銅上鍍錫X射線無(wú)損鍍層測(cè)厚儀

韓國(guó)XRF-2000銅上鍍銀測(cè)厚儀

1、測(cè)量電鍍層厚度范圍為0.03微米～35微米。

2、可測(cè)量鍍種為：鍍金、鍍鋅、鍍鈀、鍍鉻、鍍銅、鍍銀、鍍錫、鍍鎳及鋅鎳合金等。

3、可滿足單鍍層、雙鍍層、多鍍層、合金鍍層測(cè)量，不限底村。

韓國(guó)XRF-2000X光鍍層測(cè)厚儀

韓國(guó)XRF-2000X光鍍層測(cè)厚儀,測(cè)量鍍金,鍍銀,鍍鎳,鍍鋅,鍍銅,鍍錫,鍍鈀等

 可測(cè)單鍍層，雙鍍層，多鍍層，合金鍍層等。

XRF-2000鍍層測(cè)厚儀共三款型號(hào)

不同型號(hào)功能一樣

機(jī)箱容納樣品大小有以下不同要求

XRF-2000鍍層測(cè)厚儀型號(hào)介紹

XRF-2000鍍層測(cè)厚儀H型:測(cè)量樣品高度不超過(guò)10cm

XRF-2000電鍍測(cè)厚儀L型:測(cè)量樣品高度不超過(guò)3cm

XRF-2000電鍍膜厚儀PCB型:測(cè)量樣品高度不超3cm(開(kāi)放式設(shè)計(jì),可檢測(cè)大型樣品

儀器功能

全自動(dòng)臺(tái)面

自動(dòng)雷射對(duì)焦

多點(diǎn)自動(dòng)測(cè)量 (方便操作人員準(zhǔn)確快捷檢測(cè)樣品）

測(cè)量樣品高度3cm 10cm 15cm 20cm 以內(nèi)四種規(guī)格可選

鍍層厚度測(cè)試范圍：0.03－35um

可測(cè)試單層，雙層，多層及合金鍍層厚度

每層鍍層都可分開(kāi)顯示各自厚度.

測(cè)量時(shí)間：10－30秒

韓國(guó)XRF2000X光鍍層測(cè)厚儀精度控制：

*層：±5%以內(nèi)

 第二層：±8%以內(nèi)

 第三層：±15%以內(nèi)

銅上鍍錫X射線無(wú)損鍍層測(cè)厚儀