半導休支架鍍錫X-RAY膜厚儀鍍錫厚度測量范圍0.1-50um

銅上鍍錫X射線測厚儀：檢測電子電鍍層厚度,銅上鍍錫，鐵上鍍錫

鐵上鍍銅鍍錫等

XRF-2020電鍍層測厚儀

品牌 : MICRO PIONEER 先鋒

原產(chǎn)地 : 韓國

 儀器功能 : 測量電鍍層厚度

檢測電子電鍍,化學鍍層厚度,如鍍金,鍍鎳,鍍銅,鍍鉻,鎳鋅,鍍銀,鍍鈀...

可測單層,雙層,多層,合金鍍層,

測量范圍:0.03-35um

測量精度:±5%,測量時間只需30秒便可準確知道鍍層厚度

韓國XRF-2020鍍層測厚儀

全自動臺面,自動雷射對焦

多點自動測量 (方便操作人員準確快捷檢測樣品）
測量樣品高度不超過3cm(亦有10CM可選)

特別訂制可測20cm以內(nèi)高度產(chǎn)品
鍍層厚度測試范圍：0.03－35um

可測試單鍍層，雙鍍層，多鍍層及合金鍍層厚度
測量時間：10－30秒
 

精度控制：
 

表層：±5%以內(nèi)，第二層：±8%以內(nèi)， 第三層：±12%以內(nèi)

測厚儀韓國Micro Pioneer XRF-2020

測量鍍金,鍍銀,鍍鎳,鍍鋅,鍍銅,鍍錫,鍍鈀等

可測單鍍層，雙鍍層，多鍍層，合金鍍層等。

韓國XRF-2020電鍍測厚儀

品牌：Micro Pioneer

原產(chǎn)地：韓國

型號XRF-2020

功能及應用：測量鍍：鍍金、鍍鋅、鍍鈀、鍍鉻、鍍銅、鍍銀、鍍錫、鍍鎳，鍍鋅鎳合金等

可測單鍍層，雙鍍層，多鍍層及合金鍍層，不限底材。

韓國Micro Pioneer XRF-2020??鍍層測厚儀

銅上鍍錫X射線測厚儀：檢測電子電鍍層厚度,銅上鍍錫，鐵上鍍錫

鐵上鍍銅鍍錫等

半導休支架鍍錫X-RAY膜厚儀