韓國XRF-2000L型測厚儀
韓國 MICRO PIONEER X-RAY膜厚儀
XRF-2000L型電鍍層測厚儀
韓國XRF-2000X光鍍層測厚儀,測量鍍金,鍍銀,鍍鎳,鍍鋅,鍍銅,鍍錫,鍍鈀,鍍鉻等
可測單鍍層,雙鍍層,多鍍層,合金鍍層等。
XRF-2000鍍層測厚儀共三款型號
不同型號功能一樣
機箱容納樣品大小有以下不同要求
XRF-2000鍍層測厚儀型號介紹
XRF-2000鍍層測厚儀H型:測量樣品高度不超過10cm
XRF-2000電鍍測厚儀L型:測量樣品高度不超過3cm
XRF-2000電鍍膜厚儀PCB型:測量樣品高度不超3cm
儀器配置
全自動臺面
自動雷射對焦
多點自動測量 (方便操作人員準確快捷檢測樣品)
儀器空納檢測樣品高度3cm 10cm 15cm 20cm 以內(nèi)四種規(guī)格可選
鍍層厚度測試范圍:0.03-35um
可測試單層,雙層,多層及合金鍍層厚度
每層鍍層都可分開顯示各自厚度.
測量時間:10-30秒
韓國MICRO PIONEER X-RAY膜厚儀
XRF-2000鍍層測厚儀