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當前位置：上海精誠興儀器儀表有限公司>>X光鍍層測厚儀>> 韓國XRF-2000X射線測厚儀精度
| 參 考 價: | 面議 |
產(chǎn)品型號
品牌其他品牌
廠商性質(zhì)經(jīng)銷商
所在地上海市
更新時間：2018-09-19 14:00:56瀏覽次數(shù)：881次
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韓國XRF-2000X射線測厚儀精度
韓國XRF-2000X射線測厚儀精度
*層：±5%以內(nèi)
第二層：±8%以內(nèi)
第三層：±15%以內(nèi)
韓國XRF-2000X射線測厚儀測試范圍
Au 0.03-6um
Pd 0.03-6um
Ni 0.5-30um
Ni-P 0.5-30um
Sn 0.3-50um
Ag 0.1-50um
Cr 0.5-30um
Zn 0.5-30um
ZnNi 0.5-30um
SnCu 0.5-30um
韓國XRF-2000測厚儀配置
全自動臺面
自動雷射對焦
多點自動測量 (方便操作人員準確快捷檢測樣品）
測量樣品高度3cm 10cm 15cm 20cm 以內(nèi)四種規(guī)格可選
測量樣品長寬均為55cm
可測試單層，雙層，多層及合金鍍層厚度
每層鍍層都可分開顯示各自厚度.
測量時間：10－30秒
韓國XRF-2000X射線測厚儀精度:顯示小數(shù)點后三位
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