LED支架銅上鍍錫測厚儀：測量范圍0.3-60um

韓國先鋒Micro Pioneer鍍層測厚儀

檢測電子電鍍層厚度：如鍍金，鍍鎳，鍍鋅，鍍錫，鍍鉻，鍍鋅鎳

鍍銀等。

XRF-2000鍍層測厚儀基本技術(shù)參數(shù)：

1、測量的厚度范圍為0.03微米～35微米。

2、可滿足的測量鍍種為：鍍金、鍍鋅、鍍鈀、鍍鉻、鍍銅、鍍銀、鍍錫、鍍鎳等

3、可滿足單鍍層、雙鍍層、多鍍層、合金鍍層測量，不限底料。

三、設(shè)備功能描述

兼容Microsoft Windows 操作系統(tǒng)

使用X熒光射線可作非接觸非破壞快速分析膜層

擁有多種濾波器選擇

各種樣品單層至多層（5層），合金膜層與溶液均可測量

定點自動定位分析

光徑對準(zhǔn)全自動

影像重疊功能

自動顯示測量參數(shù)

彩色區(qū)別測量數(shù)據(jù)

多重統(tǒng)計顯示視窗與報告編輯應(yīng)用2D/3D，

任意位置測量控制Y軸全自動控制鐳射對焦與自動定位系統(tǒng)

多種機(jī)型選擇X-ray運行待命

LED支架銅上鍍錫測厚儀：測量范圍0.3-60um