X射線金屬鍍層測(cè)厚儀韓國XRF-2000L型

備注：XRF-2000型測(cè)厚儀現(xiàn)已全部升級(jí)為XRF-2020系列

XRF-2020測(cè)厚儀：快速無損測(cè)量電鍍層膜厚儀

儀器產(chǎn)地：韓國

品牌：Micropioneer

型號(hào)：XRF-2020H型，XRF-2020L型

規(guī)格型號(hào)如下圖所示

儀器規(guī)格

XRF-2020L型:測(cè)量樣品長寬55cm,高3cm:臺(tái)面載重3kg

XRF-2020H型:測(cè)量樣品長寬55cm,高12cm:臺(tái)載重5kg

儀器全自動(dòng)臺(tái)面,自動(dòng)雷射對(duì)焦,多點(diǎn)自動(dòng)測(cè)量

多個(gè)準(zhǔn)直器可選擇：0.1mm,0.2mm,0.3mm,0.4mm,0.03*0.5mm

可配多個(gè)或單個(gè)準(zhǔn)直器,準(zhǔn)直器大小可自動(dòng)切換

Microp XRF-2020測(cè)厚儀(韓國微先鋒）

快速無損測(cè)量鍍金，鍍銀，鍍錫，鍍銀，鍍鎳，鍍銅，鍍鋅鎳合金等！

測(cè)量原理：

物質(zhì)經(jīng)X射線或粒子射線照射后，由于吸收多余的能量而變成不穩(wěn)定的狀態(tài)。從不穩(wěn)定狀態(tài)要回到穩(wěn)定狀態(tài)，此物質(zhì)必需將多余的能量釋放出來，而此時(shí)是以熒光或光的形態(tài)被釋放出來。熒光X射線鍍層厚度測(cè)量儀或成分分析儀的原理就是測(cè)量這被釋放出來的熒光的能量及強(qiáng)度，來進(jìn)行定性和定量分析。

測(cè)量方法：X熒光法

特征：快速無損檢測(cè)

儀器特長：全自動(dòng)臺(tái)，自動(dòng)雷射對(duì)焦！測(cè)量準(zhǔn)確