韓國先鋒XRF-2000鍍層測厚儀

1 ,全自動可編程XYZ三軸定位全自動工作臺,工作臺行(200*150*140)
平均移動速度60mm/s,工作臺重復定位精度優(yōu)于0.01mm

2,激光點精密定位測量位置,具有高分辯CCD彩色攝像頭樣品觀察視察 
  手動或自動聚焦方式

3 可無損測量及定性分析元素17CL-92U 
 可對單一金屬鍍層及多鍍層合金鍍厚度進行測量.

4 X射線管高壓0-50KV(程控)
  管電流0-1Ma

5:可進行無損鍍層厚度測量及鍍層成分定性分析及鍍液分析

7 鍍層測量精鍍,*層正負5%,第二層10%  第三層15%

9 測量軟件具有對多個測量結(jié)果進行統(tǒng)計分析和圖表顯示功能.

10 測量結(jié)果多種單位可轉(zhuǎn)換,顯示小數(shù)點后三位.

11,準直器在小:0.1mm  0.2mm  0.3mm  0.4mm 0.05*0.3mm (5個)

韓國先鋒X-RAY膜厚儀測量范圍

Au  0.03-4um

Pd  0.03-4um

Ni  0.05-20um

Ni-P 0.05-20um

Sn 0.05-80um

Ag  0.03-20um

Cr  0.05-20um

Zn  0.05-20um

ZnNi 0.05-20um

SnCu 0.05-20um

韓國XRF-2000X射線鍍層測厚儀

檢測電子電鍍,化學電鍍層厚度,
如鍍金,鍍鎳,鍍銅,鍍鉻,鎳鋅,鍍銀,鍍鈀,鍍錫...
可測單層,雙層,多層,合金鍍層,

設(shè)備功能描述

兼容Microsoft Windows 操作系統(tǒng)

使用X熒光射線非接觸非破壞快速測量膜厚層

各種樣品單層至多層（5層），合金膜層均可測量

定點自動定位分析

光徑對準全自動

影像重疊功能

自動顯示測量參數(shù)

彩色區(qū)別測量數(shù)據(jù)

多重統(tǒng)計顯示視窗與報告編輯應用2D/3D，任意位置測量控制Y軸全自動控制雷射對焦與自動定位系統(tǒng)

多種機型選擇X-ray運行待命（睡眠）控制溫控穩(wěn)定延長校準時效全進口美日系零件價格優(yōu)勢及快速的服務(wù)時效

韓國先鋒XRF-2000鍍層測厚儀

測量鍍種為：鍍金、鍍鋅、鍍鈀、鍍鉻、鍍銅、鍍銀、鍍錫、鍍鎳，鍍鋅鎳合金等

兼容Microsoft Windows 操作系統(tǒng)

使用X熒光射線可作非接觸非破壞快速分析膜層

擁有多種濾波器選擇

各種樣品單層至多層（5層），合金膜層與溶液均可測量

定點自動定位分析

光徑對準全自動

影像重疊功能

自動顯示測量參數(shù)

彩色區(qū)別測量數(shù)據(jù)

韓國先鋒XRF-2000鍍層測厚儀精度控制：

*層：±5%以內(nèi)

 第二層：±8%以內(nèi)

 第三層：±15%以內(nèi)