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說明：
    隨著汽車電子技術(shù)的進(jìn)步，今天的汽車?yán)锒加泻芏喾睆?fù)的數(shù)據(jù)管理控制系統(tǒng)，并透過許多各自獨立的電路，來傳遞每個模塊間所需要的訊號，汽車內(nèi)部的系統(tǒng)就好比計算機(jī)網(wǎng)絡(luò)的「主從架構(gòu)」，在主體控制單元與每個周邊模塊中，車用電子零件分為三大類別，包含IC、離散半導(dǎo)體、被動組件三大類別，為了確保這些汽車電子零組件符合汽車安全的*高標(biāo)準(zhǔn)，美國汽車電子協(xié)會(AEC，Automotive Electronics Council )系以主動零件[微控制器與集成電路..等]為標(biāo)的所設(shè)計出的一套標(biāo)準(zhǔn) [AEC-Q100]、針對被動組件設(shè)計為[[AEC-Q200]，其規(guī)范了被動零件所必須達(dá)成的產(chǎn)品質(zhì)量與可靠度，AEC-Q100為AEC組織所制訂的車用可靠性測試標(biāo)準(zhǔn)，為3C&IC廠商打進(jìn)車用大廠模塊的重要入場卷，也是提高中國臺灣IC可靠性質(zhì)量的重要技術(shù)，此外，目前大廠已經(jīng)通過車用安全性標(biāo)準(zhǔn)(ISO-26262)，而AEC-Q100則為通過該標(biāo)準(zhǔn)的基本要求。

零件工作溫度等級定義：
要求：該規(guī)范的目的是建立一個標(biāo)準(zhǔn)，用以描述基于一套*低認(rèn)證要求的集成電路工作溫度等級，為了達(dá)到*的目標(biāo)，需要完成*項目的基本內(nèi)容都可以在AEC-Q004查到

0等級：環(huán)境工作溫度范圍-40℃～150℃

1等級：環(huán)境工作溫度范圍-40℃～125℃

2等級：環(huán)境工作溫度范圍-40℃～105℃

3等級：環(huán)境工作溫度范圍-40℃～85℃

4等級：環(huán)境工作溫度范圍0℃～70℃

要求通過AECQ-100的車用電子零配件哉要列表：
車用一次性內(nèi)存、電源降壓穩(wěn)壓器、車用光電耦合器、三軸加速規(guī)傳感器、視訊譯碼器、整流器、環(huán)境光傳感器、非易失性鐵電存儲器、電源管理IC、嵌入式閃存、DC/DC穩(wěn)壓器、車規(guī)網(wǎng)絡(luò)通訊設(shè)備、液晶驅(qū)動IC、單電源差動放大器、電容接近式開關(guān)、高亮度LED驅(qū)動器、異步切換器、600V IC、GPS IC、ADAS上等駕駛員輔助系統(tǒng)芯片、GNSS接收器、GNSS前端放大器..等

專有名詞整理：

AEC-Q100車用IC產(chǎn)品驗證流程圖：

AEC-Q100類別與測試：
說明：AEC-Q100規(guī)范7大類別共41項的測試
群組A-加速環(huán)境應(yīng)力測試(ACCELERATED ENVIRONMENT STRESS TESTS)共6項測試，包含：PC、THB、HAST、AC、UHST、TH、TC、PTC、HTSL
群組B-加速生命周期模擬測試(ACCELERATED LIFETIME SIMULATION TESTS)共3項測試，包含：HTOL、ELFR、EDR
群組C-封裝組裝完整性測試(PACKAGE ASSEMBLY INTEGRITY TESTS)共6項測試，包含：WBS、WBP、SD、PD、SBS、LI
群組D-芯片制造可靠性測試(DIE FABRICATION RELIABILITY TESTS)共5項測試，包含：EM、TDDB、HCI、NBTI、SM
群組E-電性驗證測試(ELECTRICAL VERIFICATION TESTS)共11項測試，包含：TEST、FG、HBM/MM、CDM、LU、ED、CHAR、GL、EMC、SC、SER
群組F-缺陷篩選測試(DEFECT SCREENING TESTS)共11項測試，包含：PAT、SBA
群組G-腔封裝完整性測試(CAVITY PACKAGE INTEGRITY TESTS)共8項測試，包含：MS、VFV、CA、GFL、DROP、LT、DS、IWV

測試項目簡稱說明：
AC：壓力鍋
CA：恒加速
CDM：靜電放電帶電器件模式
CHAR：特性描述
DROP：包裝跌落
DS：芯片剪切試驗
ED：電分配
EDR：非易失效儲存耐久性、數(shù)據(jù)保持性、工作壽命
ELFR：早期壽命失效率
EM：電遷移
EMC：電磁兼容
FG：故障等級
GFL：粗/細(xì)氣漏測試
GL：熱電效應(yīng)引起閘極漏電
HBM：靜電放電人體模式 
HTSL：高溫儲存壽命
HTOL：高溫工作壽命
HCL：熱載流子注入效應(yīng)
IWV：內(nèi)部吸濕測試
LI：引腳完整性
LT：蓋板扭力測試
LU：閂鎖效應(yīng)
MM：靜電放電機(jī)械模式
MS：機(jī)械沖擊
NBTI：富偏壓溫度不穩(wěn)定性
PAT：過程平均測試
PC：預(yù)處理
PD：物理尺寸
PTC：功率溫度循環(huán)
SBA：統(tǒng)計式良率分析
SBS：錫球剪切
SC：短路特性描述
SD：可焊性
SER：軟誤差率
SM：應(yīng)力遷移
TC：溫度循環(huán)
TDDB：時經(jīng)介質(zhì)擊穿
TEST：應(yīng)力測試前后功能參數(shù)
TH：無偏壓濕熱
THB、HAST：有施加偏壓的溫濕度或高加速應(yīng)力試驗
UHST：無偏壓的高加速應(yīng)力試驗
VFV：隨機(jī)振動
WBS：焊線剪切
WBP：焊線拉力
溫濕度試驗條件整理：
THB(有施加偏壓的溫濕度，依據(jù)JESD22 A101)：85℃/85%R.H./1000h/bias
HAST(高加速應(yīng)力試驗，依據(jù)JESD22 A110)：130℃/85%R.H./96h/bias、110℃/85%R.H./264h/bias
AC(壓力鍋，依據(jù)JEDS22-A102，設(shè)備：PCT-S)：121℃/100%R.H./96h
UHST(無偏壓的高加速應(yīng)力試驗，依據(jù)JEDS22-A118，設(shè)備：HAST-S)：110℃/85%R.H./264h
TH(無偏壓濕熱，依據(jù)JEDS22-A101，設(shè)備：高低溫濕熱試驗箱)：85℃/85%R.H./1000h
TC(溫度循環(huán)，依據(jù)JEDS22-A104，設(shè)備：冷熱沖擊試驗箱、溫度循環(huán)試驗箱)：
等級0：-50℃←→150℃/2000cycles
等級1：-50℃←→150℃/1000cycles
等級2：-50℃←→150℃/500cycles
等級3：-50℃←→125℃/500cycles
等級4：-10℃←→105℃/500cycles
PTC(功率溫度循環(huán)，依據(jù)JEDS22-A105，設(shè)備：冷熱沖擊試驗箱)：
等級0：-40℃←→150℃/1000cycles
等級1：-65℃←→125℃/1000cycles
等級2～4：-65℃←→105℃/500cycles

HTSL(高溫儲存壽命，JEDS22-A103，設(shè)備：OVEN)：
塑料封裝零件：
等級0：150℃/2000h
等級1：150℃/1000h
等級2～4：125℃/1000h or 150℃/5000h
陶瓷封裝零件：200℃/72h

HTOL(高溫工作壽命，JEDS22-A108，設(shè)備：OVEN)：
等級0：150℃/1000h
等級1：150℃/408h or 125℃/1000h
等級2：125℃/408h or 105℃/1000h
等級3：105℃/408h or 85℃/1000h
等級4：90℃/408h or 70℃/1000h
ELFR(早期壽命失效率，AEC-Q100-008)：通過這項應(yīng)力測試的器件可以用在其它應(yīng)力測試上，通用數(shù)據(jù)可以使用，ELFR前后的測試在是溫和高溫條件下進(jìn)行。