—— 研究顆粒和粉末的強(qiáng)大工具

ParticleMetric 顆粒測(cè)試系統(tǒng)，以zui快、zui簡(jiǎn)便的方式實(shí)現(xiàn)顆粒的可視化分析，是微觀顆粒分析技術(shù)的一大進(jìn)步。快速、易用和超清晰圖像質(zhì)量的Phenom飛納掃描電鏡，加上 Particle Metric顆粒系統(tǒng)的顆粒圖像分析功能，為用戶提供了分析顆粒和粉末試樣的強(qiáng)大工具。

基 于飛納掃描電鏡的顆粒分析解決方案ParticleMetric能夠使用戶根據(jù)需要，隨時(shí)獲取所觀測(cè)顆粒的面積、當(dāng)量直徑、表面積、外接圓直徑、比表面 積、周長(zhǎng)、寬高比、充實(shí)度、伸長(zhǎng)率、灰度等級(jí)、長(zhǎng)軸、短軸長(zhǎng)度（橢圓）、凸殼體、重心、像素點(diǎn)數(shù)、凸?fàn)钗锏葦?shù)據(jù)，zui終實(shí)現(xiàn)ParticleMetric加 速顆粒物分析速度、提升產(chǎn)品質(zhì)量的目的。

 飛納掃描電鏡顆粒系統(tǒng)軟件ParticleMetric的功能

1.     可進(jìn)行以下顆粒分析

l  顆粒尺寸范圍：100nm ~ 0.1mm

l  顆粒探測(cè)速度：高達(dá)1000個(gè)/分鐘

l  顆粒測(cè)量屬性：大小、形狀、數(shù)量

2.     可以測(cè)量的顆粒參數(shù)

l  面積、當(dāng)量直徑、表面積、外接圓直徑、比表面積、周長(zhǎng)、寬高比

l  充實(shí)度、伸長(zhǎng)率、灰度等級(jí)、長(zhǎng)軸長(zhǎng)度和短軸長(zhǎng)度（橢圓）

l  凸殼體、重心、像素點(diǎn)數(shù)、凸?fàn)钗铩?/span>

3.     可以提供的圖形顯示

l  按數(shù)量或體積的線性、對(duì)數(shù)、雙對(duì)數(shù)點(diǎn)狀圖

l  任何參數(shù)的散點(diǎn)圖

l  單個(gè)顆粒的SEM圖像

4.     可以提供的圖形輸出

l  Word版本docx格式的報(bào)告，TIFF格式的圖像

l  CSV文件，離線分析的項(xiàng)目文件（.PAME）Pro Suite的一部分

飛納掃描電鏡顆粒系統(tǒng)ParticleMetric軟件的優(yōu)勢(shì)

1.      加載ParticleMetric軟件的飛納臺(tái)式掃描電鏡能夠輕松生成并分析圖像，方便用戶采集超細(xì)顆粒的形貌信息和顆粒的尺寸數(shù)據(jù)；

2.      全自動(dòng)的飛納掃描電鏡顆粒測(cè)試系統(tǒng)ParticleMetric軟件測(cè)量可以實(shí)現(xiàn)超出光學(xué)顯微鏡、更好景深的視覺效果，為用戶提供顆粒物的結(jié)構(gòu)設(shè)計(jì)、研發(fā)和質(zhì)量控制方面的細(xì)節(jié)數(shù)據(jù)；

3.      ParticleMetric軟件生成的柱狀圖、散點(diǎn)圖可以作為報(bào)告的內(nèi)容按照格式輸出。任何柱狀圖都可以按照被測(cè)顆粒的不同屬性，生成數(shù)量柱狀圖和體積柱狀圖。散點(diǎn)圖可以按照任何一項(xiàng)顆粒的特性生成，以便揭示相關(guān)和趨勢(shì)。

4.     直接由Phenom獲取圖像，識(shí)別并確認(rèn)諸如破損顆粒、附著物和外來顆粒，關(guān)聯(lián)顆粒物的特征，比如直徑、充實(shí)度、縱橫比和凹凸度

5.     便捷的操作提升了工作效率并使計(jì)劃表簡(jiǎn)單化和可視化

6.     無限制的圖像采集，可輕松存儲(chǔ)于網(wǎng)絡(luò)或優(yōu)盤，便于共享、交流或以后參考

7.     Phenom的易用性和對(duì)環(huán)境的良好適應(yīng)力，用戶可以將試樣zui大程度視覺化

8.     附有高清圖片的統(tǒng)計(jì)學(xué)數(shù)據(jù)。

飛納掃描電鏡顆粒系統(tǒng)ParticleMetric軟件適合的應(yīng)用領(lǐng)域

化妝品行業(yè)         

食品行業(yè)

化工行業(yè)

制藥行業(yè)

陶瓷

顆粒以及表面涂層

環(huán)境顆粒

過濾器/篩網(wǎng)公司

                                                                 配合高倍拼圖軟件，可實(shí)現(xiàn)全樣品顆粒分析

用Nebula 1可以在SEM樣品臺(tái)上實(shí)現(xiàn)干粉均勻分散，可以獲取單層顆粒，同時(shí)避免顆粒的團(tuán)聚，保持脆性顆粒的結(jié)構(gòu)完整，為用戶提供*制樣方法。

配合ParticleMetric軟件使用干粉分散器可以為用戶提供的的顆粒分析結(jié)果。

Nebula 1參數(shù)

粉末尺寸范圍：0.1~1500μm

分散真空度范圍：0~0.8Bar

壓力設(shè)置精度：0.05Bar

尺寸和重量

規(guī)格：390(長(zhǎng))×210(寬)×350(高)，8.5kg

隔膜泵：1450(長(zhǎng))×220(寬)×213(高)，4.5kg