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當(dāng)前位置:鄭州卓泰檢測(cè)設(shè)備有限公司>>探傷儀>> OmniScan MX奧林巴斯 OLYMPUS 陣列渦流探傷儀 及探頭
參 考 價(jià) | 面議 |
產(chǎn)品型號(hào)OmniScan MX
品 牌OLYMPUS/奧林巴斯
廠商性質(zhì)代理商
所 在 地鄭州市
更新時(shí)間:2024-04-02 08:26:16瀏覽次數(shù):589次
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奧林巴斯 OLYMPUS陣列渦流探傷儀 OmniScan MX及渦流探頭
經(jīng)過(guò)現(xiàn)場(chǎng)驗(yàn)證的、可靠的儀器OmniScan MX是一款已經(jīng)現(xiàn)場(chǎng)驗(yàn)證、性能可靠的儀器,其機(jī)身結(jié)構(gòu)堅(jiān)固耐用,可以在嚴(yán)酷、惡劣的檢測(cè)環(huán)境中正常工作;現(xiàn)在世界上正在使用的OmniScan MX儀器有成千上萬(wàn)臺(tái)。這款儀器緊湊、輕巧,使用兩節(jié)鋰離子電池供電,在電池滿電量時(shí),可以進(jìn)行長(zhǎng)達(dá)6小時(shí)的手動(dòng)或半自動(dòng)檢測(cè)。
OmniScan MX儀器的8.4英寸顯示屏可以實(shí)時(shí)顯示高清彩色圖像,在大多數(shù)光線條件下,操作人員都可以查看缺陷及其細(xì)微情況。用戶(hù)可使用飛梭旋鈕和功能鍵在儀器簡(jiǎn)潔、直觀的界面上輕松瀏覽,也可以將USB鼠標(biāo)連接到儀器,方便對(duì)檢測(cè)數(shù)據(jù)進(jìn)行分析。一個(gè)平臺(tái)、兩款模塊、三種技術(shù):靈活適用性更強(qiáng)為了滿足更廣泛應(yīng)用的要求,兩款模塊都提供渦流檢測(cè)(ECT)、渦流陣列(ECA)以及粘接檢測(cè)(BT)C掃描技術(shù)。兩款模塊都與MXE(ECT/ECA)和MXB(BT C掃描)軟件兼容;要做到這點(diǎn),只需在各種技術(shù)之間進(jìn)行簡(jiǎn)單轉(zhuǎn)換,操作人員接受少許培訓(xùn)即可。奧林巴斯無(wú)損檢測(cè)(NDT)探頭是高質(zhì)量的檢測(cè)設(shè)備,有多種頻率、配置、連接方式和電纜類(lèi)型。奧林巴斯的所有探頭都很輕,但結(jié)構(gòu)卻很堅(jiān)固。奧林巴斯在設(shè)計(jì)和制造無(wú)損檢測(cè)探頭方面經(jīng)驗(yàn)豐富,其所提供的設(shè)備可滿足或超過(guò)全球客戶(hù)的檢測(cè)要求。奧林巴斯所提供的系列探頭可用于探傷、測(cè)厚和材料研究等應(yīng)用。此外,奧林巴斯還提供設(shè)計(jì)服務(wù),為客戶(hù)定制可滿足應(yīng)用需求的探頭解決方案。渦流探頭渦流探頭包含奧林巴斯所購(gòu)買(mǎi)的Nortec品牌探頭和NDT工程探頭。我們提供10000多種標(biāo)準(zhǔn)的和用戶(hù)定制的渦流探頭、標(biāo)準(zhǔn)參考試塊及配件。
便攜式渦流(EC)探傷儀用于檢測(cè)金屬部件,其對(duì)工件表面和近表面缺陷的檢測(cè)性能非??煽俊M暾盗械谋銛y式探傷儀可以服務(wù)于各種各樣的應(yīng)用。渦流探頭生成磁場(chǎng),磁場(chǎng)在被測(cè)工件中產(chǎn)生電流,電流又會(huì)影響磁場(chǎng)及線圈中電壓的量值及相位。這些探傷儀可以進(jìn)行的應(yīng)用包括對(duì)表面或近表面缺陷的探測(cè),合金分揀,及螺栓孔的檢測(cè)。OmniScan MX ECA/ECT用于進(jìn)行渦流陣列檢測(cè)。其檢測(cè)配置支持32個(gè)傳感器線圈(使用外置多路轉(zhuǎn)換器可支持64個(gè)線圈),其工作模式可為橋式或發(fā)送接收式。其工作頻率范圍為20 Hz到6 MHz,帶有一個(gè)可以在同一采集操作過(guò)程中使用多頻的選項(xiàng)。
奧林巴斯無(wú)損檢測(cè)(NDT)探頭是高質(zhì)量的檢測(cè)設(shè)備,有多種頻率、配置、連接方式和電纜類(lèi)型。奧林巴斯的所有探頭都很輕,但結(jié)構(gòu)卻很堅(jiān)固。奧林巴斯在設(shè)計(jì)和制造無(wú)損檢測(cè)探頭方面經(jīng)驗(yàn)豐富,其所提供的設(shè)備可滿足或超過(guò)全球客戶(hù)的檢測(cè)要求。奧林巴斯所提供的系列探頭可用于探傷、測(cè)厚和材料研究等應(yīng)用。此外,奧林巴斯還提供設(shè)計(jì)服務(wù),為客戶(hù)定制可滿足應(yīng)用需求的探頭解決方案。
渦流探頭渦流探頭包含奧林巴斯所購(gòu)買(mǎi)的Nortec品牌探頭和NDT工程探頭。我們提供10000多種標(biāo)準(zhǔn)的和用戶(hù)定制的渦流探頭、標(biāo)準(zhǔn)參考試塊及配件。
便攜式渦流(EC)探傷儀用于檢測(cè)金屬部件,其對(duì)工件表面和近表面缺陷的檢測(cè)性能非??煽?。完整系列的便攜式探傷儀可以服務(wù)于各種各樣的應(yīng)用。渦流探頭生成磁場(chǎng),磁場(chǎng)在被測(cè)工件中產(chǎn)生電流,電流又會(huì)影響磁場(chǎng)及線圈中電壓的量值及相位。這些探傷儀可以進(jìn)行的應(yīng)用包括對(duì)表面或近表面缺陷的探測(cè),合金分揀,及螺栓孔的檢測(cè)。
新款NORTEC 600將高性能渦流探傷領(lǐng)域中的技術(shù)整合到一臺(tái)堅(jiān)固耐久的儀器中。NORTEC 600帶有一個(gè)鮮艷的5.7英寸VGA彩色顯示屏,發(fā)出用戶(hù)可選的、高對(duì)比度渦流信號(hào)。
用于管材檢測(cè)的MultiScan MS 5800 這是一款可利用渦流、漏磁、遠(yuǎn)場(chǎng)及IRIS超聲技術(shù)的多技術(shù)檢測(cè)系統(tǒng)。
用于管材檢測(cè)的探頭是指那些用在鐵磁性或非鐵性管材檢測(cè)應(yīng)用中的重量雖輕但堅(jiān)固結(jié)實(shí)的渦流、遠(yuǎn)場(chǎng)、漏磁及IRIS超聲探頭。
旋轉(zhuǎn)螺栓孔掃查器
這款高性能渦流螺栓孔掃查器可與Nortec渦流探傷儀一起使用。這款掃查器具有以下特性:600~3000 rpm的速度范圍、100 Hz~6 MHz的頻率范圍、多種接口類(lèi)型、多種探頭類(lèi)型,可提供多種檢測(cè)應(yīng)用解決方案。
OmniScan MX ECA/ECT
用于進(jìn)行渦流陣列檢測(cè)。其檢測(cè)配置支持32個(gè)傳感器線圈(使用外置多路轉(zhuǎn)換器可支持64個(gè)線圈),其工作模式可為橋式或發(fā)送接收式。其工作頻率范圍為20 Hz到6 MHz,帶有一個(gè)可以在同一采集操作過(guò)程中使用多頻的選項(xiàng)。
奧林巴斯渦流探傷儀OmniScan MX
OmniScan MX | 總體尺寸(寬×高×厚) | 321 mm × 209 mm × 125 mm |
重量 | 4.6公斤,含模塊和一個(gè)電池 | |
顯示 | 8.4英寸TFT液晶顯示,800像素× 600像素,1千6百萬(wàn)種顏色 | |
電源供應(yīng) | 智能鋰離子電池(最多兩節(jié)),直流電輸入電壓為15 V到18 V(50 W) | |
電池供電時(shí)間 | 使用兩節(jié)電池,至少可使儀器工作6小時(shí);正常操作條件下,每節(jié)電池至少可使儀器工作3小時(shí)。 | |
數(shù)據(jù)存儲(chǔ) | CompactFlash(閃存)卡、大多數(shù)標(biāo)準(zhǔn)的USB存儲(chǔ)裝置,或者通過(guò)快速以太網(wǎng)、內(nèi)置32-MB DiskOnChip(芯片磁盤(pán))。 | |
I/O端口 | 3個(gè)USB端口、1個(gè)視頻輸出端口(SVGA)、以太網(wǎng)端口(10/100 Mbps)、雙軸編碼器接口、4個(gè)數(shù)字輸入端口(TTL)。 | |
工作溫度范圍 | 0 °C~40 °C;使用32:128 PA模塊時(shí),0 °C~35 oC | |
存儲(chǔ)溫度范圍 | –20 °C~70 °C,相對(duì)濕度為0 %~95 %,無(wú)冷凝。無(wú)進(jìn)氣孔;防濺設(shè)計(jì)。 | |
MX模塊兼容性 | OMNI-M-ECT4 | 支持常規(guī)渦流和粘接檢測(cè)C掃描(不含適配器) |
OMNI-M-ECA4-32 | 支持渦流陣列、常規(guī)渦流和粘接檢測(cè)C掃描(不含適配器) | |
ECT/BT和ECA模塊 | 接口 | BNC探頭(ECT)接口、4通道通用Fischer 19針(ECT和BT)接口,以及用于連接ECA探頭的OmniScan接口 |
通道數(shù)量 | 1到4個(gè)(ECT);32個(gè)(ECA),通過(guò)外置多路轉(zhuǎn)換器可以擴(kuò)展到64個(gè);1個(gè)(BT),帶適配器 | |
探頭兼容性 | 、差分、橋式、反射式(驅(qū)動(dòng)器-拾波器)與ECT和ECA探頭兼容。 通過(guò)使用適配器,可支持所選的BondMaster一發(fā)一收探頭(還需使用掃查器) | |
探頭識(shí)別 | 自動(dòng)探頭識(shí)別,并為ECA和BT探頭進(jìn)行設(shè)置 | |
頻率 | 大多數(shù)ECA和ECT設(shè)置有2個(gè)一般頻率,對(duì)于自定義ECT應(yīng)用或粘接檢測(cè)C掃描,可多達(dá)8個(gè)頻率。 | |
操作頻率 | 20 Hz~6 MHz | |
電壓 | 12 Vp-p,10 Ω | |
增益 | ECT和ECA:34 dB~74 dB。BT:28 dB~68 dB。附加可調(diào)的軟件增益范圍:0 dB~30 dB。 | |
相位旋轉(zhuǎn) | 0°~360°,步距為0.1°。 | |
采集(測(cè)量)速率 | 1 Hz~15 kHz,根據(jù)配置可變。 | |
A/D分辨率 | 16位 | |
濾波 | FIR低通、FIR高通、FIR帶通、FIR帶阻(截止頻率可調(diào))、中值濾波器(在2點(diǎn)~200點(diǎn)之間變化)、平均濾波器(在2點(diǎn)~200點(diǎn)之間變化) | |
通道處理 | 真實(shí)的自動(dòng)混合,靈敏度歸一化,以及編碼器校準(zhǔn) | |
編碼器 | 時(shí)基,單行掃查或光柵掃查(雙軸) | |
報(bào)警 | 3個(gè)報(bào)警,分別配置為餅形、框形、圓環(huán)/圓圈形。報(bào)警輸出有視覺(jué)、TTL和聲音類(lèi)型。 | |
模擬輸出 | 有,僅一個(gè)通道。 |
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