9.4 25mH
8 400KHz 138 11.4 4.87mH
7 400KHz 202 16 0.99mH
6 1MHz 196 13 252μH
5 2MHz 198 8.7 49.8μH
4 4.5MHz 231 7 1 0μH
3 12MHz 193 6.9 2.49μH
2 12MHz 229 6.4 0.508μH
1 25MHz 233 0.9 0.125μH
50MHz 211
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