XRF-2000X射線測(cè)厚儀
韓國(guó)Micro Pioneer XRF-2000型測(cè)厚儀
應(yīng)用于快速準(zhǔn)確無(wú)損檢測(cè)各種金屬鍍層厚度:
測(cè)量鍍金,鍍銀,鍍鎳,鍍鋅,鍍銅,鍍錫,鍍鈀等
XRF-2020型鍍層測(cè)厚儀:可測(cè)單鍍層,雙鍍層,多鍍層,合金鍍層等,不限底材。
如單鍍層銅上鍍銀,銅上鍍鎳,銅上鍍鋅,銅上鍍錫,鐵上鍍鎳等
雙鍍層如銅上鍍鎳鍍金,鐵上鍍銅鍍鎳,銅上鍍鎳鍍銀等,不限底材
多鍍層如:ABS上鍍銅鍍鎳鍍鉻,鐵上鍍銅鍍鎳鍍金等,不限底材
合金鍍層如:鐵上鍍鋅鎳等。不限底材
XRF-2000X射線測(cè)厚儀
檢測(cè)電鍍層測(cè)厚度,可測(cè)單鍍層,雙鍍層,多鍍層及合金鍍層。
檢測(cè)范圍0.05-35um
Micro Pioneer XRF-2000鍍層測(cè)厚儀*,配置全自動(dòng)臺(tái)面,自動(dòng)雷射對(duì)焦。