產(chǎn)地類別 |
進口 |
價格區(qū)間 |
50萬-100萬 |
正置偏光顯微鏡 Leica DM4 P, DM2700 P & DM750 P
研究晶體結(jié)構(gòu),偏光顯微鏡將是您的Z佳選擇。無論是礦物、塑料和聚合物、藥物藥品或燃料和接合劑,徠卡正置偏光顯微鏡都能幫助您觀察到Z感興趣的內(nèi)容,完成您的研究或質(zhì)量控制任務(wù)。
正置偏光顯微鏡 Leica DM4 P, DM2700 P & DM750 P
正置偏光顯微鏡 Leica DM4 P, DM2700 P & DM750 P
技術(shù):李
令樣品呈現(xiàn)水晶般清晰透亮
正置偏光顯微鏡 Leica DM4 P, DM2700 P & DM750 P
如果您想要研究晶體結(jié)構(gòu),偏光顯微鏡將是您的佳選擇。無論是礦物、塑料和聚合物、藥物藥品或燃料和接合劑,徠卡正置偏光顯微鏡都能幫助您觀察到感興趣的內(nèi)容,完成您的研究或質(zhì)量控制任務(wù)。
根據(jù)不同的應(yīng)用,您可以從三種不同的偏光顯微鏡系統(tǒng)中進行選擇:
- *編碼的半自動 Leica DM4 P
- 手動 Leica DM2700 P
- Leica DM750 P 教學(xué)顯微鏡
了解更多關(guān)于科學(xué)實驗室偏光顯微鏡的信息。
徠卡全統(tǒng)一:
徠卡正置偏光顯微鏡采用無應(yīng)力光學(xué)部件
徠卡正置偏光顯微鏡助您獲得優(yōu)結(jié)果
您需要一些組件來實現(xiàn)偏光研究目標(biāo)。以下都是重要的組件:
- 無應(yīng)力光學(xué)部件,因為您需要確保觀測到的雙折射來自樣品而非光學(xué)部件
- LED 照明關(guān)重要,因為這種照明能夠均勻照亮樣品,并具有恒定的色溫
- 偏光鏡幫助您看到雙折射,旋轉(zhuǎn)臺幫助您對準(zhǔn)樣品和光軸
- 您還需要用于對光軸進行錐光觀察的勃氏鏡和用于測量任務(wù)的補償器
在偏光教程中逐步了解。
恰到好處的照明!
徠卡正置偏光顯微鏡采用LED 照明,較鹵素照明優(yōu)勢更加明顯:
- 它比鹵素照明消耗的能源少,而且無需更換,不會導(dǎo)致機器停機
- LED 使用壽命長達 25,000 小時
- LED 為樣品提供均勻照明,色溫恒定,為您提供真實的樣品形貌
- LED 可快速調(diào)整光強,讓您的工作順暢無阻
- LED 無需日光濾鏡,因為它已經(jīng)提供了 4500 K 恒定光溫
- LED 產(chǎn)生的熱量少,因此無需冷卻風(fēng)扇
- LED 可幫助您營造安靜無干擾的工作環(huán)境,因為沒有冷卻風(fēng)扇在周圍產(chǎn)生噪音
徠卡正置偏光顯微鏡采用LED照明
Leica DM4 P 半自動正置偏光顯微鏡
Leica DM4 P:*服務(wù)唾手可得
如果您想在偏光顯微鏡下進行各種操作,可以使用 Leica DM4 P 半自動正置偏光顯微鏡。
通過編碼組件存儲和調(diào)用信息
- 想要更換物鏡時,可通過照明強度控制和對比度管理器調(diào)用照明強度和光闌的設(shè)置。
- 得益于編碼物鏡轉(zhuǎn)盤的存在,攝取的圖像始終得到校準(zhǔn)。
辨識感興趣的結(jié)構(gòu)
- 25-mm 大視場為您帶來*的概覽圖像。
- 為您展現(xiàn)所需具體信息的往往是低放大倍率下的整體圖,而不是細(xì)節(jié)圖 — 比如流動結(jié)構(gòu)、變形結(jié)構(gòu)或冷卻過程造成的帶狀排列結(jié)構(gòu)。
讓物鏡轉(zhuǎn)盤來應(yīng)對!
物鏡轉(zhuǎn)盤配備 6 個物鏡并具有不同放大倍率,獲取豐富的樣品信息。
- 使用 2.5 倍概覽物鏡可識別樣品中的宏觀結(jié)構(gòu)
- 如要借助錐光法對光學(xué)屬性進行詳盡研究,可切換為 63 倍放大倍率
- 切換 100 倍可以沿顆粒邊界檢驗相反應(yīng)
而且物鏡轉(zhuǎn)盤也是編碼的,可為您提供智能支持。
徠卡偏光顯微鏡配備 6 物鏡轉(zhuǎn)盤
Leica DM4 P 偏光顯微鏡的 LED 照明可選擇使用透射光或入射光
兩種照明物盡其用
您可以將 Leica DM4 P 偏光顯微鏡配置為 LED 照明使用透射光或入射光,也可以一次性配置為使用兩種光源。
- 進行反射率測量時必須使用入射光,例如觀察礦石或煤炭。
- 進行雙折射測量時則需要使用透射光,例如檢測地質(zhì)薄片、聚合物薄膜或藥品。
- 在地質(zhì)研究等特殊應(yīng)用中,兩種光都*。
當(dāng)顯微鏡配置為使用入射光和透射光兩種光時,相關(guān)物鏡 (帶或不帶蓋玻片校正功能) 應(yīng)從 >10 倍的放大倍率開始使用。
研究光學(xué)屬性
錐光法用于研究干涉圖。這些圖的形狀和由補償器進行的修改可以生成有關(guān)研究材料光學(xué)屬性方面的信息。您可以測定材料的光軸數(shù)量、光軸角度和光學(xué)特性。
Leica DM4 P 非常適用于錐光法:
- 具有高放大倍率和高數(shù)值孔徑的無應(yīng)力物鏡是該項應(yīng)用的*條件。
- 使用特殊 63 倍徠卡物鏡,能滿足偏振等級 5 的高要求,從而獲取佳結(jié)果。
強散色 Brookit (TiO2) 錐光圖
方解石厚片的單軸干涉圖,垂直于光軸
黑云母晶體薄片圓偏光雙軸干涉圖,對角位置。光軸位置清晰可辨
*靈活性:Leica DM2700 P
如果您不需要全自動化和大可再現(xiàn)性,Leica DM2700 P 就是您的佳儀器選擇。除自動化以外,它還能提供毫不遜色于 Leica DM4 P 的靈活性。
- 在 5 倍可調(diào)中物鏡轉(zhuǎn)盤上使用 5 個物鏡獲取準(zhǔn)確無誤的樣品信息
- 在 22-mm 視場中獲得大概覽圖
- 借助入射光觀測的 UC-3D 照明,獲得效果更佳的對比度
Leica DM2700 P 正置偏光顯微鏡較其它顯微鏡更加靈活
Leica DM750 P 教學(xué)級偏光顯微鏡
教學(xué)*:Leica DM750 P
在教學(xué)中,您需要一種可供學(xué)生們?nèi)粘J褂玫哪陀霉ぞ摺J褂煤唵?,即插即?nbsp;— 這是成功教學(xué)的佳先決條件。
- 使用 4 個物鏡細(xì)致入微地了解您的樣品
- 采用 20-mm 視場,樣品概覽,一目了然
- 享受儀器帶來的實用細(xì)節(jié):使用手柄就可以搬動,電纜線可隱藏在儀器中